Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЕ<.>) |
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Белозубов Е.М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.33-36
|
2.
| Кислев Г. Измерение силовых напряжений в тонких пленках на основе микрокантилеверных преобразователей/Г. Кислев, И. Яминский // Наноиндустрия, 2008. т.№ 5.-С.28-30
|
3.
| Флеш-память входит в третье измерение // Нанотехнологии: наука и производство, 2008. т.№ 3.-С.49
|
4.
| Усанов Д. А. Применение полупроводникового лазерного автодина с модуляцией длины волны излучения для определения расстояния до объекта/Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль , К. С. Авдеев // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.43-47
|
5.
| Терехов А. И. Измерение и анализ развития нанотехнологии/А. И. Терехов // Нанотехника, 2010,N № 2.-С.3-13
|
6.
| Егоров В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах /В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.51-54
|
7.
| Егоров Г. П. Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ /Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.74-78
|
8.
| Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
|
9.
| Батурин А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе /А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 1.-С.2-7
|
10.
| Прецизионное измерение наноразмерных высот J-агрегатов с помощью атомно-силовой микроскопии /В. В. Прохоров [и др.] // Российские нанотехнологии, 2011. т.Т. 6,N № 5-6.-С.52-59
|
|
|