Х9 М 42 Медведев, Валерий Николаевич. Принципы единства изобретения в международном патентном законодательстве (сравнительный анализ норм и правил РСТ, ЕПК и ЕАПК) : законы и законодательные акты / В. Н. Медведев. - Москва : ОАО ИНИЦ "Патент", 2006. - 98, [1] с. - Библиогр.: с. 65. - 420.00 р.
Рубрики: ПРАВО. ЮРИДИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕЖДУНАРОДНОЕ ПРАВО Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |