Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Инвентарный номер: 218717 - пф.
   Ж1
   М 54


    Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.

ГРНТИ

ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

Инвентарный номер: 212331 - кх.
   648.4
   А 94

    Афонский, А. А.
    Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике [] : монография / А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - М. : ДМК Пресс, 2011. - 687, [1] с. - Библиогр.: с. 679-688. - ISBN 978-5-94074-626-3 : 892.65 р.

ГРНТИ

ББК 648.441
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА

Найти похожие

Инвентарный номер: 204145 - ИМЕТ.
   623
   М 59


    Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения" [] : научное издание / под ред. Ю. Д. Третьякова. - М. : [б. и.], 2008. - 181 с. : ил., фото.цв. - 10.00 р.
Тит. л. отсутствует

ГРНТИ

81.09

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ

Найти похожие

Инвентарный номер: 220121 - кх.
   З86
   У 74

    Усанов, Дмитрий Александрович.
    Полупроводниковые лазерные автодины для измерения параметров движения при микро- и наносмещениях [] : монография / Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль ; Саратовский гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Изд-во Сарат. ун-та, 2014. - 134, [1] с. - Библиогр.: с. 128-135. - ISBN 978-5-292-04232-7 : 230.00 р.

ГРНТИ

47.35

ББК З86-5
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--КВАНТОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА

Оглавление
Найти похожие

Инвентарный номер: 220579 - пф.
   Ж1
   Л 66

    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности [] : учебное пособие / Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R. Leach. - New York, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1633.00 р.

ГРНТИ

ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Оглавление
Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Р 24


    Расчет и измерения динамических параметров наноразмерных колебаний микро-мембранных элементов / А. А. Ветров, А. В. Корляков, А. Н. Сергушичев, К. А. Сергушичев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 12. - С. 48-54 : рис., табл. - Библиогр.: с. 54 (6 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОДЕЛЬ МАТЕМАТИЧЕСКАЯ -- ЭЛЕМЕНТ МИКРОМЕМБРАННЫЙ -- ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ -- ЧАСТОТА РЕЗОНАНСНАЯ -- СИСТЕМА ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ -- ИНТЕРФЕРОМЕТР ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИЙ
Аннотация: Приведены математическая модель и результаты расчетов параметров микромембранных элементов, изготавливаемых с применением технологий микросистемной техники. Разработана экспериментальная установка на основе волоконно-оптического торцевого интерферометра для высокоточных бесконтактных измерений чувствительности микромембранных элементов. Предложена методика и измерены частотные зависимости чувствительности микромембранных элементов

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   А 44


    Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости / В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 12-17 : табл. - Библиогр.: с. 17 (7 назв.) . - ISSN 1816-4498

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЖИДКОСТЬ -- ФАЗЫ МАГНИТНОЙ ЖИДКОСТИ -- ЖИДКОСТЬ НАНОДИСПЕРСНАЯ МАГНИТНАЯ -- АКУСТОМЕТРИЯ -- НАНОЧАСТИЦЫ МАГНИТНЫЕ -- АНАЛИЗ МАГНИТОГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКИЙ
Аннотация: В работе предложена акустическая методика измерения физических параметров магнитных наночастиц дисперсной фазы магнитной жидкости. Теоретической основой методики является концентрационная модель акустомагнитного эффекта, сущность которой раскрывается путем детализации взаимодействия физических полей (акустического, магнитного и теплового). Результаты акустометрии исследуемого образца магнитной жидкости находятся в удовлетворительном согласии с данными магнитогранулометрического анализа

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Э 41


    Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов / Н. О. Алексеева, В. Л. Вейсман, А. Е. Лукин, С. В. Панькова, В. Г. Соловьев, М. В. Яников // Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 23-26 : рис. - Библиогр.: с. 26 (5 назв.) . - ISSN 1816-4498

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ОПАЛЫ -- МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ (СЗМ) -- СПЕКТРОСКОПИЯ БРЭГГОВСКОГО ОТРАЖЕНИЯ -- ПЛЕНКИ ПРОФИЛИРОВАННЫЕ ТОНКИЕ МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ
Аннотация: Методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и спектроскопии брэгговского отражения исследованы образцы синтетических опалов, на поверхность которых наносились в вакууме тонкие слои металлов. Значения диаметров сфер образцов опалов, полученные как на основе СЗМ-изображений их металлизированной и не покрытой металлом поверхности, так и расчетным путем из спектров брэгговского отражения, соответствовали друг другу в пределах ошибок измерения. Таким образом, наружная поверхность тонкого слоя металла, покрывающего образец опала, сохраняет форму и пространственную периодичность, характерную для границы раздела между опалом и слоем металла

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   А 91

    Асташенкова, О. Н.
    Контроль физико-механических параметров тонких пленок / О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 24-29 : рис. - Библиогр.: с. 29 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕМБРАНЫ -- ПЛЕНКИ ТОНКИЕ -- МОДУЛЬ ЮНГА -- НАПРЯЖЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИЕ -- СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК -- СПОСОБЫ ИЗМЕРЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ НАПРЯЖЕНИЙ
Аннотация: Представлена методика измерения и расчета сжимающих и растягивающих внутренних механических напряжений и модуля Юнга в однослойных и композиционных мембранных структурах на основе тонких пленок различных материалов. Приведены результаты измерения механических напряжений и модуля Юнга пленок различных материалов

Найти похожие

10.

Инвентарный номер: нет.

   К 17

    Каленов, В. Е.
    Частотно-резонансный метод измерения механического воздействия с помощью нелинейного микромеханического преобразователя / В. Е. Каленов, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 15-19 : рис. - Библиогр.: с. 19 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АКСЕЛЕРОМЕТР МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ -- МЭМС -- ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ МИКРОМЕХАНИЧЕСКИЙ НЕЛИНЕЙНЫЙ -- МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ЧАСТОТНО-РЕЗОНАНСНЫЙ
Аннотация: Изложены основные принципы измерения механического воздействия частотно-резонансным методом с помощью нелинейного микромеханического преобразователя. Представлены условия, повышающие чувствительность нелинейного микромеханического преобразователя по перемещению и силе. Рассмотрен пример акселерометра на основе нелинейного преобразователя и проведена оптимизация его параметров

Найти похожие

11.

Инвентарный номер: нет.

   К 64

    Кондакова, К. С.
    Влияние ионов, нано- и микрочастиц железа на люминесценцию и рост рекомбинантного штамма Escherichia coli с клонированным lux-опероном photobacterium leiognathi в тесте острой и хронической токсичности / К. С. Кондакова, Т. Д. Дерябина // Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 47-52 : рис., табл. - Библиогр.: с. 52 (18 назв.) . - ISSN 1816-4498

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНО- И МИКРОЧАСТИЦЫ ЖЕЛЕЗА -- ESCHERICHIA COLI -- БИОСЕНСОР БАКТЕРИАЛЬНЫЙ ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЙ -- НАНОЧАСТИЦЫ
Аннотация: Изучены острая и хроническая токсичности ионов, нано- и микрочастиц железа биолюминесцентным методом, используя клетки рекомбинантного штамма Escherichia coli K12 TG1 с клонированным в него luxCDABE-генами природных люминесцентных морских бактерий Photobacterium leiognathi, и путем измерения динамики роста соответствующего тест-штамма. В тесте прямой токсичности ионы железа проявляют выраженную острую токсичность уже к 1 ч исследования и возрастающую к 16 ч. Развитие токсического эффекта наночастиц железа требовало более длительной экспозиции (EC 50 = 13,9 ± 0,70). Микрочастицы железа во всей динамике проявляли себя как нетоксичное соединение. При культивировании бактериального люминесцентного биосенсора в LB-бульоне выявляемая токсичность ионов железа оказалась значительно ниже. Токсичность наночастиц железа характеризовалась EC 50 = 14,1 ± 0,80 к 16 ч контакта. Микрочастицы железа не вызывали ингибирования бактериальной люминесценции. При исследовании роста рекомбинантного штамма E. coli K12 TG1 в периодической культуре токсичность ионов железа характеризовалась величиной EC 50 = 9,8 ± 1,20, а наночастиц - EC 50 = 14,0 ± 2,30 к 16 ч экспозиции. Микрочастицы железа не вызывали подавление роста рекомбинантного штамма

Найти похожие

12.

Инвентарный номер: нет.

   Т 35


    Терморезисторные датчики измерения изменений уровня криогенных сред / И. И. Гончар, Л. Н. Киселев, А. Н. Михайлов, В. Г. Певгов, А. В. Семенов, В. А. Шубарев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 8. - С. 41-45 : табл., рис. - Библиогр.: с. 45 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕРМОРЕЗИСТОРЫ -- СЕНСОРЫ -- УРОВНЕМЕРЫ -- ДАТЧИКИ УРОВНЯ -- ВРЕМЯ ЗАДЕРЖКИ -- ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ
Аннотация: Приведены результаты исследования изготовленных на тонких теплоизоляционных подложках по микроэлектронной технологии терморезисторных датчиков измерения уровня в криогенных средах

Найти похожие

13.

Инвентарный номер: нет.

   М 59


    Микроакселерометры на различные диапазоны измерения линейных ускорений для систем инерциальной навигации / С. П. Тимошенков, В. В. Калугин, Е. С. Кочурина, С. А. Анчутин, В. А. Калинин, К. А. Строганов // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 8. - С. 32-35 : рис. - Библиогр.: с. 35 (9 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АКСЕЛЕРОМЕТР ЕМКОСТНОЙ -- МЭМС -- МИКРОАКСЕЛЕРОМЕТРЫ
Аннотация: Рассмотрены микромеханические акселерометры, имеющие потенциально широкую область применения. Разработаны микроакселерометры с емкостной системой измерения перемещений чувствительного элемента, достоинством которой является высокая чувствительность, простота конструкции и технологии изготовления

Найти похожие

14.

Инвентарный номер: нет.

   М 61


    Миниатюрный тензорезистивный преобразоватеаь давления с высокой чувствительностью / И. В. Головицын, В. В. Амеличев, В. В. Панков, А. Н. Сауров // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 6. - С. 26-29 : рис., табл. - Библиогр.: с. 29 (19 назв.) . -

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕНЗОРЕЗИСТОРЫ -- ТЕХНОЛОГИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ МИКРООБРАБОТКИ -- ПРЕОБРАЗОВАТЕЛИ ДАВЛЕНИЯ МИНИАТЮРНЫЕ
Аннотация: Описана разработка технологического маршрута и изготовление миниатюрного преобразователя давления на КНИ-структуре, предложенного ранее. Преобразователь имеет тензорезисторы из монокристаллического кремния и мембрану из поликристаллического кремния. Структура преобразователя формируется с помощью технологии поверхностной микрообработки с применением односторонней обработки пластины. Изготовлены два варианта преобразователя - с кольцевым концентратором напряжений на мембране, сформированным из пассивирующего слоя толщиной 1,2 мкм, и без концентратора. Проведены измерения основных параметров преобразователя при температуре +20, -50 и +60 °С. Оба варианта демонстрируют чувствительность около 24 мВ-(В•атм)-1. Проведен анализ параметров преобразователей с точки зрения влияния технологических факторов

Найти похожие

15.

Инвентарный номер: нет.

   Э 41


    Экспресс-методы исследования размера, подвижности и агрегационной устойчивости магнитных наночастиц в микрокапиллярном чипе / Т. М. Зимина, А. В. Соловьев, В. В. Лучинин, Б. П. Николаев // Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 12. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (19 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЧИП КАПИЛЛЯРНЫЙ -- НАНОЧАСТИЦЫ МАГНИТНЫЕ -- СВЕТОРАССЕЯНИЕ КВАЗИУПРУГОЕ В КАПИЛЛЯРЕ -- МАГНИТОФОРЕЗ В КАПИЛЛЯРЕ -- МИКРОТУРБИДИМЕТРИЯ
Аннотация: Представлены результаты применения экспресс-методов измерения свойств магнитных наночастиц (МНЧ) магнетита (Fe 3O 4) в капиллярном чипе с интегрированным композитным планарным магнитопроводом. Размер и магнито-форетическая подвижность МНЧ измерялись методом квазиупругого рассеяния света в гомодинном и гетеродинном режиме соответственно, а агрегационная устойчивость — методом динамической микротурбидиметрии. Проведено сравнение характеристик МНЧ магнетита, синтезированного прямым и наноэмульсионным методами, и показано, что последний метод дает агрегационно-устойчивые наночастицы размером около 10 нм с магнитофоретической подвижностью около 4-10 -13 м 3 -(Тл×А×с) -1. Показано, что разработанные экспресс-методы позволяют проводить быстрые (за время порядка 0,5... 3 мин) измерения свойств МНЧ, используя микрообъемы образцов (1...2 мкл) без их разбавления (при объемной концентрации МНЧ в суспензии до 10 %)

Найти похожие

16.

Инвентарный номер: нет.

   Ф 94


    Функциональные микро- и наноструктурированные слои на основе оксида вольфрама для высокотемпературных детекторов водорода на платформе Pt-оксид металла-SiC / В. Ю. Фоминский, Р. И. Романов, В. В. Зуев, А. Г. Гнедовец, М. И. Алымов // Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 59-64 : рис. - Библиогр.: с. 64 (11 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ХАРАКТЕРИСТИКИ ВОЛЬТАМПЕРНЫЕ -- СЛОИ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ -- ОКСИД ВОЛЬФРАМА -- МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ АТОМНОСИЛОВАЯ -- ПЛЕНКИ МЕТАЛЛООКСИДНЫЕ -- СВОЙСТВА ГАЗОСЕНСОРНЫЕ -- ТОКОПРОХОЖДЕНИЕ
Аннотация: Исследованы особенности формирования структуры и химического состава тонких пленок оксида вольфрама при варьировании условий импульсного лазерного осаждения на подложки из монокристаллического карбида кремния и последующего отжига. Для получения легированных пленок на основе оксида вольфрама при осаждении лазерного факела из вольфрамовой мишени проводилось дополнительное осаждение атомов Pt, Ti, Ta. В ряде случаев после формирования оксидного слоя наносилась тонкая пленка каталитически активного металла - платины. Структурное состояние полученных пленок исследовалось методами рентгеновской дифракции, электронной и атомносиловой сканирующей микроскопии, спектроскопии комбинационного рассеяния. Газосенсорные свойства структур Pt-оксид-SiC исследовались путем измерения вольт-амперных характеристик при 300 °C на воздухе и в смеси воздуха с водородом (2 об. %). Установлено, что полученные металлооксидные пленки существенно различались морфологией и структурой на микро- и наноуровнях. Это оказывало существенное влияние на величину отклика на водород и на механизмы, определяющие газосенсорные свойства: токопрохождение в оксиде и величину потенциальных барьеров на границах раздела тонкопленочной структуры

Найти похожие

17.

Инвентарный номер: нет.

   Б 79


    Болометр с термочувствительным слоем из оксида ванадия VO x // Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 44-52 : рис., табл. - Библиогр.: с. 52 (13 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ ВОЛЬТОВАЯ -- СПОСОБНОСТЬ БОЛОМЕТРОВ ОБНАРУЖИТЕЛЬНАЯ -- БОЛОМЕТР -- ОКСИД ВАНАДИЯ
Аннотация: Исследованы электрические параметры термочувствительного слоя болометра VO x и морфология его поверхности. Определена относительная погрешность измерения, вносимая оксидным слоем VO x. Представлены расчетные и экспериментальные данные нагрева слоя VO x на 1 и 200 °С в диапазонах длин волн 0.5—3.39 мкм и 5.0—12 мкм в зависимости от длительности импульса излучения в диапазоне 1 — 10 -9 с на различных подложках. Исследованы зависимости: постоянной времени, вольтовой чувствительности болометра от размера приемной площадки и материала подложки. Рассчитаны: постоянная времени болометра, вольтовая чувствительность и эквивалентные значения напряжений фундаментальных шумов в зависимости от размеров приемной площадки, материалов подложки и частоты регистрируемого излучения. Приведены значения удельного теплового потока и обнаружительной способности болометров на частотах 1, 10, 20 Гц, выполненных на различных диэлектрических подложках. Описана модульная конструкция болометра, включающая герметичный корпус с приемным окном и преобразователь сопротивление-напряжение. Приведены зависимости напряжения с выхода болометра от величины воздействующего постоянного и импульсного излучения

Найти похожие

18.

Инвентарный номер: нет.

   А 17


    Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах / Ю. Р. Бакиева, Г. И. Зверева, М. Г. Спирин, А. В. Крестинин // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 78-85 : рис., табл. - Библиогр.: с. 85 (7 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТРУБКИ -- НАНОТРУБКИ ОДНОСЛОЙНЫЕ УГЛЕРОДНЫЕ -- ИК-СПЕКТРОСКОПИЯ АбСОРБЦИОННАЯ -- НАНОМАТЕРИАЛЫ -- МЕТОД ИК-ПОГЛОЩЕНИЯ -- ОСУНТ -- ик-СИГНАЛ ПОГЛОЩЕНИЯ -- ДИСПЕРСИЯ -- МИКРОКРИСТАЛЛЫ -- ИК-ИЗМЕРЕНИЯ -- КОЭФФИЦИЕНТ ЭКСТИНКЦИИ
Аннотация: Метод ИК-поглощения можно применять для измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) в наноматериале (порошок, паста), если выполнены следующие условия: а) во-первых, измеряемый ИК-сигнал поглощения пропорционален концентрации нанотрубок в приготовленной для измерений дисперсии материала в подходящей жидкости и б) во-вторых, в дисперсиях тестируемого образца и выбранного эталона тождественны все другие характеризующие нанотрубки параметры, к которым чувствительна величина ИК-поглощения в полосе S22, а именно: (i) распределение по диаметру нанотрубок; (ii) cоотношение между нанотрубками полупроводникового и металлического типа; (iii) степень агрегации нанотрубок в структуры типа тяжей (пучков); (iv) степень ковалентной функционализации нанотрубок. Представлены данные, показывающие, что в дисперсии нанотрубок заданной концентрации коэффициент экстинкции в ближней ИК-области увеличивается с ростом поперечного размера поглощающих элементов – диаметра нанотрубок и их тяжей. Предложена методика измерений содержания ОСУНТ в материалах очищенных нанотрубок электродугового синтеза с высокой степенью агрегации нанотрубок в микрокристаллы и тяжи. Методика основана на специальном способе приготовления дисперсии наноматериала для ИК-измерений и позволяет получить нанотрубки в дисперсии с существенно более низкой степенью агрегации, чем в исходном образце, и которая слабо зависит от степени агрегации нанотрубок в исходном тестируемом образце

Найти похожие

19.

Инвентарный номер: нет.

   П 78


    Проблемы метрологического обеспечения методики измерений структуры твердых образцов на атомно-силовом микроскопе с нанометровым разрешением / С. С. Гоц, Р. З. Бахтизин, Г. И. Журавлев, С. А. Севницкий // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 60-63 : рис. - Библиогр.: с. 63 (15 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Дескрипторы: ДИФРАКТОМЕТРЫ -- МИКРОСКОП АТОМНО-СИЛОВОЙ -- РАЗРЕШЕНИЕ НАНОМЕТРОВОЕ -- ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ ОПТИЧЕСКИЕ -- НАНОМЕТР -- КАЛИБРОВКА
Аннотация: Рассмотрены проблемы метрологического обеспечения при создании методики измерения структуры твердых тел с нанометровым разрешением. Показано, что для калибровки атомно-силовых микроскопов в настоящее время используются эталонные меры длины, созданные на основе волновых методов. Применяемые в настоящее время оптические интерферометры, рентгеновские дифрактометры и другие волновые методы пока не способны обеспечить получение эталонных мер длины в 1 нм и менее. В связи с этим имеющиеся литературные данные о межатомных расстояниях твердых тел пока нельзя рассматривать как точные численные оценки истинных значений

Найти похожие

20.

Инвентарный номер: нет.

   В 58


    Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2 / С. И. Бочарова, М. В. Гапанович, Д. Н. Войлов, И. Н. Один, Г. Ф. Новиков // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 16-19 : рис., табл. - Библиогр.: с. 19 (13 назв.) . - ISSN 1992-7223

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОЧАСТИЦЫ -- ПЛЕНКИ НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ CUiNSE2 -- СВОЙСТВА НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ПЛЕНОК -- РАСТВОРЫ ЭТАНОЛЬНЫЕ -- СВОЙСТВА ОПТИЧЕСКИЕ -- АДГЕЗИЯ ПЛЕНОК -- МИКРОСКОПИЯ АТОМНО-СИЛОВАЯ -- ОБЛАСТЬ КОГЕРЕНТНОГО РАССЕЯНИЯ (ОКР) -- ПЛЕНКИ СИНТЕЗИРОВАННЫЕ ОДНОФАЗНЫЕ -- АСМ -- АНАЛИЗ РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ
Аннотация: Исследовано влияние потенциалов и времени электрохимического осаждения из этанольных растворов на фазовый состав, структуру, оптические свойства и адгезию нанокристаллических пленок CuInSe2 (CIS). На основании данных рентгенофазового анализа (РФА) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) установлена область потенциалов, в которой происходит образование однофазных пленок CIS. В этой области наблюдалась наилучшая адгезия пленок к подложке стекло/Mo. Размер области когерентного рассеяния (ОКР) определен по данным РФА как 6 нм. Измерения АСМ показали, что пленки состоят из конгломератов (~200 нм) наночастиц, размер которых (<10 нм) зависит от времени и потенциала осаждения. Ширина запрещенной зоны синтезированных однофазных пленок оценена по спектрам оптического поглощения как 1.5 эВ

Найти похожие

1-20 21-40 41-59

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)