Поисковый запрос: (<.>K=КАЧЕСТВО<.>) |
Общее количество найденных документов : 19
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 16
Автор(ы) : Панкова Е. А., Абдуллин И. Ш.
Заглавие : Исследование влияния обработки наноматериалами в условиях ВЧИ плазмы на качество мехового полуфабриката из шкур овчины
Место публикации : Нанотехника. - 2008. - № 3. - С. 64-65: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 65 (2 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): грязеотталкивание--теплопроводность
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Заглавие : Использование углеродных нанотрубок для очистки сточных вод
Место публикации : Нанотехнологии: наука и производство. - 2008. - № 1. - С. 30
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): углеродные нанотрубки--очистка сточных вод
Аннотация: Как известно, углеродные нанотрубки (УНТ) обладают уникальными сорбционными характеристиками, что связано, в первую очередь, с рекордно высокой удельной поверхностью, присущей этим структурам. Кроме того, поверхность нанотрубки обладает значительным количеством двойных углеродных связей, что открывает возможность присоединения различных молекулярных комплексов, которые могут характеризоваться повышенными сорбционными свойствами. Данное качество УНТ открывает перспективы их использования в качестве сорбента в устройствах для очистки сточных вод от вредных примесей, таких как тяжелые металлы и органические соединения
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/О-51
Автор(ы) : Окрепилов В. В.
Заглавие : Качество в нанотехнологиях : роль метрологии и стандартизации
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 7. - С. 2-6: рис., табл.
Примечания : Библиогр. : с. 6 (2 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метрология--стандартизация
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Международные стандарты IPC о паяльных стержнях из стали
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 10. - С. 28-29. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 29 (15 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Оценка времени и температуры пайки электронных приборов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 5. - С. 15-17: ил. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 17 (8 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--качество--пайка--температура--время
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--сборка--микроэлектроника--мст--пайка--качество
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : К вопросу развития научного направления по пайке электронных приборов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 3. - С. 30-31: рис.
Примечания : Библиогр. : с. 31 (13 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--сборка--мст--качество--пайка--температура
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 94
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): температура пайки--микроэлектроника--прибор
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/П 32
Автор(ы) : Пивоненков Б. И.
Заглавие : Критерий качества сенсоров механических величин
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 42-48. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 48 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сенсор механических величин--мэмс--критерий качества сенсоров
Аннотация: Предлагается критерий качества сенсоров механических величин (отношение квадрата информативности в трех вариантах, в зависимости от области применения сенсора - к энергии деформации сенсора). Критерий объясняет направления и результаты развития сенсоров за период с 1970 г. по настоящее время и позволяет сравнивать качество сенсоров, оптимизировать конструктивно-технологические решения, оценивать перспективы и тенденции развития сенсоров механических величин с технической и экономической ("рыночной") точки зрения
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Г 51
Автор(ы) : Гирфанова Н. А.
Заглавие : Обзор и сравнительная характеристика методов определения качества изображения в пассивных системах автофокусировки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 4: табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с.13 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): системы пассивной автофуксировки--резкость изображения
Аннотация: Проведен анализ ряда алгоритмов вычисления параметра, характеризующего качество изображения в пассивных системах автофокусировки, а именно - дискретное вейвлет-преобразование, дискретное косинусное преобразование, одномерный и двумерный градиент. Для части методов используется предварительная фильтрация. Проведены эксперименты с набором видеоданных, представляющих собой наиболее сложные ситуации автофокусировки. Выполнена оценка аппаратных затрат при реализации блока вычисления параметра в интегральной схеме по технологии КМОП 0,18 мкм
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных