Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 61
Заглавие : Миниатюрные датчики внутри машин следят за "здоровьем" деталей
Место публикации : Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 26
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчики миниатюрные--наноструктуры (механика)
Аннотация: Поддержание в работоспособном состоянии многотонных турбин электростанций требует периодической остановки агрегатов для частичной разборки и измерения износа, что обходится в сотни тысяч долларов. Теперь создан датчик, способный доставлять из самого "пекла" информацию о состоянии узла в реальном времени
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/О-75
Автор(ы) : Усейнов С. С., Соловьев В. В., Гоголинский К. В., Львова Н. А., Кулибаба В. Ф., Петржик М. И.
Заглавие : Особенности применения метода наноиндентирования для измерения твердости на наномасштабе
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 1. - С. 111-115: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 115 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): модуль юнга--наноиндектор
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Т 36
Автор(ы) : Гавриленко В., Новиков Ю., Раков А., Тодуа П.
Заглавие : Тест-объекты с прямоугольным и трапециевидным профилями рельефа для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 4. - С. 24-30: рис., табл. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр.: с. 30 (14 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электронный зонд--анизотропное травление
Аннотация: В конце XX и начале XXI века экономику высокоразвитых стран характеризует освоение высоких технологий, главная из которых - нанотехнология. Она оперирует с размерами, лежащими в диапазоне 1-100 нм, что требует обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапазоне. В мировой практике линейные измерения в нанометрической области осуществляются на растровых электронных (РЭМ) [2-4] и атомно-силовых (АСМ) [5-7] микроскопах. Для калибровки РЭМ и АСМ в качестве тест-объектов используются периодические [3], шаговые [2, 8] и одиночные [4] рельефные структуры на поверхности твердого тела
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 43
Автор(ы) : Белозубов Е.М., Белозубова Н.Е., Козлова Ю.А.
Заглавие : Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 9. - С. 33-36: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 36 (2 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкопленочные емкостные мэмс-структуры--температура--виброускорения--выводной проводник--контактная площадка--электрод--измерение температур электродов
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 43
Автор(ы) : Белозубов Е. М., Белозубова Н. Е.
Заглавие : Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с минимизацией влияния температур для датчиков давления
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 10. - С. 42-47: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 47 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тонкопленочные емкостные мэмс-структуры с возможностью измерения температур электродов
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 64
Автор(ы) : Мирошниченко И. П., Серкин А. Г., Сизов В. П.
Заглавие : Оптические измерительные технологии и их применение для контроля технического состояния конструкционных материалов и изделий
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 4. - С. 56-59: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 59 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/О-75
Автор(ы) : Бараночников М. Л., Леонов А. В., Мокрушин А. Д., Мордкович В. Н., Омельяновская Н. М., Пажин Д. М.
Заглавие : Особенности характеристик КНИ полевых датчиков Холла с двучзатворной управляющей системой типа металл-диэлектрик-полупроводник-диэлектрик-металл
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 12. - С. 45-48: рис.
Примечания : Библиогр. : с. 48 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кни-структура--полевой датчик холла--двухзатворная управляющая система--моп-транзистор--ток-затворные и холл-затворные характеристики
Аннотация: Проведены измерения ток-затворных и холл-затворных характеристик КНИ полевых датчиков Холла с двухзатворной управляющей системой типа металл-диэлектрик-полупроводник-диэлектрик-металл. Продемонстрирована возможность управления характеристиками КНИ ПДХ путем раздельного и совместного упрваления потенциалами затворов.
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/М 59
Заглавие : Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения"
: научное издание
Выходные данные : М., 2008
Колич.характеристики :181 с.:
ил., фото.цв.
Примечания : Тит. л. отсутствует
Цена : 10.00 р.
ГРНТИ : 81.09
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :ИМЕТ(1)
Свободны : ИМЕТ(1)
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 30
Автор(ы) : Егоров В. В.
Заглавие : Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 51-54. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.54 ( 3 наим.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сдвиг--поле--сигнал--алгоритм
Аннотация: Получены алгоритмы измерения сдвига в нано- и микроструктурированных средах
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 18
Автор(ы) : Вареник Ю. А., Печерская Р. М.
Заглавие : Формирование тестового воздействия дая измерения вольт-фарадных характеристик
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 6 . - С. 17-19: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.19 (3 наим.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): характеристики вольт-фарадные--структуры-мдп--структуры полупроводниковые
Аннотация: Рассмотрены вопросы формирования тестового воздействия на микро- и нанополупроводниковые структуры при измерении вольт-фарадных характеристик (ВФХ). Предложена необычная схема формирователя тест-сигнала на основе принципа мостового включения генераторов и нагрузки. Описан разработанный измерительный модуль на основе предложенной схемы
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных