Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (136)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (1)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (45)Публикации об УрО РАН (4)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (3)История Урала (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (24)Труды Института истории и археологии УрО РАН (60)Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН (8)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (2)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (14)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (3)Расплавы (15)Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН (1)Публикации Черешнева В.А. (10)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (15)Библиометрия (5)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЕ<.>)
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-16 
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 28

    Батурин, А. С.
    Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе / А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7 : рис., табл. - Библиогр. : с. 7 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АСМ -- ЕМКОСТЬ -- ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ
Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением

Найти похожие
2.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 43

    Белкин, М. Е.
    Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором / М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 51-54 : рис. - Библиогр. : с. 54 (9 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЛАЗЕР ПОВЕРХНОСТНО-ИЗЛУЧАЮЩИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ -- РЕЗОНАТОР ВЕРТИКАЛЬНЫЙ -- ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВКЛЮЧЕНИЯ
Аннотация: Предложен простой метод измерения характеристики задержки включения полупроводникового лазера с прямой модуляцией током инжекции, основанный на сравнении с помощью цифрового осциллографа задержки фронтов импульсов на входе испытуемого образца и на выходе измерительного фотодиода после электрооптического и оптико-электрического преобразований. Описываются методика, технология и результаты измерения времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным каналом (VCSEL). Проводится оценка точности измерений

Найти похожие
3.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 43

    Белозубов, Е. М.
    Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов [Текст] / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 9. - С. 33-36 : рис. - Библиогр.: с. 36 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ЕМКОСТНЫЕ МЭМС-СТРУКТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВИБРОУСКОРЕНИЯ -- ВЫВОДНОЙ ПРОВОДНИК -- КОНТАКТНАЯ ПЛОЩАДКА -- ЭЛЕКТРОД -- ИЗМЕРЕНИЕ ТЕМПЕРАТУР ЭЛЕКТРОДОВ

Найти похожие
4.
Инвентарный номер: нет.
   
   В 88

    Ву, Ш.
    Сканирующая микроволновая микроскопия: уникальный метод измерений в нанодиапазоне / Ш. Ву // Наноиндустрия. - 2014. - № 3(49). - С. 34-39 : рис. - Библиогр.: с. 39 (7 назв.) . - ISSN 1993-8578
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ИЗМЕРЕНИЕ
Аннотация: Компания Agilent Technologies разработала новый измерительный метод – сканирующую микроволновую микроскопию (СММ), которая уже удостоена ряда престижных наград. СММ объединяет широкие возможности измерений электрических величин микроволновым векторным анализатором цепей (ВАЦ) с наноразмерным пространственным разрешением атомно-силового микроскопа (АСМ). Этот метод может эффективно применяться при проведении разнообразных исследовательских работ.

Найти похожие
5.
Инвентарный номер: нет.
   
   Е 30

    Егоров, В. В.
    Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах / В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 51-54. - Библиогр. : с.54 ( 3 наим.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СДВИГ -- ПОЛЕ -- СИГНАЛ -- АЛГОРИТМ
Аннотация: Получены алгоритмы измерения сдвига в нано- и микроструктурированных средах

Найти похожие
6.
Инвентарный номер: нет.
   
   Е 30

    Егоров, Г. П.
    Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ / Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 74-78 : табл., рис. - Библиогр. : с. 78 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОПЛЕНКИ IN-SITU -- МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ -- ПЛАСТИНА КОНСОЛЬНО ЗАКРЕПЛЕННАЯ
Аннотация: Описан метод измерения внутренних напряжений в нанопленках in-situ. Внутренние механические напряжения непосредственно влияют на работоспособность пленочных структур в микроэлектронных приборах. Метод основан на измерении прогибов консольно закрепленной пластины во время осаждения нанопленок в вакууме. В работе использован магнетронный способ нанесения покрытий в вакууме. Для определения прогиба консоли измерялась емкость конденсатора, образованного неподвижной обкладкой, закрепленной на стойке, и обкладкой, прикрепленной к свободному концу тонкой пластины. Для измерения малой емкости конденсатор включен в цепь мультивибратора. Проведены эксперименты по измерению напряжений in-situ при нанесении пленок Ti и Си на медные подложки. Установлено, что напряжения, возникающие в титановой пленке, - растягивающие, а в медной пленке - сжимающие, а их величина существенно меняется при напуске воздуха в вакуумную камеру. Полученные результаты показывают перспективность данного метода исследования механических напряжений в нанопленках не только для прямого измерения возникающих напряжений, но и эффектов взаимодействия газов с наноструктурными пленками in-situ

Найти похожие
7.
Инвентарный номер: нет.
   
   И 37

   
    Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ / А. К. Гатин, М. В. Гришин, А. А. Кирсанкин, М. А. Кожушнер, В. С. Посвянский, В. А. Харитонов, Б. Р. Шуб // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 51-60 : рис., табл. - Библиогр.: с. 60 (26 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПЛЕНКИ ТОНКИЕ ОКСИДНЫЕ -- МИКРОСКОП ТУННЕЛЬНЫЙ -- СТРУКТУРА -- ПЛЕНКИ -- СТМ
Аннотация: В работе представлен способ определения локальных толщин и параметров электронной структуры тонких оксидных пленок, а также абсолютных значений расстояния между острием сканирующего туннельного микроскопа и поверхностью исследуемого образца

Найти похожие
8.
Инвентарный номер: нет.
   

    Каплун, Л. И.
    Измерение вязкости железистых расплавов / Л. И. Каплун, Е. Л. Муравьева, В. А. Бочегов // Физ.-хим. исслед. металлург. процессов. - Свердловск, 1985. - № 13. - С. 136-141
Кл.слова (ненормированные):
РАСПЛАВЫ -- РАСПЛАВЫ ЖЕЛЕЗИСТЫЕ -- ВЯЗКОСТЬ -- ИЗМЕРЕНИЕ ВЯЗКОСТИ

Найти похожие
9.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 44

    Кислев, Г.
    Измерение силовых напряжений в тонких пленках на основе микрокантилеверных преобразователей [Текст] / Г. Кислев, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 5. - С. 28-30 : рис. - Библиогр.: с. 30 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ИММУНОХИМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- МИКРОКАНТИЛЕВЕРНЫЕ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ -- БИОХИМИЯ

Найти похожие
10.
Инвентарный номер: нет.
   
   Н 25

   
    Нановзвешивание и наномера / А. С. Ерофеев [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 2. - С. 13-17 : рис., табл. - Библиогр. : с. 17 (12 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ВЗВЕШИВАНИЕ НАНОЧАСТИЦ -- КАНТИЛЕВЕР -- МЕРА МАССЫ
Аннотация: Кантилевер, применяемый в атомно-силовой микроскопии, можно использовать в качестве измерительного элемента при определении массы наночастицы. Такое измерение массы основано на регистрации резонансной частоты кантилевера и обладает в зависимости от используемого резонатора чувствительностью в диапазоне от 1 до 10-21 г. На данный момент нет соответствующего метрологического обеспечения для поверки приборов с такой высокой чувствительностью. Предлагаются мера массой 0,17 нг и методика калибровки измерителя массы на основе кантилеверных весов

Найти похожие
 1-10    11-16 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика