О-30 Атомная структура поверхностного слоя 1T-TiSe2 по данным фото- и оже-электронной голографии / И. И. Огородников, А. С. Ворох, А. Н. Титов, М. В. Кузнецов // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2012. - Т. 95, № 7. - С. 414-422 : ил. - Библиогр.: с. 422 (23 назв.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СТРУКТУРА АТОМНАЯ -- ГОЛОГРАФИЯ ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ -- СЕЛЕН -- ТИТАН Аннотация: Проведена 3D-реконструкция атомной структуры поверхности (100) кристалла слоистого дихалькогенида 1T-TiSe2 по данным рентгеновской фото- и оже-электронной дифракции. Дифракционные картины эмиссии оже-электронов Se(LMM)-селена и фотоэлектронов Ti2p-титана рассмотрены в качестве голографических диаграмм. Обработанные с помощью алгоритма SPEA (Scattering Pattern Extraction Algorithm with Method Entropy Maximum), они дают индивидуальные трехмерные изображения ближайшего окружения атомов селена и титана в решетке TiSe2. На основе реконструированных 3D-изображений определены позиции 128 атомов в области 2?2?1.5 нм3 поверхностного слоя TiSe2. Структура поверхности имеет политип 1T. Межатомные расстояния в слое и ванн-дер-ваальсова щель увеличены по сравнению с аналогичными параметрами объема кристалла. Предполагается, что слои титана в двух верхних поверхностных структурных блоках Se-Ti-Se претерпевают смещение по оси [001]. Структура поверхностного слоя может быть описана элементарной ячейкой пространственной группы P3 и параметрами a=3.85 A и c=14.4 A. \\\\Expert2\\nbo\\Электрон. библиотека (Отеч.периодика)\\Письма в ЖЭТФ\\2012, т.95, № 7-8, с.414.pdf |
К 89 Кузнецов, М. В. Рентгеновская фотоэлектронная дифракция и фотоэлектронная голография как методы исследования локальной атомной структуры поверхности твердых тел / М. В. Кузнецов, И. И. Огородников, А. С. Ворох // Успехи химии. - 2014. - Т. 83, № 1. - С. 13-37 : ил. - Библиогр.: с. 35-37 (122 назв.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКЦИЯ -- ГОЛОГРАФИЯ -- НАНОСТРУКТУРА Аннотация: Рассмотрены теоретические и экспериментальные аспекты рентгеновской фотоэлектронной дифракции и фотоэлектронной голографии — динамично развивающихся методов, ориентированных на изучение атомной структуры поверхности твердых тел, в том числе наноструктур, которые формируются на поверхности в ходе адсорбции газов, эпитаксиального роста пленок и т.д. Показано, что глубина анализа этими методами составляет единицы нанометров; это позволяет характеризовать позиции атомов, расположенных как на поверхности, так и под ней. Отмечена чувствительность методов к сорту исследуемых атомов, а в случае высокого энергетического разрешения — к выделенным химическим формам изучаемых элементов. Проанализирован и обобщен накопленный экспериментальный материал по применению рассматриваемых методов к исследованию различных поверхностных структур |
A 90 Atomic structure of Bi2Se3 and Bi2Te3 (111) surfaces probed by photoelectron / M. V. Kuznetsov [et al.] // Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics . - 2015. - Vol. 91, № 8. - P085402-1-085402-7. - Bibliogr. : p. 085402-7( 34 ref.) Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ДИФРАКЦИЯ -- ГОЛОГРАФИЯ Аннотация: Understanding how topologically protected surface states behave at surfaces and interfaces requires knowledgeof the atomic structure. Whether the (111) surfaces of the prototypical topological insulators Bi2Se3 and Bi2Te3are Bi or chalcogen terminated is the subject of current controversies. We employ photoelectron diffraction and holography, combining the advantages and avoiding the disadvantages of the contesting techniques previously used. We find bulklike chalcogen termination with a very small surface relaxation (<1%) in agreement with density functional theory simulations. We prove the chalcogen termination for cleaved crystals and pitaxial films which shows the robustness of our conclusions |