Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 17
Автор(ы) : Бакиева Ю. Р., Зверева Г. И., Спирин М. Г., Крестинин А. В.
Заглавие : Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 78-85: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 85 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотрубки--нанотрубки однослойные углеродные--ик-спектроскопия абсорбционная --наноматериалы--метод ик-поглощения --осунт--ик-сигнал поглощения --дисперсия--микрокристаллы--ик-измерения --коэффициент экстинкции
Аннотация: Метод ИК-поглощения можно применять для измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) в наноматериале (порошок, паста), если выполнены следующие условия: а) во-первых, измеряемый ИК-сигнал поглощения пропорционален концентрации нанотрубок в приготовленной для измерений дисперсии материала в подходящей жидкости и б) во-вторых, в дисперсиях тестируемого образца и выбранного эталона тождественны все другие характеризующие нанотрубки параметры, к которым чувствительна величина ИК-поглощения в полосе S22, а именно: (i) распределение по диаметру нанотрубок; (ii) cоотношение между нанотрубками полупроводникового и металлического типа; (iii) степень агрегации нанотрубок в структуры типа тяжей (пучков); (iv) степень ковалентной функционализации нанотрубок. Представлены данные, показывающие, что в дисперсии нанотрубок заданной концентрации коэффициент экстинкции в ближней ИК-области увеличивается с ростом поперечного размера поглощающих элементов – диаметра нанотрубок и их тяжей. Предложена методика измерений содержания ОСУНТ в материалах очищенных нанотрубок электродугового синтеза с высокой степенью агрегации нанотрубок в микрокристаллы и тяжи. Методика основана на специальном способе приготовления дисперсии наноматериала для ИК-измерений и позволяет получить нанотрубки в дисперсии с существенно более низкой степенью агрегации, чем в исходном образце, и которая слабо зависит от степени агрегации нанотрубок в исходном тестируемом образце
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 44
Автор(ы) : Полунин В. М., Стороженко А. М., Ряполов П. А., Танцюра А. О., Беседин А. Г.
Заглавие : Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 12-17: табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 17 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): жидкость--фазы магнитной жидкости--жидкость нанодисперсная магнитная--акустометрия--наночастицы магнитные--анализ магнитогранулометрический
Аннотация: В работе предложена акустическая методика измерения физических параметров магнитных наночастиц дисперсной фазы магнитной жидкости. Теоретической основой методики является концентрационная модель акустомагнитного эффекта, сущность которой раскрывается путем детализации взаимодействия физических полей (акустического, магнитного и теплового). Результаты акустометрии исследуемого образца магнитной жидкости находятся в удовлетворительном согласии с данными магнитогранулометрического анализа
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 44
Автор(ы) : Полунин В. М., Стороженко А. М., Ряполов П. А., Танцюра А. О., Беседин А. Г.
Заглавие : Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости
Место публикации : Нанотехника. - 2011. - № 2. - С. 64-68: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 68 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: В работе предложена акустическая методика измерения физических параметров магнитных наночастиц дисперсной фазы магнитной жидкости. Теоретической основой методики является концентрационная модель акустомагнитного эффекта, сущность которой раскрывается путем детализации взаимодействия физических полей (акустического, магнитного и теплового). Результаты акустометрии исследуемого образца магнитной жидкости находятся в удовлетворительном согласии с данными магнитогранулометрического анализа
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 43
Автор(ы) : Белкин Л. М., Белкин М.Е.
Заглавие : Бесструктурная модель поверхностно излучающего лазера с полосой модуляции в свч диапазоне
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 10. - С. 9-17: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 17 (17 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Предложена бесструктурная (в виде эквивалентной электрической схемы) нелинейная модель поверхностно излучающего лазера с вертикальным резонатором (VCSEL), пригодная для разработчиков аппаратуры современных сверхскоростных цифровых и аналоговых ВОСП с полосой поднесущих в СВЧ диапазоне, локальных телекоммуникационных систем волоконно-эфирной структуры, устройств СВЧ оптоэлектроники, а также оптических межсоединений в ИМС. Исходными данными для разработки модели служат результаты измерения статической и динамической характеристик электрооптического преобразования и характеристики отражения по модулирующему входу испытуемого образца. Описывается методика экстракции параметров его эквивалентной схемы с помощью высокоразвитой электронной САПР. Приводятся результаты моделирования и измерения интермодуляционных искажений третьего и пятого порядков длинноволнового VCSEL сплавной конструкции с полосой модуляции в СВЧ диапазоне. Оценивается уровень линейности испытуемого типа VCSEL передаче аналоговых СВЧ сигналов
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 79
Заглавие : Болометр с термочувствительным слоем из оксида ванадия VO x
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 5-6. - С. 44-52: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 52 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): чувствительность вольтовая--способность болометров обнаружительная--болометр--оксид ванадия
Аннотация: Исследованы электрические параметры термочувствительного слоя болометра VO x и морфология его поверхности. Определена относительная погрешность измерения, вносимая оксидным слоем VO x. Представлены расчетные и экспериментальные данные нагрева слоя VO x на 1 и 200 °С в диапазонах длин волн 0.5—3.39 мкм и 5.0—12 мкм в зависимости от длительности импульса излучения в диапазоне 1 — 10 -9 с на различных подложках. Исследованы зависимости: постоянной времени, вольтовой чувствительности болометра от размера приемной площадки и материала подложки. Рассчитаны: постоянная времени болометра, вольтовая чувствительность и эквивалентные значения напряжений фундаментальных шумов в зависимости от размеров приемной площадки, материалов подложки и частоты регистрируемого излучения. Приведены значения удельного теплового потока и обнаружительной способности болометров на частотах 1, 10, 20 Гц, выполненных на различных диэлектрических подложках. Описана модульная конструкция болометра, включающая герметичный корпус с приемным окном и преобразователь сопротивление-напряжение. Приведены зависимости напряжения с выхода болометра от величины воздействующего постоянного и импульсного излучения
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 64
Автор(ы) : Кондакова К. С., Дерябина Т. Д.
Заглавие : Влияние ионов, нано- и микрочастиц железа на люминесценцию и рост рекомбинантного штамма Escherichia coli с клонированным lux-опероном photobacterium leiognathi в тесте острой и хронической токсичности
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 4. - С. 47-52: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 52 (18 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нано- и микрочастицы железа --escherichia coli--биосенсор бактериальный люминесцентный--наночастицы
Аннотация: Изучены острая и хроническая токсичности ионов, нано- и микрочастиц железа биолюминесцентным методом, используя клетки рекомбинантного штамма Escherichia coli K12 TG1 с клонированным в него luxCDABE-генами природных люминесцентных морских бактерий Photobacterium leiognathi, и путем измерения динамики роста соответствующего тест-штамма. В тесте прямой токсичности ионы железа проявляют выраженную острую токсичность уже к 1 ч исследования и возрастающую к 16 ч. Развитие токсического эффекта наночастиц железа требовало более длительной экспозиции (EC 50 = 13,9 ± 0,70). Микрочастицы железа во всей динамике проявляли себя как нетоксичное соединение. При культивировании бактериального люминесцентного биосенсора в LB-бульоне выявляемая токсичность ионов железа оказалась значительно ниже. Токсичность наночастиц железа характеризовалась EC 50 = 14,1 ± 0,80 к 16 ч контакта. Микрочастицы железа не вызывали ингибирования бактериальной люминесценции. При исследовании роста рекомбинантного штамма E. coli K12 TG1 в периодической культуре токсичность ионов железа характеризовалась величиной EC 50 = 9,8 ± 1,20, а наночастиц - EC 50 = 14,0 ± 2,30 к 16 ч экспозиции. Микрочастицы железа не вызывали подавление роста рекомбинантного штамма
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Бочарова С. И., Гапанович М. В., Войлов Д. Н., Один И. Н., Новиков Г. Ф.
Заглавие : Влияние условий электрохимического осаждения на свойства нанокристаллических пленок CuInSe2
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 16-19: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 19 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наночастицы--пленки нанокристаллические cuinse2 --свойства нанокристаллических пленок--растворы этанольные --свойства оптические --адгезия пленок--микроскопия атомно-силовая --область когерентного рассеяния (окр) --пленки синтезированные однофазные --асм--анализ рентгенофазовый
Аннотация: Исследовано влияние потенциалов и времени электрохимического осаждения из этанольных растворов на фазовый состав, структуру, оптические свойства и адгезию нанокристаллических пленок CuInSe2 (CIS). На основании данных рентгенофазового анализа (РФА) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) установлена область потенциалов, в которой происходит образование однофазных пленок CIS. В этой области наблюдалась наилучшая адгезия пленок к подложке стекло/Mo. Размер области когерентного рассеяния (ОКР) определен по данным РФА как 6 нм. Измерения АСМ показали, что пленки состоят из конгломератов (~200 нм) наночастиц, размер которых (10 нм) зависит от времени и потенциала осаждения. Ширина запрещенной зоны синтезированных однофазных пленок оценена по спектрам оптического поглощения как 1.5 эВ
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : ГОСТ 8.593-2009!-165833
62/Г 72
Заглавие : Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт . -Офиц. изд.- Введ. с 11.11.2009
Выходные данные : М.: Стандартинформ, 2010
Колич.характеристики :7 с
Коллективы : Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС)
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 90.03.37 + 90.03.37
ББК : 62я861 + 621.0я861
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 30
Автор(ы) : Егоров Г. П., Волков А. А., Устюжанинов А. Л.
Заглавие : Измерение внутренних напряжений в нанопленках in-situ
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 7-8 . - С. 74-78: табл., рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 78 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанопленки in-situ--метод измерения внутренних напряжений--пластина консольно закрепленная
Аннотация: Описан метод измерения внутренних напряжений в нанопленках in-situ. Внутренние механические напряжения непосредственно влияют на работоспособность пленочных структур в микроэлектронных приборах. Метод основан на измерении прогибов консольно закрепленной пластины во время осаждения нанопленок в вакууме. В работе использован магнетронный способ нанесения покрытий в вакууме. Для определения прогиба консоли измерялась емкость конденсатора, образованного неподвижной обкладкой, закрепленной на стойке, и обкладкой, прикрепленной к свободному концу тонкой пластины. Для измерения малой емкости конденсатор включен в цепь мультивибратора. Проведены эксперименты по измерению напряжений in-situ при нанесении пленок Ti и Си на медные подложки. Установлено, что напряжения, возникающие в титановой пленке, - растягивающие, а в медной пленке - сжимающие, а их величина существенно меняется при напуске воздуха в вакуумную камеру. Полученные результаты показывают перспективность данного метода исследования механических напряжений в нанопленках не только для прямого измерения возникающих напряжений, но и эффектов взаимодействия газов с наноструктурными пленками in-situ
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 28
Автор(ы) : Батурин А. С., Чуприк А. А.
Заглавие : Измерение емкости квазистатическим методом в атомно-силовом микроскопе
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 1. - С. 2-7: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 7 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): асм--емкость--характеристики вольт-фарадные--нанометрология
Аннотация: Рассмотрен квазистатический метод одновременного измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик с помощью атомно-силового микроскопа. Выполнен систематический анализ источников погрешности измерения емкости микроструктур. Показана возможность измерения емкости в диапазоне 10...500 пФ с погрешностью менее 3 % и с высоким пространственным разрешением
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Е 30
Автор(ы) : Егоров В. В.
Заглавие : Измерение сдвига в нано- и микроструктурированных средах
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 51-54. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.54 ( 3 наим.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сдвиг--поле--сигнал--алгоритм
Аннотация: Получены алгоритмы измерения сдвига в нано- и микроструктурированных средах
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж1/Л 66
Автор(ы) : Лич, Ричард К.
Заглавие : Инженерные основы измерений нанометровой точности : учебное пособие
Выходные данные : Долгопрудный: Интеллект, 2012
Колич.характеристики :399 с.: ил.
Перевод издания: Leach, R. Fundamental Principles of Engineering Nanometrology. -New York, 2010
Примечания : Библиогр. в конце глав.
ISBN, Цена 978-5-91559-119-5: 1633.00 р.
ГРНТИ : 90
ББК : Ж10я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Оглавление
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Аракелян С. М., Кутровская С. В., Кучерик А. О., Троицкий Д. П., Прокошев В. Г., Быков В. А., Леесмент С. И.
Заглавие : Использование методов фрактальной геометрии для анализа морфологических свойств и управления качеством получаемого информационного массива по результатам измерений наноразмерных объектов с использованием атомно-силового микроскопа
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 8-13: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 13 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методы атомно-силовой микроскопии (АСМ) получают все большее распространение в задачах исследования нанообъектов и наноструктур. Используемые подходы позволяют получать с высоким разрешением карту свойств поверхности. Для многих измерений принципиален вопрос об избыточности проводимых измерений и возможности управлением качеством получаемой информации. На основе методов фрактальной геометрии на примере одномерных зависимостей предложены методы управления качеством и точностью получаемого информационного массива на основе АСМ-измерений
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Гуламов А. А., Полунин В. М., Рослякова Л. И., Хотынюк С. С., Шабанова И. А., Стороженко А. М.
Заглавие : Исследование кинетико-прочностных свойств магнитожидкостной мембраны
Место публикации : Нанотехника. - 2010. - № 1. - С. 10-16: табл., рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр. : с. 16 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мембрана магнитожидкостная--параметры кинетико-прочностные--измерения оптические прямые
Аннотация: В настоящей работе представлены результаты исследования наиболее существенных кинетико-прочностных параметров разрывной магнитожидкостной мембраны - диаметра и времени существования отверстия в магнитожидкостной перемычке путем прямых оптических измерений
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Козлов А. С., Петров А. К., Булина Н. В., Аввакумов Е. Г.
Заглавие : Исследование фракционного состава наноразмерного порошка алюмомагниевой шпинели методом неразрушающей абляции
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 75-77: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 77 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метод неразрушающей абляции --порошок наноразмерный--наночастицы--порошок алюмомагниевой шпинели --тгц-диапазон--шпинель mgal2o4
Аннотация: На основе явления неразрушающей абляции разработан перспективный метод определения фракционного состава смесей наночастиц различного происхождения, заключающийся в абляции исходного материала лазерным излучением ТГц-диапазона с последующей регистрацией дисперсных продуктов в газе при помощи современной аэрозольной аппаратуры. В данной работе приведены результаты исследования образца шпинели MgAl2O4. Средний размер наночастиц, определенный методом неразрушающей абляции, составляет 9±1 нм, что соответствует данным порошковой рентгеновской дифракции. Методом неразрушающей абляции дополнительно зарегистрирована фракция мелких агрегатов частиц, остающаяся после распыления порошка. Показано, что неразрушающая абляция является достаточно быстрым методом измерения размера частиц
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 43
Автор(ы) : Белкин М. Е., Белкин Л. М.
Заглавие : Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 51-54: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 54 (9 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): лазер поверхностно-излучающий полупроводниковый --резонатор вертикальный--измерение времени задержки включения
Аннотация: Предложен простой метод измерения характеристики задержки включения полупроводникового лазера с прямой модуляцией током инжекции, основанный на сравнении с помощью цифрового осциллографа задержки фронтов импульсов на входе испытуемого образца и на выходе измерительного фотодиода после электрооптического и оптико-электрического преобразований. Описываются методика, технология и результаты измерения времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным каналом (VCSEL). Проводится оценка точности измерений
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 91
Автор(ы) : Асташенкова О. Н., Корляков А. В.
Заглавие : Контроль физико-механических параметров тонких пленок
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 24-29: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 29 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мембраны--пленки тонкие--модуль юнга--напряжения механические--свойства тонких пленок--способы измерения механических напряжений
Аннотация: Представлена методика измерения и расчета сжимающих и растягивающих внутренних механических напряжений и модуля Юнга в однослойных и композиционных мембранных структурах на основе тонких пленок различных материалов. Приведены результаты измерения механических напряжений и модуля Юнга пленок различных материалов
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 68
Автор(ы) : Благов Е. В., Амеличев В. В., Костюк Д. В.
Заглавие : Магниторезистивный преобразователь для датчиков тока
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 4. - С. 22-25: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 25 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): датчик тока--преобразователь магниторезистивный --элемент магниторезистивный
Аннотация: Рассмотрены основные типы преобразователей магнитного поля, применяемые в современных датчиках тока. Представлены результаты измерения основных электрофизических характеристик магниторезистивного преобразователя с проводником управления. На основе результатов исследования макета магниторезистивного преобразователя для датчиков тока приведена оценка возможности измерения с его помощью токов силой до 60 А
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 54
Автор(ы) : Печерская Е. А., Метальников А. М., Вареник Ю. А., Бобошко А. В.
Заглавие : Метод измерения тока переключения и диэлектрических параметров сегнетоэлектриков
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 1. - С. 24-26: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 26 (9 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Проанализирован метод косвенного измерения диэлектрических параметров сегнеmоэлекmриков, основанный на измерении временной зависимости тока переключения с помощью схемы Сойера-Тауэра. Приведены формулы для расчета времени переключения, активного сопротивления, обусловливающего потери энергии при спонтанной поляризации, емкости, поляризованносmи
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 37
Автор(ы) : Симонов В. Н., Красильникова О. К., Матисон Н. Л.
Заглавие : Метод контроля параметров наноразмерных пленок на основе мультирезонансных кварцекристаллических микрои нановесов
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 3-4. - С. 64-70: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 70 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пленки наноразмерные--нановесы (qcn) --микровесы кварцекристаллические (qcm)--резонаторы кварцевые--пленки хитозана --температура--резонатор
Аннотация: Рассмотрены возможности метода исследования тонких пленок с использованием кварцекристаллических микровесов (QCM) и нановесов (QCN) на основе нескольких резонансов нескольких кварцевых резонаторов. Система из трех кварцевых резонаторов использовалась для измерения различных физико-химических и механических свойств пленок хитозана толщиной от 50 до 200 нм. Измерены изотермы адсорбции паров воды пленками хитозана в диапазонах влажности от 0 до 99 % и диапазоне температур 20–70 °C, механические напряжения в высыхающей пленке, плотность хитозана, модуль Юнга и его поведение в диапазоне температур
Найти похожие

1-20 21-40 41-59

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)