Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (403)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (18)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (63)Публикации об УрО РАН (2)Изобретения уральских ученых (62)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (8)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (84)Труды Института истории и археологии УрО РАН (4)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (7)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (78)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (40)Расплавы (39)Публикации Черешнева В.А. (2)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (9)Библиометрия (13)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-59 
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   А 17


   
    Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах / Ю. Р. Бакиева, Г. И. Зверева, М. Г. Спирин, А. В. Крестинин // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 78-85 : рис., табл. - Библиогр.: с. 85 (7 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТРУБКИ -- НАНОТРУБКИ ОДНОСЛОЙНЫЕ УГЛЕРОДНЫЕ -- ИК-СПЕКТРОСКОПИЯ АбСОРБЦИОННАЯ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- МЕТОД ИК-ПОГЛОЩЕНИЯ -- ОСУНТ -- ик-СИГНАЛ ПОГЛОЩЕНИЯ -- ДИСПЕРСИЯ -- МИКРОКРИСТАЛЛЫ -- ИК-ИЗМЕРЕНИЯ -- КОЭФФИЦИЕНТ ЭКСТИНКЦИИ
Аннотация: Метод ИК-поглощения можно применять для измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) в наноматериале (порошок, паста), если выполнены следующие условия: а) во-первых, измеряемый ИК-сигнал поглощения пропорционален концентрации нанотрубок в приготовленной для измерений дисперсии материала в подходящей жидкости и б) во-вторых, в дисперсиях тестируемого образца и выбранного эталона тождественны все другие характеризующие нанотрубки параметры, к которым чувствительна величина ИК-поглощения в полосе S22, а именно: (i) распределение по диаметру нанотрубок; (ii) cоотношение между нанотрубками полупроводникового и металлического типа; (iii) степень агрегации нанотрубок в структуры типа тяжей (пучков); (iv) степень ковалентной функционализации нанотрубок. Представлены данные, показывающие, что в дисперсии нанотрубок заданной концентрации коэффициент экстинкции в ближней ИК-области увеличивается с ростом поперечного размера поглощающих элементов – диаметра нанотрубок и их тяжей. Предложена методика измерений содержания ОСУНТ в материалах очищенных нанотрубок электродугового синтеза с высокой степенью агрегации нанотрубок в микрокристаллы и тяжи. Методика основана на специальном способе приготовления дисперсии наноматериала для ИК-измерений и позволяет получить нанотрубки в дисперсии с существенно более низкой степенью агрегации, чем в исходном образце, и которая слабо зависит от степени агрегации нанотрубок в исходном тестируемом образце

Найти похожие

2.
Инвентарный номер: нет.
   
   А 44


   
    Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости / В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 12-17 : табл. - Библиогр.: с. 17 (7 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЖИДКОСТЬ -- ФАЗЫ МАГНИТНОЙ ЖИДКОСТИ -- ЖИДКОСТЬ НАНОДИСПЕРСНАЯ МАГНИТНАЯ -- АКУСТОМЕТРИЯ -- НАНОЧАСТИЦЫ МАГНИТНЫЕ -- АНАЛИЗ МАГНИТОГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКИЙ
Аннотация: В работе предложена акустическая методика измерения физических параметров магнитных наночастиц дисперсной фазы магнитной жидкости. Теоретической основой методики является концентрационная модель акустомагнитного эффекта, сущность которой раскрывается путем детализации взаимодействия физических полей (акустического, магнитного и теплового). Результаты акустометрии исследуемого образца магнитной жидкости находятся в удовлетворительном согласии с данными магнитогранулометрического анализа

Найти похожие

3.
Инвентарный номер: нет.
   
   А 44


   
    Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости / В. М. Полунин [и др.] // Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 64-68 : рис., табл. - Библиогр. : с. 68 (7 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЖИДКОСТЬ МАГНИТНАЯ НАНОДИСПЕРСНАЯ -- АКУСТОМЕТРИЯ -- МОДЕЛЬ КОНЦЕНТРАЦИОННАЯ
Аннотация: В работе предложена акустическая методика измерения физических параметров магнитных наночастиц дисперсной фазы магнитной жидкости. Теоретической основой методики является концентрационная модель акустомагнитного эффекта, сущность которой раскрывается путем детализации взаимодействия физических полей (акустического, магнитного и теплового). Результаты акустометрии исследуемого образца магнитной жидкости находятся в удовлетворительном согласии с данными магнитогранулометрического анализа

Найти похожие

4.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 43


    Белкин, Л. М.
    Бесструктурная модель поверхностно излучающего лазера с полосой модуляции в свч диапазоне / Л. М. Белкин, М. Е. Белкин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 10. - С. 9-17 : рис., табл. - Библиогр. : с. 17 (17 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОДЕЛЬ БЕССТРУКТУРНАЯ -- ЛАЗЕР ПВЕРХНОСТНО ИЗЛУЧАЮЩИЙ -- РЕЗОНАТОР ВЕРТИКАЛЬНЫЙ -- VCSEL -- ИСКАЖЕНИЯ ИНТЕРМОДУЛЯЦИОННЫЕ
Аннотация: Предложена бесструктурная (в виде эквивалентной электрической схемы) нелинейная модель поверхностно излучающего лазера с вертикальным резонатором (VCSEL), пригодная для разработчиков аппаратуры современных сверхскоростных цифровых и аналоговых ВОСП с полосой поднесущих в СВЧ диапазоне, локальных телекоммуникационных систем волоконно-эфирной структуры, устройств СВЧ оптоэлектроники, а также оптических межсоединений в ИМС. Исходными данными для разработки модели служат результаты измерения статической и динамической характеристик электрооптического преобразования и характеристики отражения по модулирующему входу испытуемого образца. Описывается методика экстракции параметров его эквивалентной схемы с помощью высокоразвитой электронной САПР. Приводятся результаты моделирования и измерения интермодуляционных искажений третьего и пятого порядков длинноволнового VCSEL сплавной конструкции с полосой модуляции в СВЧ диапазоне. Оценивается уровень линейности испытуемого типа VCSEL передаче аналоговых СВЧ сигналов

Найти похожие

5.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 79


   
    Болометр с термочувствительным слоем из оксида ванадия VO x // Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 44-52 : рис., табл. - Библиогр.: с. 52 (13 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ВОЛЬТОВАЯ -- СПОСОБНОСТЬ БОЛОМЕТРОВ ОБНАРУЖИТЕЛЬНАЯ -- БОЛОМЕТР -- ОКСИД ВАНАДИЯ
Аннотация: Исследованы электрические параметры термочувствительного слоя болометра VO x и морфология его поверхности. Определена относительная погрешность измерения, вносимая оксидным слоем VO x. Представлены расчетные и экспериментальные данные нагрева слоя VO x на 1 и 200 °С в диапазонах длин волн 0.5—3.39 мкм и 5.0—12 мкм в зависимости от длительности импульса излучения в диапазоне 1 — 10 -9 с на различных подложках. Исследованы зависимости: постоянной времени, вольтовой чувствительности болометра от размера приемной площадки и материала подложки. Рассчитаны: постоянная времени болометра, вольтовая чувствительность и эквивалентные значения напряжений фундаментальных шумов в зависимости от размеров приемной площадки, материалов подложки и частоты регистрируемого излучения. Приведены значения удельного теплового потока и обнаружительной способности болометров на частотах 1, 10, 20 Гц, выполненных на различных диэлектрических подложках. Описана модульная конструкция болометра, включающая герметичный корпус с приемным окном и преобразователь сопротивление-напряжение. Приведены зависимости напряжения с выхода болометра от величины воздействующего постоянного и импульсного излучения

Найти похожие

6.
Инвентарный номер: нет.
   
   К 64


    Кондакова, К. С.
    Влияние ионов, нано- и микрочастиц железа на люминесценцию и рост рекомбинантного штамма Escherichia coli с клонированным lux-опероном photobacterium leiognathi в тесте острой и хронической токсичности / К. С. Кондакова, Т. Д. Дерябина // Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 47-52 : рис., табл. - Библиогр.: с. 52 (18 назв.) . - ISSN 1816-4498
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНО- И МИКРОЧАСТИЦЫ ЖЕЛЕЗА -- ESCHERICHIA COLI -- БИОСЕНСОР БАКТЕРИАЛЬНЫЙ ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ -- НАНОЧАСТИЦЫ
Аннотация: Изучены острая и хроническая токсичности ионов, нано- и микрочастиц железа биолюминесцентным методом, используя клетки рекомбинантного штамма Escherichia coli K12 TG1 с клонированным в него luxCDABE-генами природных люминесцентных морских бактерий Photobacterium leiognathi, и путем измерения динамики роста соответствующего тест-штамма. В тесте прямой токсичности ионы железа проявляют выраженную острую токсичность уже к 1 ч исследования и возрастающую к 16 ч. Развитие токсического эффекта наночастиц железа требовало более длительной экспозиции (EC 50 = 13,9 ± 0,70). Микрочастицы железа во всей динамике проявляли себя как нетоксичное соединение. При культивировании бактериального люминесцентного биосенсора в LB-бульоне выявляемая токсичность ионов железа оказалась значительно ниже. Токсичность наночастиц железа характеризовалась EC 50 = 14,1 ± 0,80 к 16 ч контакта. Микрочастицы железа не вызывали ингибирования бактериальной люминесценции. При исследовании роста рекомбинантного штамма E. coli K12 TG1 в периодической культуре токсичность ионов железа характеризовалась величиной EC 50 = 9,8 ± 1,20, а наночастиц - EC 50 = 14,0 ± 2,30 к 16 ч экспозиции. Микрочастицы железа не вызывали подавление роста рекомбинантного штамма

Найти похожие

7.
Инвентарный номер: нет.
   
   В 58


   
    Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2 / С. И. Бочарова, М. В. Гапанович, Д. Н. Войлов, И. Н. Один, Г. Ф. Новиков // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 16-19 : рис., табл. - Библиогр.: с. 19 (13 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЧАСТИЦЫ -- ПЛЕНКИ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ CUiNSE2 -- СВОЙСТВА НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК -- РАСТВОРЫ ЭТАНОЛЬНЫЕ -- СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ -- АДГЕЗИЯ ПЛЕНОК -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- ОБЛАСТЬ КОГЕРЕНТНОГО РАССЕЯНИЯ (ОКР) -- ПЛЕНКИ СИНТЕЗИРОВАННЫЕ ОДНОФАЗНЫЕ -- АСМ -- АНАЛИЗ РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ
Аннотация: Исследовано влияние потенциалов и времени электрохимического осаждения из этанольных растворов на фазовый состав, структуру, оптические свойства и адгезию нанокристаллических пленок CuInSe2 (CIS). На основании данных рентгенофазового анализа (РФА) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) установлена область потенциалов, в которой происходит образование однофазных пленок CIS. В этой области наблюдалась наилучшая адгезия пленок к подложке стекло/Mo. Размер области когерентного рассеяния (ОКР) определен по данным РФА как 6 нм. Измерения АСМ показали, что пленки состоят из конгломератов (~200 нм) наночастиц, размер которых (<10 нм) зависит от времени и потенциала осаждения. Ширина запрещенной зоны синтезированных однофазных пленок оценена по спектрам оптического поглощения как 1.5 эВ

Найти похожие

8.
Инвентарный номер: нет.
   62
   Г 72ГОСТ 8.593-2009


   
    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
ГРНТИ
ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие

9.
Инвентарный номер: нет.
   
   Е 30


    Егоров, Г. П.
    Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ / Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 74-78 : табл., рис. - Библиогр. : с. 78 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОПЛЕНКИ IN-SITU -- МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ВНУТРЕННИХ НАПРЯЖЕНИЙ -- ПЛАСТИНА КОНСОЛЬНО ЗАКРЕПЛЕННАЯ
Аннотация: Описан метод измерения внутренних напряжений в нанопленках in-situ. Внутренние механические напряжения непосредственно влияют на работоспособность пленочных структур в микроэлектронных приборах. Метод основан на измерении прогибов консольно закрепленной пластины во время осаждения нанопленок в вакууме. В работе использован магнетронный способ нанесения покрытий в вакууме. Для определения прогиба консоли измерялась емкость конденсатора, образованного неподвижной обкладкой, закрепленной на стойке, и обкладкой, прикрепленной к свободному концу тонкой пластины. Для измерения малой емкости конденсатор включен в цепь мультивибратора. Проведены эксперименты по измерению напряжений in-situ при нанесении пленок Ti и Си на медные подложки. Установлено, что напряжения, возникающие в титановой пленке, - растягивающие, а в медной пленке - сжимающие, а их величина существенно меняется при напуске воздуха в вакуумную камеру. Полученные результаты показывают перспективность данного метода исследования механических напряжений в нанопленках не только для прямого измерения возникающих напряжений, но и эффектов взаимодействия газов с наноструктурными пленками in-situ

Найти похожие

10.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 28


    Батурин, А. С.
    Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе / А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7 : рис., табл. - Библиогр. : с. 7 (10 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АСМ -- ЕМКОСТЬ -- ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- НАНОМЕТРОЛОГИЯ
Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением

Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-59 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика