Поисковый запрос: (<.>K=КАЧЕСТВО<.>) |
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Уточняем международный стандарт МЭК / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 2. - С. 5-8. - Библиогр. : с. 8 (14 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ , 20-21 вв.
Кл.слова (ненормированные):
СТАНДАPТ -- ЭЛЕКТPОННЫЙ ПPИБОP -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО
Аннотация: Изложены предложения по уточнению междунаpодного стандаpта IEC (МЭК) 61192-1 "Процесс пайки". В связи с отсутствием совpеменной отечественной ноpмативной базы по пайке электpонных компонентов наибольшее pаспpостpанение получили междунаpодные стандаpты IPC и IEC [1]
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Влияние длины паяльного стержня на температуру контактной пайки / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 3. - С. 29-31 : табл. - Библиогр. : с. 31 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР ЭЛЕКТРОННЫЙ -- КАЧЕСТВО -- ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ
Аннотация: Описаны результаты исследований по влиянию длины паяльного стержня на температуру контактной пайки, которая оказывает pешающее влияние на качество паяных соединений
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Оценка времени и температуры пайки электронных приборов / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 15-17 : ил. - Библиогр. : с. 17 (8 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВРЕМЯ
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет.
А 94
Штенников, В. Н.
Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Международные стандарты IPC о паяльных стержнях из стали / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 28-29. - Библиогр. : с. 29 (15 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
К вопросу развития научного направления по пайке электронных приборов / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 30-31 : рис. - Библиогр. : с. 31 (13 назв.)
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МСТ -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
Р 27
Рахметулина, Л. А.
Влияние состава растворов и режима травления на качество никелевого покрытия на абс-пластике / Л. А. Рахметулина, С. М. Закирова, М. К. Соловьева // Нанотехнологии. Наука и производство. - 2014. - № 2 (29). - С. 48-49
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НИКЕЛЕВОЕ ПОКРЫТИЕ -- АБС-ПЛАСТИКА
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
П 32
Пивоненков, Б. И.
Критерий качества сенсоров механических величин / Б. И. Пивоненков // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 42-48. - Библиогр. : с. 48 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СЕНСОР МЕХАНИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН -- МЭМС -- КРИТЕРИЙ КАЧЕСТВА СЕНСОРОВ
Аннотация: Предлагается критерий качества сенсоров механических величин (отношение квадрата информативности в трех вариантах, в зависимости от области применения сенсора - к энергии деформации сенсора). Критерий объясняет направления и результаты развития сенсоров за период с 1970 г. по настоящее время и позволяет сравнивать качество сенсоров, оптимизировать конструктивно-технологические решения, оценивать перспективы и тенденции развития сенсоров механических величин с технической и экономической ("рыночной") точки зрения
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет.
П 16
Панкова, Е. А.
Исследование влияния обработки наноматериалами в условиях ВЧИ плазмы на качество мехового полуфабриката из шкур овчины [] / Е. А. Панкова, И. Ш. Абдуллин // Нанотехника. - 2008. - № 3. - С. 64-65 : рис., табл. - Библиогр.: с. 65 (2 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ГРЯЗЕОТТАЛКИВАНИЕ -- ТЕПЛОПРОВОДНОСТЬ
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных