Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (403)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (18)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (1)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (63)Публикации об УрО РАН (2)Изобретения уральских ученых (62)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (8)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (84)Труды Института истории и археологии УрО РАН (4)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (7)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (78)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (40)Расплавы (39)Публикации Черешнева В.А. (2)Публикации Чарушина В.Н. (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (9)Библиометрия (13)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ИЗМЕРЕНИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 59
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-59 
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж1/М 54
Заглавие : Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : учебное пособие для вузов
Выходные данные : М.: Логос, 2011
Колич.характеристики :590 с
ISBN, Цена 978-5-98704-613-5: 1100.00 р.
ГРНТИ : 90
ББК : Ж10я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/А 94
Автор(ы) : Афонский А. А., Дьяконов В. П.
Заглавие : Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике
Выходные данные : М.: ДМК Пресс, 2011
Колич.характеристики :687, [1] с
Примечания : Библиогр.: с. 679-688
ISBN, Цена 978-5-94074-626-3: 892.65 р.
ГРНТИ : 47
ББК : 648.441
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/М 59
Заглавие : Микро- и наноструктурные материалы. Фоторепортаж из "пятого измерения" : научное издание
Выходные данные : М., 2008
Колич.характеристики :181 с.: ил., фото.цв.
Примечания : Тит. л. отсутствует
Цена : 10.00 р.
ГРНТИ : 81.09
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :ИМЕТ(1)
Свободны : ИМЕТ(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : З86/У 74
Автор(ы) : Усанов, Дмитрий Александрович, Скрипаль, Анатолий Владимирович
Заглавие : Полупроводниковые лазерные автодины для измерения параметров движения при микро- и наносмещениях
Выходные данные : Саратов: Изд-во Сарат. ун-та, 2014
Колич.характеристики :134, [1] с
Коллективы : Саратовский гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского
Примечания : Библиогр.: с. 128-135
ISBN, Цена 978-5-292-04232-7: 230.00, 230.00, р.
ГРНТИ : 47.35
ББК : З86-5
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- КВАНТОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
  Оглавление
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж1/Л 66
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012
Колич.характеристики :399 с.: ил.
Перевод издания: Leach, R. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. -New York, 2010
Примечания : Библиогр. в конце глав.
ISBN, Цена 978-5-91559-119-5: 1633.00 р.
ГРНТИ : 90
ББК : Ж10я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
  Оглавление
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 24
Автор(ы) : Ветров А. А., Корляков А. В., Сергушичев А. Н., Сергушичев К. А.
Заглавие : Расчет и измерения динамических параметров наноразмерных колебаний микро-мембранных элементов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 12. - С. 48-54: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 54 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): модель математическая--элемент микромембранный--чувствительность--частота резонансная--система оптико-электронная измерительная--интерферометр волоконно-оптический
Аннотация: Приведены математическая модель и результаты расчетов параметров микромембранных элементов, изготавливаемых с применением технологий микросистемной техники. Разработана экспериментальная установка на основе волоконно-оптического торцевого интерферометра для высокоточных бесконтактных измерений чувствительности микромембранных элементов. Предложена методика и измерены частотные зависимости чувствительности микромембранных элементов
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 44
Автор(ы) : Полунин В. М., Стороженко А. М., Ряполов П. А., Танцюра А. О., Беседин А. Г.
Заглавие : Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 12-17: табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 17 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): жидкость--фазы магнитной жидкости--жидкость нанодисперсная магнитная--акустометрия--наночастицы магнитные--анализ магнитогранулометрический
Аннотация: В работе предложена акустическая методика измерения физических параметров магнитных наночастиц дисперсной фазы магнитной жидкости. Теоретической основой методики является концентрационная модель акустомагнитного эффекта, сущность которой раскрывается путем детализации взаимодействия физических полей (акустического, магнитного и теплового). Результаты акустометрии исследуемого образца магнитной жидкости находятся в удовлетворительном согласии с данными магнитогранулометрического анализа
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 41
Автор(ы) : Алексеева Н. О., Вейсман В. Л., Лукин А. Е., Панькова С. В., Соловьев В. Г., Яников М. В.
Заглавие : Экспериментальное исследование поверхностных свойств металлодиэлектрических наноструктур на основе опалов
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 3. - С. 23-26: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 26 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): опалы--микроскопия сканирующая зондовая (сзм)--спектроскопия брэгговского отражения --пленки профилированные тонкие металлические
Аннотация: Методами сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и спектроскопии брэгговского отражения исследованы образцы синтетических опалов, на поверхность которых наносились в вакууме тонкие слои металлов. Значения диаметров сфер образцов опалов, полученные как на основе СЗМ-изображений их металлизированной и не покрытой металлом поверхности, так и расчетным путем из спектров брэгговского отражения, соответствовали друг другу в пределах ошибок измерения. Таким образом, наружная поверхность тонкого слоя металла, покрывающего образец опала, сохраняет форму и пространственную периодичность, характерную для границы раздела между опалом и слоем металла
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 91
Автор(ы) : Асташенкова О. Н., Корляков А. В.
Заглавие : Контроль физико-механических параметров тонких пленок
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 24-29: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 29 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мембраны--пленки тонкие--модуль юнга--напряжения механические--свойства тонких пленок--способы измерения механических напряжений
Аннотация: Представлена методика измерения и расчета сжимающих и растягивающих внутренних механических напряжений и модуля Юнга в однослойных и композиционных мембранных структурах на основе тонких пленок различных материалов. Приведены результаты измерения механических напряжений и модуля Юнга пленок различных материалов
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 17
Автор(ы) : Каленов В. Е., Корляков А. В.
Заглавие : Частотно-резонансный метод измерения механического воздействия с помощью нелинейного микромеханического преобразователя
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 15-19: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 19 (2 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): акселерометр микромеханический--мэмс--преобразователь микромеханический нелинейный--метод измерения частотно-резонансный
Аннотация: Изложены основные принципы измерения механического воздействия частотно-резонансным методом с помощью нелинейного микромеханического преобразователя. Представлены условия, повышающие чувствительность нелинейного микромеханического преобразователя по перемещению и силе. Рассмотрен пример акселерометра на основе нелинейного преобразователя и проведена оптимизация его параметров
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 64
Автор(ы) : Кондакова К. С., Дерябина Т. Д.
Заглавие : Влияние ионов, нано- и микрочастиц железа на люминесценцию и рост рекомбинантного штамма Escherichia coli с клонированным lux-опероном photobacterium leiognathi в тесте острой и хронической токсичности
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 47-52: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 52 (18 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нано- и микрочастицы железа --escherichia coli--биосенсор бактериальный люминесцентный--наночастицы
Аннотация: Изучены острая и хроническая токсичности ионов, нано- и микрочастиц железа биолюминесцентным методом, используя клетки рекомбинантного штамма Escherichia coli K12 TG1 с клонированным в него luxCDABE-генами природных люминесцентных морских бактерий Photobacterium leiognathi, и путем измерения динамики роста соответствующего тест-штамма. В тесте прямой токсичности ионы железа проявляют выраженную острую токсичность уже к 1 ч исследования и возрастающую к 16 ч. Развитие токсического эффекта наночастиц железа требовало более длительной экспозиции (EC 50 = 13,9 ± 0,70). Микрочастицы железа во всей динамике проявляли себя как нетоксичное соединение. При культивировании бактериального люминесцентного биосенсора в LB-бульоне выявляемая токсичность ионов железа оказалась значительно ниже. Токсичность наночастиц железа характеризовалась EC 50 = 14,1 ± 0,80 к 16 ч контакта. Микрочастицы железа не вызывали ингибирования бактериальной люминесценции. При исследовании роста рекомбинантного штамма E. coli K12 TG1 в периодической культуре токсичность ионов железа характеризовалась величиной EC 50 = 9,8 ± 1,20, а наночастиц - EC 50 = 14,0 ± 2,30 к 16 ч экспозиции. Микрочастицы железа не вызывали подавление роста рекомбинантного штамма
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Т 35
Автор(ы) : Гончар И. И., Киселев Л. Н., Михайлов А. Н., Певгов В. Г., Семенов А. В., Шубарев В. А.
Заглавие : Терморезисторные датчики измерения изменений уровня криогенных сред
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 8. - С. 41-45: табл., рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 45 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): терморезисторы --сенсоры--уровнемеры--датчики уровня--время задержки --чувствительность
Аннотация: Приведены результаты исследования изготовленных на тонких теплоизоляционных подложках по микроэлектронной технологии терморезисторных датчиков измерения уровня в криогенных средах
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 59
Автор(ы) : Тимошенков С. П., Калугин В. В., Кочурина Е. С., Анчутин С. А., Калинин В. А., Строганов К. А.
Заглавие : Микроакселерометры на различные диапазоны измерения линейных ускорений для систем инерциальной навигации
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 8. - С. 32-35: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 35 (9 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): акселерометр емкостной--мэмс--микроакселерометры
Аннотация: Рассмотрены микромеханические акселерометры, имеющие потенциально широкую область применения. Разработаны микроакселерометры с емкостной системой измерения перемещений чувствительного элемента, достоинством которой является высокая чувствительность, простота конструкции и технологии изготовления
Найти похожие

14.

Вид документа :
Шифр издания : 620.3/М 61
Автор(ы) : Головицын И. В., Амеличев В. В., Панков В. В., Сауров А. Н.
Заглавие : Миниатюрный тензорезистивный преобразоватеаь давления с высокой чувствительностью
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 6. - С. 26-29: рис., табл.
Примечания : Библиогр.: с. 29 (19 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): тензорезисторы--технология поверхностной микрообработки--преобразователи давления миниатюрные
Аннотация: Описана разработка технологического маршрута и изготовление миниатюрного преобразователя давления на КНИ-структуре, предложенного ранее. Преобразователь имеет тензорезисторы из монокристаллического кремния и мембрану из поликристаллического кремния. Структура преобразователя формируется с помощью технологии поверхностной микрообработки с применением односторонней обработки пластины. Изготовлены два варианта преобразователя - с кольцевым концентратором напряжений на мембране, сформированным из пассивирующего слоя толщиной 1,2 мкм, и без концентратора. Проведены измерения основных параметров преобразователя при температуре +20, -50 и +60 °С. Оба варианта демонстрируют чувствительность около 24 мВ-(В•атм)-1. Проведен анализ параметров преобразователей с точки зрения влияния технологических факторов
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 41
Автор(ы) : Зимина Т. М., Соловьев А. В., Лучинин В. В., Николаев Б. П.
Заглавие : Экспресс-методы исследования размера, подвижности и агрегационной устойчивости магнитных наночастиц в микрокапиллярном чипе
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 12. - С. 30-35: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 35 (19 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): чип капиллярный--наночастицы магнитные--светорассеяние квазиупругое в капилляре--магнитофорез в капилляре--микротурбидиметрия
Аннотация: Представлены результаты применения экспресс-методов измерения свойств магнитных наночастиц (МНЧ) магнетита (Fe 3O 4) в капиллярном чипе с интегрированным композитным планарным магнитопроводом. Размер и магнито-форетическая подвижность МНЧ измерялись методом квазиупругого рассеяния света в гомодинном и гетеродинном режиме соответственно, а агрегационная устойчивость — методом динамической микротурбидиметрии. Проведено сравнение характеристик МНЧ магнетита, синтезированного прямым и наноэмульсионным методами, и показано, что последний метод дает агрегационно-устойчивые наночастицы размером около 10 нм с магнитофоретической подвижностью около 4-10 -13 м 3 -(Тл×А×с) -1. Показано, что разработанные экспресс-методы позволяют проводить быстрые (за время порядка 0,5... 3 мин) измерения свойств МНЧ, используя микрообъемы образцов (1...2 мкл) без их разбавления (при объемной концентрации МНЧ в суспензии до 10 %)
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ф 94
Автор(ы) : Фоминский В. Ю., Романов Р. И., Зуев В. В., Гнедовец А. Г., Алымов М. И.
Заглавие : Функциональные микро- и наноструктурированные слои на основе оксида вольфрама для высокотемпературных детекторов водорода на платформе Pt-оксид металла-SiC
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 59-64: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 64 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): характеристики вольтамперные--слои наноструктурированные--оксид вольфрама--микроскопия сканирующая атомносиловая--пленки металлооксидные--свойства газосенсорные--токопрохождение
Аннотация: Исследованы особенности формирования структуры и химического состава тонких пленок оксида вольфрама при варьировании условий импульсного лазерного осаждения на подложки из монокристаллического карбида кремния и последующего отжига. Для получения легированных пленок на основе оксида вольфрама при осаждении лазерного факела из вольфрамовой мишени проводилось дополнительное осаждение атомов Pt, Ti, Ta. В ряде случаев после формирования оксидного слоя наносилась тонкая пленка каталитически активного металла - платины. Структурное состояние полученных пленок исследовалось методами рентгеновской дифракции, электронной и атомносиловой сканирующей микроскопии, спектроскопии комбинационного рассеяния. Газосенсорные свойства структур Pt-оксид-SiC исследовались путем измерения вольт-амперных характеристик при 300 °C на воздухе и в смеси воздуха с водородом (2 об. %). Установлено, что полученные металлооксидные пленки существенно различались морфологией и структурой на микро- и наноуровнях. Это оказывало существенное влияние на величину отклика на водород и на механизмы, определяющие газосенсорные свойства: токопрохождение в оксиде и величину потенциальных барьеров на границах раздела тонкопленочной структуры
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 79
Заглавие : Болометр с термочувствительным слоем из оксида ванадия VO x
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 44-52: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 52 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): чувствительность вольтовая--способность болометров обнаружительная--болометр--оксид ванадия
Аннотация: Исследованы электрические параметры термочувствительного слоя болометра VO x и морфология его поверхности. Определена относительная погрешность измерения, вносимая оксидным слоем VO x. Представлены расчетные и экспериментальные данные нагрева слоя VO x на 1 и 200 °С в диапазонах длин волн 0.5—3.39 мкм и 5.0—12 мкм в зависимости от длительности импульса излучения в диапазоне 1 — 10 -9 с на различных подложках. Исследованы зависимости: постоянной времени, вольтовой чувствительности болометра от размера приемной площадки и материала подложки. Рассчитаны: постоянная времени болометра, вольтовая чувствительность и эквивалентные значения напряжений фундаментальных шумов в зависимости от размеров приемной площадки, материалов подложки и частоты регистрируемого излучения. Приведены значения удельного теплового потока и обнаружительной способности болометров на частотах 1, 10, 20 Гц, выполненных на различных диэлектрических подложках. Описана модульная конструкция болометра, включающая герметичный корпус с приемным окном и преобразователь сопротивление-напряжение. Приведены зависимости напряжения с выхода болометра от величины воздействующего постоянного и импульсного излучения
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 17
Автор(ы) : Бакиева Ю. Р., Зверева Г. И., Спирин М. Г., Крестинин А. В.
Заглавие : Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 78-85: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 85 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотрубки--нанотрубки однослойные углеродные--ик-спектроскопия абсорбционная --наноматериалы--метод ик-поглощения --осунт--ик-сигнал поглощения --дисперсия--микрокристаллы--ик-измерения --коэффициент экстинкции
Аннотация: Метод ИК-поглощения можно применять для измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) в наноматериале (порошок, паста), если выполнены следующие условия: а) во-первых, измеряемый ИК-сигнал поглощения пропорционален концентрации нанотрубок в приготовленной для измерений дисперсии материала в подходящей жидкости и б) во-вторых, в дисперсиях тестируемого образца и выбранного эталона тождественны все другие характеризующие нанотрубки параметры, к которым чувствительна величина ИК-поглощения в полосе S22, а именно: (i) распределение по диаметру нанотрубок; (ii) cоотношение между нанотрубками полупроводникового и металлического типа; (iii) степень агрегации нанотрубок в структуры типа тяжей (пучков); (iv) степень ковалентной функционализации нанотрубок. Представлены данные, показывающие, что в дисперсии нанотрубок заданной концентрации коэффициент экстинкции в ближней ИК-области увеличивается с ростом поперечного размера поглощающих элементов – диаметра нанотрубок и их тяжей. Предложена методика измерений содержания ОСУНТ в материалах очищенных нанотрубок электродугового синтеза с высокой степенью агрегации нанотрубок в микрокристаллы и тяжи. Методика основана на специальном способе приготовления дисперсии наноматериала для ИК-измерений и позволяет получить нанотрубки в дисперсии с существенно более низкой степенью агрегации, чем в исходном образце, и которая слабо зависит от степени агрегации нанотрубок в исходном тестируемом образце
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 78
Автор(ы) : Гоц С. С., Бахтизин Р. З., Журавлев Г. И., Севницкий С. А.
Заглавие : Проблемы метрологического обеспечения методики измерений структуры твердых образцов на атомно-силовом микроскопе с нанометровым разрешением
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 60-63: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 63 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Дескрипторы: ДИФРАКТОМЕТРЫ--МИКРОСКОП АТОМНО-СИЛОВОЙ--РАЗРЕШЕНИЕ НАНОМЕТРОВОЕ --ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ ОПТИЧЕСКИЕ --НАНОМЕТР--КАЛИБРОВКА
Аннотация: Рассмотрены проблемы метрологического обеспечения при создании методики измерения структуры твердых тел с нанометровым разрешением. Показано, что для калибровки атомно-силовых микроскопов в настоящее время используются эталонные меры длины, созданные на основе волновых методов. Применяемые в настоящее время оптические интерферометры, рентгеновские дифрактометры и другие волновые методы пока не способны обеспечить получение эталонных мер длины в 1 нм и менее. В связи с этим имеющиеся литературные данные о межатомных расстояниях твердых тел пока нельзя рассматривать как точные численные оценки истинных значений
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Бочарова С. И., Гапанович М. В., Войлов Д. Н., Один И. Н., Новиков Г. Ф.
Заглавие : Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 16-19: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 19 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наночастицы--пленки нанокристаллические cuinse2 --свойства нанокристаллических пленок--растворы этанольные --свойства оптические --адгезия пленок--микроскопия атомно-силовая --область когерентного рассеяния (окр) --пленки синтезированные однофазные --асм--анализ рентгенофазовый
Аннотация: Исследовано влияние потенциалов и времени электрохимического осаждения из этанольных растворов на фазовый состав, структуру, оптические свойства и адгезию нанокристаллических пленок CuInSe2 (CIS). На основании данных рентгенофазового анализа (РФА) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) установлена область потенциалов, в которой происходит образование однофазных пленок CIS. В этой области наблюдалась наилучшая адгезия пленок к подложке стекло/Mo. Размер области когерентного рассеяния (ОКР) определен по данным РФА как 6 нм. Измерения АСМ показали, что пленки состоят из конгломератов (~200 нм) наночастиц, размер которых (10 нм) зависит от времени и потенциала осаждения. Ширина запрещенной зоны синтезированных однофазных пленок оценена по спектрам оптического поглощения как 1.5 эВ
Найти похожие

 1-20    21-40   41-59 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика