Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии/под ред. В. Н. Крутикова. - 2011
|
2.
| Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике/А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - 2011
|
3.
| Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения"/под ред. Ю. Д. Третьякова. - 2008
|
4.
| Усанов Д. А. Полупроводниковые лазерные автодины для измерения параметров движения при микро- и наносмещениях/Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль. - 2014
|
5.
| Лич Р. К. Инженерные основы измерений нанометровой точности/Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - 2012
|
6.
| Расчет и измерения динамических параметров наноразмерных колебаний микро-мембранных элементов /А. А. Ветров, А. В. Корляков, А. Н. Сергушичев, К. А. Сергушичев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 12.-С.48-54
|
7.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости/В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.12-17
|
8.
| Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов /Н. О. Алексеева, В. Л. Вейсман, А. Е. Лукин, С. В. Панькова, В. Г. Соловьев, М. В. Яников // Нанотехника, 2012. т.№ 3.-С.23-26
|
9.
| Асташенкова О. Н. Контроль физико-механических параметров тонких пленок /О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.24-29
|
10.
| Каленов В. Е. Частотно-резонансный метод измерения механического воздействия с помощью нелинейного микромеханического преобразователя /В. Е. Каленов, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.15-19
|
11.
| Кондакова К. С. Влияние ионов, нано- и микрочастиц железа на люминесценцию и рост рекомбинантного штамма Escherichia coli с клонированным lux-опероном photobacterium leiognathi в тесте острой и хронической токсичности /К. С. Кондакова, Т. Д. Дерябина // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.47-52
|
12.
| Терморезисторные датчики измерения изменений уровня криогенных сред /И. И. Гончар, Л. Н. Киселев, А. Н. Михайлов, В. Г. Певгов, А. В. Семенов, В. А. Шубарев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 8.-С.41-45
|
13.
| Микроакселерометры на различные диапазоны измерения линейных ускорений для систем инерциальной навигации /С. П. Тимошенков, В. В. Калугин, Е. С. Кочурина, С. А. Анчутин, В. А. Калинин, К. А. Строганов // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 8.-С.32-35
|
14.
| Миниатюрный тензорезистивный преобразоватеаь давления с высокой чувствительностью /И. В. Головицын, В. В. Амеличев, В. В. Панков, А. Н. Сауров // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 6.-С.26-29
|
15.
| Экспресс-методы исследования размера, подвижности и агрегационной устойчивости магнитных наночастиц в микрокапиллярном чипе /Т. М. Зимина, А. В. Соловьев, В. В. Лучинин, Б. П. Николаев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 12.-С.30-35
|
16.
| Функциональные микро- и наноструктурированные слои на основе оксида вольфрама для высокотемпературных детекторов водорода на платформе Pt-оксид металла-SiC /В. Ю. Фоминский, Р. И. Романов, В. В. Зуев, А. Г. Гнедовец, М. И. Алымов // Российские нанотехнологии, 2012. т.Т. 7,N № 5-6.-С.59-64
|
17.
| Болометр с термочувствительным слоем из оксида ванадия VO x // Российские нанотехнологии, 2012. т.Т. 7,N № 5-6.-С.44-52
|
18.
| Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах /Ю. Р. Бакиева, Г. И. Зверева, М. Г. Спирин, А. В. Крестинин // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т.8,N № 5-6.-С.78-85
|
19.
| Проблемы метрологического обеспечения методики измерений структуры твердых образцов на атомно-силовом микроскопе с нанометровым разрешением /С. С. Гоц, Р. З. Бахтизин, Г. И. Журавлев, С. А. Севницкий // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 5-6.-С.60-63
|
20.
| Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2 /С. И. Бочарова, М. В. Гапанович, Д. Н. Войлов, И. Н. Один, Г. Ф. Новиков // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 5-6.-С.16-19
|
|
|