Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Электрореологический эффект в полидиметилсилоксановой суспензии наноразмерного гибридного материала диоксид титана-полипропиленгликоль /А. В. Агафонов, А. С. Краев, О. И. Давыдова, А. Г. Захаров // Нанотехника, 2013. т.№ 1.-С.105-108
|
2.
| Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике/А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - 2011
|
3.
| Электретные свойства нанокомпозиционных материалов на основе полипропилена /М. Ю. Яблоков [и др.] // Нанотехника, 2011. т.№ 2.-С.83-86
|
4.
| Экспресс-методы исследования размера, подвижности и агрегационной устойчивости магнитных наночастиц в микрокапиллярном чипе /Т. М. Зимина, А. В. Соловьев, В. В. Лучинин, Б. П. Николаев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 12.-С.30-35
|
5.
| Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов /Н. О. Алексеева, В. Л. Вейсман, А. Е. Лукин, С. В. Панькова, В. Г. Соловьев, М. В. Яников // Нанотехника, 2012. т.№ 3.-С.23-26
|
6.
| Каленов В. Е. Частотно-резонансный метод измерения механического воздействия с помощью нелинейного микромеханического преобразователя /В. Е. Каленов, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.15-19
|
7.
| Функциональные микро- и наноструктурированные слои на основе оксида вольфрама для высокотемпературных детекторов водорода на платформе Pt-оксид металла-SiC /В. Ю. Фоминский, Р. И. Романов, В. В. Зуев, А. Г. Гнедовец, М. И. Алымов // Российские нанотехнологии, 2012. т.Т. 7,N № 5-6.-С.59-64
|
8.
| Вареник Ю. А. Формирование тестового воздействия дая измерения вольт-фарадных характеристик /Ю. А. Вареник, Р. М. Печерская // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 6 .-С.17-19
|
9.
| Универсальный информационно-измерительный комплекс для определения характеристик пьезогенераторов и пьезоактуаторов /Е. В. Рожков, В. А. Акопьян, И. А. Паринов, Ю. Н. Захаров, А. А. Панич, А. И. Сокало , С. Н. Шевцов // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 8.-С.46-54
|
10.
| Белозубов Е. М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с минимизацией влияния температур для датчиков давления/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 10.-С.42-47
|
11.
| Белозубов Е.М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.33-36
|
12.
| Тест-объекты с прямоугольным и трапециевидным профилями рельефа для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии/В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия, 2008. т.№ 4.-С.24-30
|
13.
| Терморезисторные датчики измерения изменений уровня криогенных сред /И. И. Гончар, Л. Н. Киселев, А. Н. Михайлов, В. Г. Певгов, А. В. Семенов, В. А. Шубарев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 8.-С.41-45
|
14.
| Теплопроводность наножидкости на основе воды и химически модифицированных одностенных углеродных нанотруб /С. А. Новопашин, М. А. Серебрякова, Р. Е. Соколов, А. В. Зайковский, А. В. Окотруб, Д. С. Новопашина // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 1-2.-С.60-63
|
15.
| Структура и свойства полимерных композиционных волокон на основе поливинилового спирта и наноалмазов детонационного синтеза /Т. С. Куркин, А. Н. Озерин [и др.] // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5 ,N № 3-4.-С.57-65
|
16.
| Челпанов И. Б. Системно-ориентированная обработка результатов испытаний микроэлектронномеханических датчиков скоростей и ускорений /И. Б. Челпанов, А. В. Кочетков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 5.-С.11-15
|
17.
| Сепарирование нанопорошков оксида алюминия с разной степенью агрегирования методом седиментации в водной среде/А. П. Сафронов, Е. Г. Калинина , Д. А. Благодетелев, Ю. А. Котов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.82-88
|
18.
| Расчет и измерения динамических параметров наноразмерных колебаний микро-мембранных элементов /А. А. Ветров, А. В. Корляков, А. Н. Сергушичев, К. А. Сергушичев // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 12.-С.48-54
|
19.
| Проблемы метрологического обеспечения методики измерений структуры твердых образцов на атомно-силовом микроскопе с нанометровым разрешением /С. С. Гоц, Р. З. Бахтизин, Г. И. Журавлев, С. А. Севницкий // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 5-6.-С.60-63
|
20.
| Прецизионное измерение наноразмерных высот J-агрегатов с помощью атомно-силовой микроскопии /В. В. Прохоров [и др.] // Российские нанотехнологии, 2011. т.Т. 6,N № 5-6.-С.52-59
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных