Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (1)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (3)Изобретения уральских ученых (4)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (35)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (18)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (4)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (4)Расплавы (28)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ЕМКОСТЬ<.>)
Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Л 88
Автор(ы) : Лысенко И. Е., Рындин Е. А., Дудин Н. К.
Заглавие : Устройства обработки сигналов емкостных преобразователей микромеханических компонентов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 7. - С. 48-51: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 51 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): схемы интегральные--компоненты микромеханические--преобразователь емкость-частота
Аннотация: Предложен метод построения устройств обработки сигналов емкостных преобразователей микромеханических компонентов. Описаны результаты моделирования и экспериментального исследования устройств
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 28
Автор(ы) : Батурин А. С., Чуприк А. А.
Заглавие : Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 7 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): асм--емкость--характеристики вольт-фарадные--нанометрология
Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 45
Автор(ы) : Безносов С. Н., Пятибратов М. Г., Федоров О. В., Кулова Т. Л., Скундин А. М.
Заглавие : Электрохимические характеристики наноструктурированного материала на основе модифицированных жгутиков галофильной археи Halobacterium salinarum для отрицательного электрода литий-ионного аккумулятора
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 11-12. - С. 43-47: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 47 (21 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Модифицированные жгутики галофильной археи Halobacterium salinarum, минерализованные оксидом кобальта и нанесенные на токопроводящую основу из никелевой сетки, испытаны в качестве материала отрицательного электрода литий-ионного аккумулятора. Установлено, что обратимая емкость таких наноструктурированных образцов превышает 400 мАч/г, причем их стабильность при циклировании существенно повышается, если оксидом кобальта минерализуются жгутики, предварительно фратентированные ультразвуком
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 30
Автор(ы) : Егоров Г. П., Волков А. А., Устюжанинов А. Л.
Заглавие : Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 74-78: табл., рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 78 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанопленки in-situ--метод измерения внутренних напряжений--пластина консольно закрепленная
Аннотация: Описан метод измерения внутренних напряжений в нанопленках in-situ. Внутренние механические напряжения непосредственно влияют на работоспособность пленочных структур в микроэлектронных приборах. Метод основан на измерении прогибов консольно закрепленной пластины во время осаждения нанопленок в вакууме. В работе использован магнетронный способ нанесения покрытий в вакууме. Для определения прогиба консоли измерялась емкость конденсатора, образованного неподвижной обкладкой, закрепленной на стойке, и обкладкой, прикрепленной к свободному концу тонкой пластины. Для измерения малой емкости конденсатор включен в цепь мультивибратора. Проведены эксперименты по измерению напряжений in-situ при нанесении пленок Ti и Си на медные подложки. Установлено, что напряжения, возникающие в титановой пленке, - растягивающие, а в медной пленке - сжимающие, а их величина существенно меняется при напуске воздуха в вакуумную камеру. Полученные результаты показывают перспективность данного метода исследования механических напряжений в нанопленках не только для прямого измерения возникающих напряжений, но и эффектов взаимодействия газов с наноструктурными пленками in-situ
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Д 72
Автор(ы) : Драгунов В. П., Остертак Д. И.
Заглавие : Электростатические взаимодействия в мэмс с плоскопараллельными электродами. часть ii. расчет электростатических сил
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 8. - С. 40-47: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 47 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мэмс--емкость электрическая--конденсатор плоский--эффекты краевые
Аннотация: Проводится сравнение различных подходов к оценке компонент электростатических сил, действующих между электродами плоского конденсатора, содержащего два одинаковых прямоугольных или круглых электрода. Приводятся аналитические выражения для расчета компонент электростатических сил. Рассчитываются погрешности в оценках компонент электростатических сил, действующих на электроды конденсаторов при изменении межэлектродного зазора и площади перекрытия электродов
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Д 72
Автор(ы) : Драгунов В. П., Остертак Д. И.
Заглавие : Электростатические взаимодействия в мэмс с плоскопараллельными электродами. часть i. расчет емкостей
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 37-41: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 41 (12 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мэмс--емкость электрическая--конденсатор плоский
Аннотация: Сравниваются различные подходы к расчету зависимостей емкости плоского конденсатора, содержащего два одинаковых прямоугольных или круглых параллельных электрода, от межэлектродного зазора и взаимного смещения электродов. Рассчитываются погрешности в оценках емкости при использовании различных подходов. Приводится аналитическое выражение для расчета емкостей при изменении площади перекрытия электродов
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Т 38
Автор(ы) : Белоус А. И., Гасенкова И. В., Дрозд С. Е., Коннов Е. В., Мухуров Н. И., Белоус В. А.
Заглавие : Технологический вариант реализации конструкции бис преобразователя емкость-напряжение для микроэлектромеханических датчиков
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 8. - С. 2-6: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 6 (6 наим.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчики микроэлектромеханические--конструкция и технология построения--преобразователь емкость-напряжение
Аннотация: Рассмотрен один из вариантов конструктивно-технологического построения и создания БИС преобразователя емкость-напряжение для электронной схемы миниатюрных микроэлектромеханических датчиков с емкостным выходом. Предлагаемая БИС может быть использована для построения широкой номенклатуры МЭМС с емкостным выходом от чувствительного элемента на основе анодного оксида алюминия
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/В 58
Автор(ы) : Биленко Д. И., Белобровая О. Я., Галушка В. В., Жаркова Э. А., Мысенко И. Б., Терин Д. В., Хасина Е. И.
Заглавие : Влияние адсорбции на емкостные свойства нанопористого кремния
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 15-18: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 18 (15 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ЭЛЕКТРОТЕХНИКА
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 92
Автор(ы) : Белоус А. И., Емельянов В. А., Дрозд С. Е., Коннов Е. В., Мухуров Н. И., Плебанович В. А.
Заглавие : Схемотехническое конструирование БИС преобразователя емкость - напряжение для микроэлектромеханических датчиков
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 8. - С. 19-19: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 19 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифференциальный конденсатор--мэмс-технология--технология интегральных сил
Аннотация: Рассматриваются вопросы схемотехнического конструирования БИС преобразователя емкость - напряжение для электронной схемы микромеханического сенсора общего назначения. Предлагаемая структурная схема БИС может быть использована для построения МЭМС с емкостным выходом от чувствительного элемента
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика