Поисковый запрос: (<.>K=КАЧЕСТВО<.>) |
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Инвентарный номер: нет. П 16
Панкова, Е. А. Исследование влияния обработки наноматериалами в условиях ВЧИ плазмы на качество мехового полуфабриката из шкур овчины [] / Е. А. Панкова, И. Ш. Абдуллин> // Нанотехника. - 2008. - № 3. - С. 64-65 : рис., табл. - Библиогр.: с. 65 (2 назв.)
. - ISSN 1816-4498ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ГРЯЗЕОТТАЛКИВАНИЕ -- ТЕПЛОПРОВОДНОСТЬ
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет. И 88
Использование углеродных нанотрубок для очистки сточных вод [Текст]> // Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 30
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): УГЛЕРОДНЫЕ НАНОТРУБКИ -- ОЧИСТКА СТОЧНЫХ ВОД Аннотация: Как известно, углеродные нанотрубки (УНТ) обладают уникальными сорбционными характеристиками, что связано, в первую очередь, с рекордно высокой удельной поверхностью, присущей этим структурам. Кроме того, поверхность нанотрубки обладает значительным количеством двойных углеродных связей, что открывает возможность присоединения различных молекулярных комплексов, которые могут характеризоваться повышенными сорбционными свойствами. Данное качество УНТ открывает перспективы их использования в качестве сорбента в устройствах для очистки сточных вод от вредных примесей, таких как тяжелые металлы и органические соединения
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет. О-51
Окрепилов, В. В. Качество в нанотехнологиях : роль метрологии и стандартизации / В. В. Окрепилов> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 7. - С. 2-6 : рис., табл. - Библиогр. : с. 6 (2 назв.)
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. Международные стандарты IPC о паяльных стержнях из стали / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 28-29. - Библиогр. : с. 29 (15 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- СБОРКА -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. Оценка времени и температуры пайки электронных приборов / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 15-17 : ил. - Библиогр. : с. 17 (8 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА -- ВРЕМЯ
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет. Ш 89
Штенников, В. Н. К вопросу развития научного направления по пайке электронных приборов / В. Н. Штенников> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 30-31 : рис. - Библиогр. : с. 31 (13 назв.)
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ПРИБОР -- СБОРКА -- МСТ -- КАЧЕСТВО -- ПАЙКА -- ТЕМПЕРАТУРА
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет. А 94
Штенников, В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.]> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет. П 32
Пивоненков, Б. И. Критерий качества сенсоров механических величин / Б. И. Пивоненков> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 42-48. - Библиогр. : с. 48 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СЕНСОР МЕХАНИЧЕСКИХ ВЕЛИЧИН -- МЭМС -- КРИТЕРИЙ КАЧЕСТВА СЕНСОРОВ Аннотация: Предлагается критерий качества сенсоров механических величин (отношение квадрата информативности в трех вариантах, в зависимости от области применения сенсора - к энергии деформации сенсора). Критерий объясняет направления и результаты развития сенсоров за период с 1970 г. по настоящее время и позволяет сравнивать качество сенсоров, оптимизировать конструктивно-технологические решения, оценивать перспективы и тенденции развития сенсоров механических величин с технической и экономической ("рыночной") точки зрения
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет. Г 51
Гирфанова, Н. А. Обзор и сравнительная характеристика методов определения качества изображения в пассивных системах автофокусировки / Н. А. Гирфанова> // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4 : табл. - Библиогр. : с.13 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): СИСТЕМЫ ПАССИВНОЙ АВТОФУКСИРОВКИ -- РЕЗКОСТЬ ИЗОБРАЖЕНИЯ Аннотация: Проведен анализ ряда алгоритмов вычисления параметра, характеризующего качество изображения в пассивных системах автофокусировки, а именно - дискретное вейвлет-преобразование, дискретное косинусное преобразование, одномерный и двумерный градиент. Для части методов используется предварительная фильтрация. Проведены эксперименты с набором видеоданных, представляющих собой наиболее сложные ситуации автофокусировки. Выполнена оценка аппаратных затрат при реализации блока вычисления параметра в интегральной схеме по технологии КМОП 0,18 мкм
Найти похожие
|
|
|