539.2 Б 86 Боуэн, Д. К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; отв. ред.; пер. И. Л. Шульпина, пер. Т. С. Аргунова. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 274 с. - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-02-024963-7 : 128.70 р. Пер. изд.: High resolution x-ray diffractometry and topography/ D. K. Bowen, B. K. Tanner. - [London] etc., 1998 РУБ 539.2 Рубрики: ФИЗИКА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |