Поисковый запрос: (<.>K=КАЧЕСТВО<.>) |
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 68
Автор(ы) : Королева Л. Ф.
Заглавие : Финишное полирование металлов с получением наношероховатой поверхности
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - № 1-2. - С. 70-76: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 76 (38 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: С позиций механохимии изложена концепция процесса финишного полирования закаленных сталей и цветных металлов с нанодисперсными трибохимически активными абразивами на основе твердых растворов оксидов алюминия и железа. Показано, что процесс, определяющий скорость и качество полирования металлов, — это процесс образования оксидной пленки на поверхности и ее удаление. Для описания кинетики полирования применены уравнения для гетерогенных процессов. Показано, что применение данных абразивных материалов обеспечивает сокращение доводочных операций и получение шероховатости поверхности R a менее 0.005 мкм
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В.Н.
Заглавие : Уточняем международный стандарт МЭК
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 2. - С. 5-8. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 8 (14 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ , 20-21 вв.
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): стандаpт --электpонный пpибоp --пайка--качество
Аннотация: Изложены предложения по уточнению междунаpодного стандаpта IEC (МЭК) 61192-1 "Процесс пайки". В связи с отсутствием совpеменной отечественной ноpмативной базы по пайке электpонных компонентов наибольшее pаспpостpанение получили междунаpодные стандаpты IPC и IEC [1]
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--сборка--микроэлектроника--мст--пайка--качество
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Оценка времени и температуры пайки электронных приборов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 15-17: ил. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 17 (8 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--качество--пайка--температура--время
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Г 51
Автор(ы) : Гирфанова Н. А.
Заглавие : Обзор и сравнительная характеристика методов определения качества изображения в пассивных системах автофокусировки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4: табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.13 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): системы пассивной автофуксировки--резкость изображения
Аннотация: Проведен анализ ряда алгоритмов вычисления параметра, характеризующего качество изображения в пассивных системах автофокусировки, а именно - дискретное вейвлет-преобразование, дискретное косинусное преобразование, одномерный и двумерный градиент. Для части методов используется предварительная фильтрация. Проведены эксперименты с набором видеоданных, представляющих собой наиболее сложные ситуации автофокусировки. Выполнена оценка аппаратных затрат при реализации блока вычисления параметра в интегральной схеме по технологии КМОП 0,18 мкм
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 94
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): температура пайки--микроэлектроника--прибор
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.382.323/М 54
Автор(ы) : Рубан О. А., Пушкарев С. С., Галиев Г. Б., Климов Е. А., Пономарев Д. С., Хабибуллин Р. А., Мальцев П. П.
Заглавие : Метаморфные наногетероструктуры InGaAs/InAlAs на подложках GaAs для приборов терагерцовой электроники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 10. - С. 12-15. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 15 (9 назв.)
УДК : 621.382.323
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): терагерцовое излучение--метаморфный буфер--наногетероструктуры--молекулярно-лучевая эпитаксия
Аннотация: Исследованы электрофизические и структурные свойства метаморфных наногетероструктур InGaAs/InAlAs/GaAs с различным дизайном метаморфного буфера. Установлено, что его использование с введенными внутрь 30-периодными сверхрешетками (CP) InGaAs/InAlAs позволяет увеличить подвижность электронов на 36 % в активном слое гетероструктуры по сравнению с образцом без CP и при этом сохранить высокое структурное качество. Для оценки структурного качества исследуемых образцов определены средние квадратичные значения шероховатости поверхности RMS с помощью измерений атомно-силовой микроскопии
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Международные стандарты IPC о паяльных стержнях из стали
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 28-29. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 29 (15 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 84
Автор(ы) : Крушенко Г. Г.
Заглавие : Литейные нанопокрытия
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 2. - С. 93-97: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 97 (16 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанопорошки--покрытия литейные--соединения химические тугоплавкие--отливы стальные--сплавы алюминиевые
Аннотация: Введение в состав литейных покрытий (красок) нанопорошков тугоплавких химических соединений уменьшает пригар чугунных и стальных отливок, получаемых в песчано-глинистых формах, и повышает качество поверхности отливок из алюминиевых сплавов, получаемых в металлических формах, при одновременном увеличении их стойкости
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 32
Автор(ы) : Пивоненков Б. И.
Заглавие : Критерий качества сенсоров механических величин
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 42-48. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 48 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сенсор механических величин--мэмс--критерий качества сенсоров
Аннотация: Предлагается критерий качества сенсоров механических величин (отношение квадрата информативности в трех вариантах, в зависимости от области применения сенсора - к энергии деформации сенсора). Критерий объясняет направления и результаты развития сенсоров за период с 1970 г. по настоящее время и позволяет сравнивать качество сенсоров, оптимизировать конструктивно-технологические решения, оценивать перспективы и тенденции развития сенсоров механических величин с технической и экономической ("рыночной") точки зрения
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных