Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/В 12
Автор(ы) : Вавилов В. Д., Глазков О. Н.
Заглавие : Робастное управление маятником микросистемного акселерометра
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 45-47: рис.
Примечания : Библиогр. : с. 47 (2 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): робастный--структурная схема--микросистемный акселерометр--звено--маятник--подвес--обратная связь
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/З-17
Автор(ы) : Зайцев А. А.
Заглавие : Развитие схемотехники фильтра контура управления для интегральных быстродействующих устройств автоматического фазирования сигналов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 25-28: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 28 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): фазирование сигналов автоматическое--звено интегральное изодромное
Аннотация: Представлена новая реализация фильтра контура управления для быстродействующих устройств автоматического фазирования сигналов, предназначенных для полной интеграции на кристалле микросхемы. Техническим результатом предложенного решения является значительное уменьшение площади, занимаемой элементами фильтра на кристалле микросхемы
Найти похожие

Вид документа :
Шифр издания : 620.3/Г 12
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Тодуа П. А.
Заглавие : Нанометрология – ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 47-55: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 55 (19 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанометрология --наночастиц--наноструктур--нанопокрытия--пленки--микроскопия атомно-силовая--методы спектроскопической эллипсометрии
Аннотация: Размерные параметры наночастиц, наноструктур, нанопокрытий являются определяющими в характеризации объектов нанотехнологий. Одно из важнейших направлений нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано- и субнанометровом диапазонах. Представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость размерных измерений к единице длины в системе СИ методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии. Приведены результаты измерений толщин пленки окисла кремния методами спектроскопической эллипсометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Рассмотрены метрологические аспекты стандартизации в нанотехнологиях
Найти похожие

Описание базы данных

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)