Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (403)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (18)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (63)Публикации об УрО РАН (2)Изобретения уральских ученых (62)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (8)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (84)Труды Института истории и археологии УрО РАН (4)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (7)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (78)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (40)Расплавы (39)Публикации Черешнева В.А. (2)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (9)Библиометрия (13)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-59 
1.

Миниатюрные датчики внутри машин следят за "здоровьем" деталей // Нанотехнологии: наука и производство, 2008,N № 1.-С.26
2.

Особенности применения метода наноиндентирования для измерения твердости на наномасштабе/С. С. Усейнов [и др.] // Нанотехника, 2008. т.№ 1.-С.111-115
3.

Тест-объекты с прямоугольным и трапециевидным профилями рельефа для растровой электронной и атомно-силовой микроскопии/В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия, 2008. т.№ 4.-С.24-30
4.

Белозубов Е.М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с возможностью измерения температур электродов/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова, Ю. А. Козлова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.33-36
5.

Белозубов Е. М. Тонкопленочные емкостные МЭМС-структуры с минимизацией влияния температур для датчиков давления/Е. М. Белозубов, Н. Е. Белозубова // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 10.-С.42-47
6.

Мирошниченко И. П. Оптические измерительные технологии и их применение для контроля технического состояния конструкционных материалов и изделий/И. П. Мирошниченко, А. Г. Серкин, В. П. Сизов // Нанотехника, 2008. т.№ 4.-С.56-59
7.

Особенности характеристик КНИ полевых датчиков Холла с двучзатворной управляющей системой типа металл-диэлектрик-полупроводник-диэлектрик-металл/М. Л. Бараночников [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 12.-С.45-48
8.

Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения"/под ред. Ю. Д. Третьякова. - 2008
9.

Егоров В. В. Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах /В. В. Егоров // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 3.-С.51-54
10.

Вареник Ю. А. Формирование тестового воздействия дая измерения вольт-фарадных характеристик /Ю. А. Вареник, Р. М. Печерская // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 6 .-С.17-19
11.

Усанов А. Д. Определение ускорения при неравномерно ускоренных микро- и наносмещениях объекта по автодинному сигналу полупроводникового лазера /А. Д. Усанов, А. В. Скрипаль , С. Ю. Добдин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 10 .-С.51-54
12.

Структура и свойства полимерных композиционных волокон на основе поливинилового спирта и наноалмазов детонационного синтеза /Т. С. Куркин, А. Н. Озерин [и др.] // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5 ,N № 3-4.-С.57-65
13.

Егоров Г. П. Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ /Г. П. Егоров, А. А. Волков, А. Л. Устюжанинов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.74-78
14.

Сепарирование нанопорошков оксида алюминия с разной степенью агрегирования методом седиментации в водной среде/А. П. Сафронов, Е. Г. Калинина , Д. А. Благодетелев, Ю. А. Котов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 7-8 .-С.82-88
15.

Исследование кинетико-прочностных свойств магнитожидкостной мембраны/А. А. Гуламов, В. М. Полунин [и др.] // Нанотехника, 2010. т.№ 1.-С.10-16
16.

Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
17.

Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
18.

Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2010
19.

Батурин А. С. Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе /А. С. Батурин, А. А. Чуприк // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 1.-С.2-7
20.

Использование методов фрактальной геометрии для анализа морфологических свойств и управления качеством получаемого информационного массива по результатам измерений наноразмерных объектов с использованием атомно-силового микроскопа /С. М. Аракелян [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.8-13
 1-20    21-40   41-59 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика