539.2 S 37 Schroder, Dieter K.. Semiconductor Material and Device Characterization : монография / D. K. Schroder. - Third Ed. - New Jersey : John Wiley & Sons, 2006. - XV, 779 p. : il. - Библиогр. в конце глав. - Указ.: с. 755-779. - Прил.: с. 741-753. - ISBN 0-471-73906-5 : 4141.00 р.
Рубрики: ФИЗИКА--ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ И ДИЭЛЕКТРИКОВ РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА Для заказа издания воспользуйтесь услугами МБА |