Поисковый запрос: (<.>K=КАЧЕСТВО<.>) |
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: нет.
К 68
Королева, Л. Ф.
Финишное полирование металлов с получением наношероховатой поверхности / Л. Ф. Королева // Российские нанотехнологии. - 2012. - № 1-2. - С. 70-76 : рис., табл. - Библиогр. : с. 76 (38 назв.)
. - ISSN 1992-7223ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПОВЕРХНОСТЬ НАНОШЕРОХОВАТАЯ -- ПОЛИРОВАНИЕ МЕТАЛЛОВ -- МЕХАНОХИМИЯ -- РАСТВОРЫ ТВЕРДЫЕ ОКСИДОВ АЛЮМИНИЯ И ЖЕЛЕЗА
Аннотация: С позиций механохимии изложена концепция процесса финишного полирования закаленных сталей и цветных металлов с нанодисперсными трибохимически активными абразивами на основе твердых растворов оксидов алюминия и железа. Показано, что процесс, определяющий скорость и качество полирования металлов, — это процесс образования оксидной пленки на поверхности и ее удаление. Для описания кинетики полирования применены уравнения для гетерогенных процессов. Показано, что применение данных абразивных материалов обеспечивает сокращение доводочных операций и получение шероховатости поверхности R a менее 0.005 мкм
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Уточняем международный стандарт МЭК / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 2. - С. 5-8. - Библиогр. : с. 8 (14 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ , 20-21 вв.
Кл.слова (ненормированные):
СТАНДАPТ -- ЭЛЕКТPОННЫЙ ПPИБОP -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО
Аннотация: Изложены предложения по уточнению междунаpодного стандаpта IEC (МЭК) 61192-1 "Процесс пайки". В связи с отсутствием совpеменной отечественной ноpмативной базы по пайке электpонных компонентов наибольшее pаспpостpанение получили междунаpодные стандаpты IPC и IEC [1]
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Оценка времени и температуры пайки электронных приборов / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 15-17 : ил. - Библиогр. : с. 17 (8 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВРЕМЯ
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет.
Г 51
Гирфанова, Н. А.
Обзор и сравнительная характеристика методов определения качества изображения в пассивных системах автофокусировки / Н. А. Гирфанова // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4 : табл. - Библиогр. : с.13 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СИСТЕМЫ ПАССИВНОЙ АВТОФУКСИРОВКИ -- РЕЗКОСТЬ ИЗОБРАЖЕНИЯ
Аннотация: Проведен анализ ряда алгоритмов вычисления параметра, характеризующего качество изображения в пассивных системах автофокусировки, а именно - дискретное вейвлет-преобразование, дискретное косинусное преобразование, одномерный и двумерный градиент. Для части методов используется предварительная фильтрация. Проведены эксперименты с набором видеоданных, представляющих собой наиболее сложные ситуации автофокусировки. Выполнена оценка аппаратных затрат при реализации блока вычисления параметра в интегральной схеме по технологии КМОП 0,18 мкм
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
А 94
Штенников, В. Н.
Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
М 54
Метаморфные наногетероструктуры InGaAs/InAlAs на подложках GaAs для приборов терагерцовой электроники / О. А. Рубан, С. С. Пушкарев, Г. Б. Галиев, Е. А. Климов, Д. С. Пономарев, Р. А. Хабибуллин, П. П. Мальцев // Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 10. - С. 12-15. - Библиогр.: с. 15 (9 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕРАГЕРЦОВОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- МЕТАМОРФНЫЙ БУФЕР -- НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРЫ -- МОЛЕКУЛЯРНО-ЛУЧЕВАЯ ЭПИТАКСИЯ
Аннотация: Исследованы электрофизические и структурные свойства метаморфных наногетероструктур InGaAs/InAlAs/GaAs с различным дизайном метаморфного буфера. Установлено, что его использование с введенными внутрь 30-периодными сверхрешетками (CP) InGaAs/InAlAs позволяет увеличить подвижность электронов на 36 % в активном слое гетероструктуры по сравнению с образцом без CP и при этом сохранить высокое структурное качество. Для оценки структурного качества исследуемых образцов определены средние квадратичные значения шероховатости поверхности RMS с помощью измерений атомно-силовой микроскопии
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Международные стандарты IPC о паяльных стержнях из стали / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 28-29. - Библиогр. : с. 29 (15 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
К 84
Крушенко, Г. Г.
Литейные нанопокрытия / Г. Г. Крушенко // Нанотехника. - 2012. - № 2. - С. 93-97 : рис. - Библиогр.: с. 97 (16 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОПОРОШКИ -- ПОКРЫТИЯ ЛИТЕЙНЫЕ -- СОЕДИНЕНИЯ ХИМИЧЕСКИЕ ТУГОПЛАВКИЕ -- ОТЛИВЫ СТАЛЬНЫЕ -- СПЛАВЫ АЛЮМИНИЕВЫЕ
Аннотация: Введение в состав литейных покрытий (красок) нанопорошков тугоплавких химических соединений уменьшает пригар чугунных и стальных отливок, получаемых в песчано-глинистых формах, и повышает качество поверхности отливок из алюминиевых сплавов, получаемых в металлических формах, при одновременном увеличении их стойкости
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет.
П 32
Пивоненков, Б. И.
Критерий качества сенсоров механических величин / Б. И. Пивоненков // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 42-48. - Библиогр. : с. 48 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СЕНСОР МЕХАНИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН -- МЭМС -- КРИТЕРИЙ КАЧЕСТВА СЕНСОРОВ
Аннотация: Предлагается критерий качества сенсоров механических величин (отношение квадрата информативности в трех вариантах, в зависимости от области применения сенсора - к энергии деформации сенсора). Критерий объясняет направления и результаты развития сенсоров за период с 1970 г. по настоящее время и позволяет сравнивать качество сенсоров, оптимизировать конструктивно-технологические решения, оценивать перспективы и тенденции развития сенсоров механических величин с технической и экономической ("рыночной") точки зрения
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных