Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: 218717 - пф.
Ж1
М 54
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: 212331 - кх.
648.4
А 94
Афонский, А. А.
Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике [] : монография / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687, [1] с. - Библиогр.: с. 679-688. - ISBN 978-5-94074-626-3 : 892.65 р.ББК 648.441
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: 204145 - ИМЕТ.
623
М 59
Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения" [] : научное издание / под ред. Ю. Д. Третьякова. - М. : [б. и.], 2008. - 181 с. : ил., фото.цв. - 10.00 р.
Тит. л. отсутствуетББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: 220121 - кх.
З86
У 74
Усанов, Дмитрий Александрович.
Полупроводниковые лазерные автодины для измерения параметров движения при микро- и наносмещениях [] : монография / Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль ; Саратовский гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Изд-во Сарат. ун-та, 2014. - 134, [1] с. - Библиогр.: с. 128-135. - ISBN 978-5-292-04232-7 : 230.00 р.ББК З86-5
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--КВАНТОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
Оглавление
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: 220579 - пф.
Ж1
Л 66
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности [] : учебное пособие / Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R. Leach. - New York, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1633.00 р.ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Оглавление
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
Р 24
Расчет и измерения динамических параметров наноразмерных колебаний микро-мембранных элементов / А. А. Ветров, А. В. Корляков, А. Н. Сергушичев, К. А. Сергушичев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 12. - С. 48-54 : рис., табл. - Библиогр.: с. 54 (6 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОДЕЛЬ МАТЕМАТИЧЕСКАЯ -- ЭЛЕМЕНТ МИКРОМЕМБРАННЫЙ -- ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ -- ЧАСТОТА РЕЗОНАНСНАЯ -- СИСТЕМА ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ -- ИНТЕРФЕРОМЕТР ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИЙ
Аннотация: Приведены математическая модель и результаты расчетов параметров микромембранных элементов, изготавливаемых с применением технологий микросистемной техники. Разработана экспериментальная установка на основе волоконно-оптического торцевого интерферометра для высокоточных бесконтактных измерений чувствительности микромембранных элементов. Предложена методика и измерены частотные зависимости чувствительности микромембранных элементов
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
А 44
Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости / В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 12-17 : табл. - Библиогр.: с. 17 (7 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЖИДКОСТЬ -- ФАЗЫ МАГНИТНОЙ ЖИДКОСТИ -- ЖИДКОСТЬ НАНОДИСПЕРСНАЯ МАГНИТНАЯ -- АКУСТОМЕТРИЯ -- НАНОЧАСТИЦЫ МАГНИТНЫЕ -- АНАЛИЗ МАГНИТОГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКИЙ
Аннотация: В работе предложена акустическая методика измерения физических параметров магнитных наночастиц дисперсной фазы магнитной жидкости. Теоретической основой методики является концентрационная модель акустомагнитного эффекта, сущность которой раскрывается путем детализации взаимодействия физических полей (акустического, магнитного и теплового). Результаты акустометрии исследуемого образца магнитной жидкости находятся в удовлетворительном согласии с данными магнитогранулометрического анализа
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
Э 41
Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов / Н. О. Алексеева, В. Л. Вейсман, А. Е. Лукин, С. В. Панькова, В. Г. Соловьев, М. В. Яников // Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 23-26 : рис. - Библиогр.: с. 26 (5 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ОПАЛЫ -- МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ (СЗМ) -- СПЕКТРОСКОПИЯ БРЭГГОВСКОГО ОТРАЖЕНИЯ -- ПЛЕНКИ ПРОФИЛИРОВАННЫЕ ТОНКИЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ
Аннотация: Методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и спектроскопии брэгговского отражения исследованы образцы синтетических опалов, на поверхность которых наносились в вакууме тонкие слои металлов. Значения диаметров сфер образцов опалов, полученные как на основе СЗМ-изображений их металлизированной и не покрытой металлом поверхности, так и расчетным путем из спектров брэгговского отражения, соответствовали друг другу в пределах ошибок измерения. Таким образом, наружная поверхность тонкого слоя металла, покрывающего образец опала, сохраняет форму и пространственную периодичность, характерную для границы раздела между опалом и слоем металла
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
А 91
Асташенкова, О. Н.
Контроль физико-механических параметров тонких пленок / О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 24-29 : рис. - Библиогр.: с. 29 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕМБРАНЫ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- МОДУЛЬ ЮНГА -- НАПРЯЖЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИЕ -- СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК -- СПОСОБЫ ИЗМЕРЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ
Аннотация: Представлена методика измерения и расчета сжимающих и растягивающих внутренних механических напряжений и модуля Юнга в однослойных и композиционных мембранных структурах на основе тонких пленок различных материалов. Приведены результаты измерения механических напряжений и модуля Юнга пленок различных материалов
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет.
К 17
Каленов, В. Е.
Частотно-резонансный метод измерения механического воздействия с помощью нелинейного микромеханического преобразователя / В. Е. Каленов, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 15-19 : рис. - Библиогр.: с. 19 (2 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АКСЕЛЕРОМЕТР МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ -- МЭМС -- ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ НЕЛИНЕЙНЫЙ -- МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ЧАСТОТНО-РЕЗОНАНСНЫЙ
Аннотация: Изложены основные принципы измерения механического воздействия частотно-резонансным методом с помощью нелинейного микромеханического преобразователя. Представлены условия, повышающие чувствительность нелинейного микромеханического преобразователя по перемещению и силе. Рассмотрен пример акселерометра на основе нелинейного преобразователя и проведена оптимизация его параметров
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных