Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. М 61
Миниатюрные датчики внутри машин следят за "здоровьем" деталей [Текст]> // Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 26
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ДАТЧИКИ МИНИАТЮРНЫЕ -- НАНОСТРУКТУРЫ (МЕХАНИКА) Аннотация: Поддержание в работоспособном состоянии многотонных турбин электростанций требует периодической остановки агрегатов для частичной разборки и измерения износа, что обходится в сотни тысяч долларов. Теперь создан датчик, способный доставлять из самого "пекла" информацию о состоянии узла в реальном времени
Найти похожие
|
2. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. О-75
Особенности применения метода наноиндентирования для измерения твердости на наномасштабе [Текст] / С. С. Усейнов [и др.]> // Нанотехника. - 2008. - № 1. - С. 111-115 : рис., табл. - Библиогр.: с. 115 (5 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МОДУЛЬ ЮНГА -- НАНОИНДЕКТОР
Найти похожие
|
3. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Т 36
Тест-объекты с прямоугольным и трапециевидным профилями рельефа для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. Гавриленко [и др.]> // Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 24-30 : рис., табл. - Библиогр.: с. 30 (14 назв.)
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЙ ЗОНД -- АНИЗОТРОПНОЕ ТРАВЛЕНИЕ Аннотация: В конце XX и начале XXI века экономику высокоразвитых стран характеризует освоение высоких технологий, главная из которых - нанотехнология. Она оперирует с размерами, лежащими в диапазоне 1-100 нм, что требует обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапазоне. В мировой практике линейные измерения в нанометрической области осуществляются на растровых электронных (РЭМ) [2-4] и атомно-силовых (АСМ) [5-7] микроскопах. Для калибровки РЭМ и АСМ в качестве тест-объектов используются периодические [3], шаговые [2, 8] и одиночные [4] рельефные структуры на поверхности твердого тела
Найти похожие
|
4. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Б 43
Белозубов, Е. М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов [Текст] / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова > // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 9. - С. 33-36 : рис. - Библиогр.: с. 36 (2 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ЕМКОСТНЫЕ МЭМС-СТРУКТУРЫ -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВИБРОУСКОРЕНИЯ -- ВЫВОДНОЙ ПРОВОДНИК -- КОНТАКТНАЯ ПЛОЩАДКА -- ЭЛЕКТРОД -- ИЗМЕРЕНИЕ ТЕМПЕРАТУР ЭЛЕКТРОДОВ
Найти похожие
|
5. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Б 43
Белозубов, Е. М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с минимизацией влияния температур для датчиков давления [Текст] / Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова> // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 10. - С. 42-47 : рис. - Библиогр.: с. 47 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТОНКОПЛЕНОЧНЫЕ ЕМКОСТНЫЕ МЭМС-СТРУКТУРЫ С ВОЗМОЖНОСТЬЮ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУР ЭЛЕКТРОДОВ
Найти похожие
|
6. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. М 64
Мирошниченко, И. П. Оптические измерительные технологии и их применение для контроля технического состояния конструкционных материалов и изделий [] / И. П. Мирошниченко, А. Г. Серкин, В. П. Сизов> // Нанотехника. - 2008. - № 4. - С. 56-59 : рис. - Библиогр. : с. 59 (8 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
7. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. О-75
Особенности характеристик КНИ полевых датчиков Холла с двучзатворной управляющей системой типа металл-диэлектрик-полупроводник-диэлектрик-металл [Текст] / М. Л. Бараночников [и др.]> // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 12. - С. 45-48 : рис. - Библиогр. : с. 48 (6 назв.)
ББК 623.7 Рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): КНИ-СТРУКТУРА -- ПОЛЕВОЙ ДАТЧИК ХОЛЛА -- ДВУХЗАТВОРНАЯ УПРАВЛЯЮЩАЯ СИСТЕМА -- МОП-ТРАНЗИСТОР -- ТОК-ЗАТВОРНЫЕ И ХОЛЛ-ЗАТВОРНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ Аннотация: Проведены измерения ток-затворных и холл-затворных характеристик КНИ полевых датчиков Холла с двухзатворной управляющей системой типа металл-диэлектрик-полупроводник-диэлектрик-металл. Продемонстрирована возможность управления характеристиками КНИ ПДХ путем раздельного и совместного упрваления потенциалами затворов.
Найти похожие
|
8. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: 204145 - ИМЕТ. 623 М 59
Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения" [] : научное издание / под ред. Ю. Д. Третьякова. - М. : [б. и.], 2008. - 181 с. : ил., фото.цв. - 10.00 р. Тит. л. отсутствуетББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Найти похожие
|
9. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. Е 30
Егоров, В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах / В. В. Егоров> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 51-54. - Библиогр. : с.54 ( 3 наим.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СДВИГ -- ПОЛЕ -- СИГНАЛ -- АЛГОРИТМ Аннотация: Получены алгоритмы измерения сдвига в нано- и микроструктурированных средах
Найти похожие
|
10. ![](/WEBIRBIS/irbis64r_11/images/printer.jpg)
| Инвентарный номер: нет. В 18
Вареник, Ю. А. Формирование тестового воздействия дая измерения вольт-фарадных характеристик / Ю. А. Вареник, Р. М. Печерская> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 6 . - С. 17-19 : рис. - Библиогр. : с.19 (3 наим.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ -- СТРУКТУРЫ-МДП -- СТРУКТУРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ Аннотация: Рассмотрены вопросы формирования тестового воздействия на микро- и нанополупроводниковые структуры при измерении вольт-фарадных характеристик (ВФХ). Предложена необычная схема формирователя тест-сигнала на основе принципа мостового включения генераторов и нагрузки. Описан разработанный измерительный модуль на основе предложенной схемы
Найти похожие
|
|
|