Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (136)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (1)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (45)Публикации об УрО РАН (4)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (3)История Урала (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (24)Труды Института истории и археологии УрО РАН (60)Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН (8)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (2)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (14)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (3)Расплавы (15)Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН (1)Публикации Черешнева В.А. (10)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (15)Библиометрия (5)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЕ<.>)
Общее количество найденных документов : 16
Показаны документы с 1 по 16
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 28
Автор(ы) : Батурин А. С., Чуприк А. А.
Заглавие : Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 7 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): асм--емкость--характеристики вольт-фарадные--нанометрология
Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 43
Автор(ы) : Белкин М. Е., Белкин Л. М.
Заглавие : Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 51-54: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 54 (9 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): лазер поверхностно-излучающий полупроводниковый --резонатор вертикальный--измерение времени задержки включения
Аннотация: Предложен простой метод измерения характеристики задержки включения полупроводникового лазера с прямой модуляцией током инжекции, основанный на сравнении с помощью цифрового осциллографа задержки фронтов импульсов на входе испытуемого образца и на выходе измерительного фотодиода после электрооптического и оптико-электрического преобразований. Описываются методика, технология и результаты измерения времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным каналом (VCSEL). Проводится оценка точности измерений
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 43
Автор(ы) : Белозубов Е.М., Белозубова Н.Е., Козлова Ю.А.
Заглавие : Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 9. - С. 33-36: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 36 (2 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкопленочные емкостные мэмс-структуры--температура--виброускорения--выводной проводник--контактная площадка--электрод--измерение температур электродов
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/В 88
Автор(ы) : Ву Ш.
Заглавие : Сканирующая микроволновая микроскопия: уникальный метод измерений в нанодиапазоне
Место публикации : Наноиндустрия. - 2014. - № 3(49). - С. 34-39: рис. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр.: с. 39 (7 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--измерение
Аннотация: Компания Agilent Technologies разработала новый измерительный метод – сканирующую микроволновую микроскопию (СММ), которая уже удостоена ряда престижных наград. СММ объединяет широкие возможности измерений электрических величин микроволновым векторным анализатором цепей (ВАЦ) с наноразмерным пространственным разрешением атомно-силового микроскопа (АСМ). Этот метод может эффективно применяться при проведении разнообразных исследовательских работ.
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 30
Автор(ы) : Егоров В. В.
Заглавие : Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 51-54. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.54 ( 3 наим.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сдвиг--поле--сигнал--алгоритм
Аннотация: Получены алгоритмы измерения сдвига в нано- и микроструктурированных средах
Найти похожие
6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 30
Автор(ы) : Егоров Г. П., Волков А. А., Устюжанинов А. Л.
Заглавие : Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 74-78: табл., рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 78 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанопленки in-situ--метод измерения внутренних напряжений--пластина консольно закрепленная
Аннотация: Описан метод измерения внутренних напряжений в нанопленках in-situ. Внутренние механические напряжения непосредственно влияют на работоспособность пленочных структур в микроэлектронных приборах. Метод основан на измерении прогибов консольно закрепленной пластины во время осаждения нанопленок в вакууме. В работе использован магнетронный способ нанесения покрытий в вакууме. Для определения прогиба консоли измерялась емкость конденсатора, образованного неподвижной обкладкой, закрепленной на стойке, и обкладкой, прикрепленной к свободному концу тонкой пластины. Для измерения малой емкости конденсатор включен в цепь мультивибратора. Проведены эксперименты по измерению напряжений in-situ при нанесении пленок Ti и Си на медные подложки. Установлено, что напряжения, возникающие в титановой пленке, - растягивающие, а в медной пленке - сжимающие, а их величина существенно меняется при напуске воздуха в вакуумную камеру. Полученные результаты показывают перспективность данного метода исследования механических напряжений в нанопленках не только для прямого измерения возникающих напряжений, но и эффектов взаимодействия газов с наноструктурными пленками in-situ
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 37
Автор(ы) : Гатин А. К., Гришин М. В., Кирсанкин А. А., Кожушнер М. А., Посвянский В. С., Харитонов В. А., Шуб Б. Р.
Заглавие : Измерение локальной толщины слоя оксида и его электронных характеристик В СТМ
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 51-60: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 60 (26 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки тонкие оксидные--микроскоп туннельный--структура --пленки--стм
Аннотация: В работе представлен способ определения локальных толщин и параметров электронной структуры тонких оксидных пленок, а также абсолютных значений расстояния между острием сканирующего туннельного микроскопа и поверхностью исследуемого образца
Найти похожие
8.

Вид документа : Статья из сборника (однотомник)
Шифр издания :
Автор(ы) : Каплун Л. И., Муравьева Е. Л., Бочегов В. А.
Заглавие : Измерение вязкости железистых расплавов
Место публикации : Физ.-хим. исслед. металлург. процессов. - Свердловск, 1985. - № 13. - С. 136-141
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 44
Автор(ы) : Кислев Г. , Яминский И.
Заглавие : Измерение силовых напряжений в тонких пленках на основе микрокантилеверных преобразователей
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 5. - С. 28-30: рис. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр.: с. 30 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): иммунохимический анализ--микрокантилеверные преобразователи--биохимия
Найти похожие
10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Н 25
Автор(ы) : Ерофеев А. С., Зотов Д. А., Яминский И. В., Киселев Г. А.
Заглавие : Нановзвешивание и наномера
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 2. - С. 13-17: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 17 (12 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Кантилевер, применяемый в атомно-силовой микроскопии, можно использовать в качестве измерительного элемента при определении массы наночастицы. Такое измерение массы основано на регистрации резонансной частоты кантилевера и обладает в зависимости от используемого резонатора чувствительностью в диапазоне от 1 до 10-21 г. На данный момент нет соответствующего метрологического обеспечения для поверки приборов с такой высокой чувствительностью. Предлагаются мера массой 0,17 нг и методика калибровки измерителя массы на основе кантилеверных весов
Найти похожие
11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/О-62
Автор(ы) : Усанов А. Д., Скрипаль А. В., Кащавцев Е. О., Калинкин М. Ю.
Заглавие : Определение амплитуды нановибраций с помощью полупроводникового лазерного автодина с учетом внешней оптической обратной связи
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 9. - С. 43-49: рис., табл.,схема. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 49 (12 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нановибрации--лазер полупроводниковый--сигнал автодинный--измерение амплитуд вибраций--связь обратная оптическая внешняя
Аннотация: Проведен анализ влияния внешней оптической обратной связи на форму и спектр продетектированного сигнала полупроводникового лазерного автодина. Предложен метод определения амплитуды нановибраций, заключающийся в измерении отношения амплитуд первых спектральных составляющих автодинного сигнала при нановибрациях и при наложении дополнительных механических колебаний, с учетом уровня внешней оптической обратной связи. Экспериментально показано, что учет внешней оптической обратной связи позволяет существенно повысить точность измерений амплитуд нановибраций
Найти похожие
12.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 73
Автор(ы) : Прохоров В. В., Мальцев Е. И., Перелыгина О. М., Лыпенко Д. А., Позин С. И., Ванников А. В.
Заглавие : Прецизионное измерение наноразмерных высот J-агрегатов с помощью атомно-силовой микроскопии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 5-6. - С. 52-59: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 59 (17 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) получены изображения высокого разрешения и проведены прецизионные измерения высот наноразмерных органических молекулярных кристаллов J-агрегатов монометинцианинового красителя 3,3'-ди(гамма-сульфопропил)-5,5'-дихлортиамонометинцианина (МЦК) и амфифильного красителя 3,3'-бис(2-сульфопропил)-5,5',6,6'-тетрахлор1,1'-диоктилбензимидакарбоцианина (АЦК). Установлено, что J-агрегаты МЦК, полученные как в объеме раствора, так и самосборкой на поверхности слюды, имеют форму однослойных протяженных листов, обладающих высокой механической гибкостью. Измеренное с высокой точностью значение высоты монослоя J-агрегатов МЦК равно 1.05+0.05 нм, что соответствует кристаллографическому размеру отдельной молекулы вдоль малой оси. Предложена модель асимметричной однослойной молекулярной упаковки, в которой сульфопро-пильные группы расположены по одну сторону от плоскости слоя. В случае АЦК наблюдали узкие ленточные многослойные структуры с высотами в диапазоне от 3 до 30 нм, значения которых строго квантуются с шагом 3 нм. Обсуждается бислойная модель упаковки молекул АЦК в J-агрегатах с частично перекрывающимися монослоями, ориентированными гидрофобными сторонами навстречу друг другу. Из сравнения с электронно-микроскопическими данными других работ предлагается модель структурных единиц АЦК в виде «элементарных полосок» с поперечным размером 3х4 нм
Найти похожие
13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Т 35
Автор(ы) : Терехов А. И.
Заглавие : Измерение и анализ развития нанотехнологии
Параллельн. заглавия :The measurement and analysis of the development of nanotechnology
Место публикации : Нанотехника. - 2010. - № 2. - С. 3-13: табл., граф.
Примечания : Библиогр. : с. 13 (20 назв.)
ББК : 623.7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотехнологии--библиометрический анализ--нанопроекты--наноиндустрия
Аннотация: В статье представлен краткий наукометрический анализ развития нанотехнологии в России и в мире. Значительное внимание уделено проблеме исследовательских кадров в обеспечении перспектив этой междисциплинарной научной области в нашей стране. Расмотрены экономические аспекты развития нанотехнологии, особенности и сложности ее кммерциализации. Эмпирическую основу исследования составили статистические данные, полученные из БД SCI-Expanded, а также отечественных БД: РФФИ и ВАК России. Для расчета экономических индикаторов использована официальная информация и данные специализированных Интернет-сайтов
Найти похожие
14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Т 35
Автор(ы) : Терехов А. И.
Заглавие : Количественное измерение параметров научного сотрудничества: анализ публикаций по теме углеродных наноструктур
Место публикации : Нанотехнологии. Наука и производство. - 2014. - № 1 (28). - ISSN 2306-0581. - ISSN 2306-0581
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): углеродные наноструктуры
Найти похожие
15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/У 74
Автор(ы) : Усанов Д. А., Скрипаль А. В., Авдеев К. С.
Заглавие : Применение полупроводникового лазерного автодина с модуляцией длины волны излучения для определения расстояния до объекта
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 43-47: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 47 (7 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): лазерный автодин--модуляция излучения--измерение микропрофиля--автодинный сигнал
Найти похожие
16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ф 71
Заглавие : Флеш-память входит в третье измерение
Место публикации : Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 3. - С. 49
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наночастицы золота--трехмерный пакет
Аннотация: Для увеличения емкости компьютерных устройств для хранения информации исследователи из Кореи и Австралии использовали трехмерный пакет наночастиц золота
Найти похожие
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика