В34 F 96 Fultz, Brent. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials / B. Fultz, J. M. Howe. - 2nd Ed. - Berlin [et al.] : Springer, 2002. - XXI, 748 с. : ил. - (Physics and Astronomy Online Library). - Указ.: с. 734-748. - ISBN 3-540-43764-9 : 2743.00 р. Рубрики: ФИЗИКА--ОПТИКА--МАГНЕТИЗМ Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |