Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2007
|
2.
| Мирошниченко И. П. Оптические измерительные технологии и их применение для контроля технического состояния конструкционных материалов и изделий/И. П. Мирошниченко, А. Г. Серкин, В. П. Сизов // Нанотехника, 2008. т.№ 4.-С.56-59
|
3.
| Особенности характеристик КНИ полевых датчиков Холла с двучзатворной управляющей системой типа металл-диэлектрик-полупроводник-диэлектрик-металл/М. Л. Бараночников [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 12.-С.45-48
|
4.
| Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения"/под ред. Ю. Д. Третьякова. - 2008
|
5.
| Белозубов Е. М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с минимизацией влияния температур для датчиков давления/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 10.-С.42-47
|
6.
| Особенности применения метода наноиндентирования для измерения твердости на наномасштабе/С. С. Усейнов [и др.] // Нанотехника, 2008. т.№ 1.-С.111-115
|
7.
| Миниатюрные датчики внутри машин следят за "здоровьем" деталей // Нанотехнологии: наука и производство, 2008,N № 1.-С.26
|
8.
| Белозубов Е.М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.33-36
|
9.
| Тест-объекты с прямоугольным и трапециевидным профилями рельефа для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии/В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия, 2008. т.№ 4.-С.24-30
|
10.
| Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
|
|
|