Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии/под ред. В. Н. Крутикова. - 2011
|
2.
| Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике/А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - 2011
|
3.
| Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения"/под ред. Ю. Д. Третьякова. - 2008
|
4.
| Усанов Д. А. Полупроводниковые лазерные автодины для измерения параметров движения при микро- и наносмещениях/Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль. - 2014
|
5.
| Лич Р. К. Инженерные основы измерений нанометровой точности/Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - 2012
|
6.
| Расчет и измерения динамических параметров наноразмерных колебаний микро-мембранных элементов /А. А. Ветров, А. В. Корляков, А. Н. Сергушичев, К. А. Сергушичев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 12.-С.48-54
|
7.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости/В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.12-17
|
8.
| Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов /Н. О. Алексеева, В. Л. Вейсман, А. Е. Лукин, С. В. Панькова, В. Г. Соловьев, М. В. Яников // Нанотехника, 2012. т.№ 3.-С.23-26
|
9.
| Асташенкова О. Н. Контроль физико-механических параметров тонких пленок /О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.24-29
|
10.
| Каленов В. Е. Частотно-резонансный метод измерения механического воздействия с помощью нелинейного микромеханического преобразователя /В. Е. Каленов, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.15-19
|
|
|