Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах /Ю. Р. Бакиева, Г. И. Зверева, М. Г. Спирин, А. В. Крестинин // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т.8,N № 5-6.-С.78-85
|
2.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости/В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.12-17
|
3.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости /В. М. Полунин [и др.] // Нанотехника, 2011. т.№ 2.-С.64-68
|
4.
| Белкин Л. М. Бесструктурная модель поверхностно излучающего лазера с полосой модуляции в свч диапазоне /Л. М. Белкин, М. Е. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 10.-С.9-17
|
5.
| Болометр с термочувствительным слоем из оксида ванадия VO x // Российские нанотехнологии, 2012. т.Т. 7,N № 5-6.-С.44-52
|
6.
| Кондакова К. С. Влияние ионов, нано- и микрочастиц железа на люминесценцию и рост рекомбинантного штамма Escherichia coli с клонированным lux-опероном photobacterium leiognathi в тесте острой и хронической токсичности /К. С. Кондакова, Т. Д. Дерябина // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.47-52
|
7.
| Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2 /С. И. Бочарова, М. В. Гапанович, Д. Н. Войлов, И. Н. Один, Г. Ф. Новиков // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 5-6.-С.16-19
|
8.
| Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
|
9.
| Егоров Г. П. Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ /Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.74-78
|
10.
| Батурин А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе /А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 1.-С.2-7
|
11.
| Егоров В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах /В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.51-54
|
12.
| Лич Р. К. Инженерные основы измерений нанометровой точности/Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - 2012
|
13.
| Использование методов фрактальной геометрии для анализа морфологических свойств и управления качеством получаемого информационного массива по результатам измерений наноразмерных объектов с использованием атомно-силового микроскопа /С. М. Аракелян [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.8-13
|
14.
| Исследование кинетико-прочностных свойств магнитожидкостной мембраны/А. А. Гуламов, В. М. Полунин [и др.] // Нанотехника, 2010. т.№ 1.-С.10-16
|
15.
| Исследование фракционного состава наноразмерного порошка алюмомагниевой шпинели методом неразрушающей абляции /А. С. Козлов, А. К. Петров, Н. В. Булина, Е. Г. Аввакумов // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 9-10.-С.75-77
|
16.
| Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
|
17.
| Асташенкова О. Н. Контроль физико-механических параметров тонких пленок /О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.24-29
|
18.
| Благов Е. В. Магниторезистивный преобразователь для датчиков тока /Е. В. Благов, В. В. Амеличев, Д. В. Костюк // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 4.-С.22-25
|
19.
| Метод измерения тока переключения и диэлектрических параметров сегнетоэлектриков /Е. А. Печерская [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 1.-С.24-26
|
20.
| Симонов В. Н. Метод контроля параметров наноразмерных пленок на основе мультирезонансных кварцекристаллических микрои нановесов /В. Н. Симонов, О. К. Красильникова, Н. Л. Матисон // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 3-4.-С.64-70
|
|
|