Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЕ<.>) |
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Егоров Г. П. Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ /Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.74-78
|
2.
| Каплун Л. И. Измерение вязкости железистых расплавов/Л. И. Каплун, Е. Л. Муравьева, В. А. Бочегов // Физ.-хим. исслед. металлург. процессов. -Свердловск, 1985. т.№ 13.-С.136-141
|
3.
| Батурин А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе /А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 1.-С.2-7
|
4.
| Терехов А. И. Измерение и анализ развития нанотехнологии/А. И. Терехов // Нанотехника, 2010,N № 2.-С.3-13
|
5.
| Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ /А. К. Гатин, М. В. Гришин, А. А. Кирсанкин, М. А. Кожушнер, В. С. Посвянский, В. А. Харитонов, Б. Р. Шуб // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 9-10.-С.51-60
|
6.
| Егоров В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах /В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.51-54
|
7.
| Кислев Г. Измерение силовых напряжений в тонких пленках на основе микрокантилеверных преобразователей/Г. Кислев, И. Яминский // Наноиндустрия, 2008. т.№ 5.-С.28-30
|
8.
| Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
|
9.
| Терехов А. И. Количественное измерение параметров научного сотрудничества: анализ публикаций по теме углеродных наноструктур/А. И. Терехов // Нанотехнологии. Наука и производство, 2014. т.№ 1 (28)
|
10.
| Нановзвешивание и наномера /А. С. Ерофеев [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 2.-С.13-17
|
|
|