Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЕ<.>) |
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 16 |
1.
| Белозубов Е.М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.33-36
|
2.
| Кислев Г. Измерение силовых напряжений в тонких пленках на основе микрокантилеверных преобразователей/Г. Кислев, И. Яминский // Наноиндустрия, 2008. т.№ 5.-С.28-30
|
3.
| Флеш-память входит в третье измерение // Нанотехнологии: наука и производство, 2008. т.№ 3.-С.49
|
4.
| Усанов Д. А. Применение полупроводникового лазерного автодина с модуляцией длины волны излучения для определения расстояния до объекта/Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль , К. С. Авдеев // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.43-47
|
5.
| Терехов А. И. Измерение и анализ развития нанотехнологии/А. И. Терехов // Нанотехника, 2010,N № 2.-С.3-13
|
6.
| Егоров В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах /В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.51-54
|
7.
| Егоров Г. П. Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ /Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.74-78
|
8.
| Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
|
9.
| Батурин А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе /А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 1.-С.2-7
|
10.
| Прецизионное измерение наноразмерных высот J-агрегатов с помощью атомно-силовой микроскопии /В. В. Прохоров [и др.] // Российские нанотехнологии, 2011. т.Т. 6,N № 5-6.-С.52-59
|
11.
| Каплун Л. И. Измерение вязкости железистых расплавов/Л. И. Каплун, Е. Л. Муравьева, В. А. Бочегов // Физ.-хим. исслед. металлург. процессов. -Свердловск, 1985. т.№ 13.-С.136-141
|
12.
| Нановзвешивание и наномера /А. С. Ерофеев [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 2.-С.13-17
|
13.
| Определение амплитуды нановибраций с помощью полупроводникового лазерного автодина с учетом внешней оптической обратной связи /А. Д. Усанов, А. В. Скрипаль , Е. О. Кащавцев, М. Ю. Калинкин // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 9.-С.43-49
|
14.
| Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ /А. К. Гатин, М. В. Гришин, А. А. Кирсанкин, М. А. Кожушнер, В. С. Посвянский, В. А. Харитонов, Б. Р. Шуб // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 9-10.-С.51-60
|
15.
| Ву Ш. Сканирующая микроволновая микроскопия: уникальный метод измерений в нанодиапазоне/Ш. Ву // Наноиндустрия, 2014. т.№ 3(49).-С.34-39
|
16.
| Терехов А. И. Количественное измерение параметров научного сотрудничества: анализ публикаций по теме углеродных наноструктур/А. И. Терехов // Нанотехнологии. Наука и производство, 2014. т.№ 1 (28)
|
|