Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Каталог книг и продолжающихся изданий - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)Публикации об УрО РАН (4)Нанотехнологии (38)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 75
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-60   61-75 
1.

Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2007
2.

Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
3.

Электронная промышленность СССР, 1961-1985. К 100-летию А. И. Шокина. - 2009
4.

Нано-КМОП-схемы и проектирование на физическом уровне/Б. П. Вонг [и др.] ; под ред. Н. А. Шелепина ; пер. с англ. К. В. Юдинцева. - 2014
5.

60 лет отечественному транзистору. - 2009
6.

Микро- и наноэлектроника в системах радиолокации /Ю. В. Гуляев [и др.]. - 2013
7.

Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2014
8.

Комаров А. С. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития)/А. С. Комаров, Д. В. Крапухин, Е. И. Шульгин ; ред. П. П. Мальцев. - 2014
9.

Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Inergrated Circuits/ed. by S. K. Goel, K. Chakrabarty. - 2014
10.

Berthier J. The Physics of Microdroplets/J. Berthier, K. A. Brakke. - 2012
11.

Гаврилов С. А. Электрохимические процессы в технологии микро- и наноэлектроники/С. А. Гаврилов, А. Н. Белов. - 2014
12.

Белоус А. И. Основы схемотехники микроэлектронных устройств/А. И. Белоус, В. А. Емельянов, А. С. Турцевич ; авт. предисл. Ж. И. Алферов. - 2012
13.

Мартинес-Дуарт Дж. М. Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники/Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда ; пер. с англ. А. В. Хачояна, под ред. Е. Б. Якимова. - 2009
14.

Таперо К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения/К. И. Таперо. - 2011
15.

Новые магнитные материалы. Ч. 2. - 1986
16.

Малашевич Б. М. 50 лет отечественной микроэлектронике. Краткие основы и история развития/Б. М. Малашевич. - 2013
17.

Попов В. Д. Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении/В. Д. Попов, Г. Ф. Белова. - 2013
18.

Нанотехнологии в электронике. Вып. 2. - 2013
19.

Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2013
20.

Новые магнитные материалы микроэлектроники/Российская академия наук [и др.]. - 1996
 1-20    21-40   41-60   61-75 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика