Поисковый запрос: (<.>K=КОНТРОЛЬ<.>) |
Общее количество найденных документов : 15
Показаны документы с 1 по 15 |
1.
| Дорошевич В.К. Рекомендации к построению и содержанию нормативной документации предприятий по статистическому контролю и регулированию технологических процессов микросхем/В. К. Дорошевич // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 9.-С.21-22
|
2.
| Бесконтактный контроль температуры и толщины в технологии микро - и нанослоев/П. Волков [и др.] // Наноиндустрия, 2008,N № 2.-С.20 - 25
|
3.
| Наночастицы "играют" в теннис // Нанотехнологии: наука и производство, 2008,N № 1.-С.25-26
|
4.
| Балдин А. А. Динамический контроль и оптимизация процесса облучения трековых мембран/А. А. Балдин, Э. Г. Балдина // Российские нанотехнологии, 2009. т.Т. 4,N № 9-10.-С.144-151
|
5.
| Максимов С. К. Контроль поверхностной функциональности наноматериалов/С. К. Максимов, К. С. Максимов // Российские нанотехнологии, 2009. т.Т. 4,N № 3-4.-С.93-105
|
6.
| Ершова Е. В. Твердотельные солнечные батареи /Е. В. Ершова, К. Г. Овакимян, Д. В. Григорьев // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 12 .-С.41-45
|
7.
| Зинченко С. П. Оптический in situ контроль синтеза наноразмерных пленок цирконата титаната свинца в камере газового разряда/С. П. Зинченко, А. П. Ковтун, Г. Н. Толмачев // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 5-6 .-С.77-80
|
8.
| Акустоэлектронные датчики силы в системах безопасности гидроагрегатов гэс /А. Т. Галисултанов, С. В. Дзюбаненко, В. С. Игнатьев, Д. М. Силаков, В. А. Калинин // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 8.-С.24-28
|
9.
| Спектральный контроль процесса травления арсенида галлия в хлороводороде /А. В. Дунаев, С. А. Пивоваренок, С. П. Капинос, А. М. Ефремов, В. И. Светцов // Нанотехника, 2012. т.№ 1.-С.93-95
|
10.
| Специализированное оптико-механическое и контрольно-измерительное оборудование для промышленного производства изделий микросистемотехники /С. М. Аваков, А. С. Агейченко, В. П. Зуев, А. И. Корнелюк, В. Е. Матюшков, В. К. Самохвалов, Я. И. Точицкий, Г. А. Трапашко, Д. П. Барышников, В. А. Русецкий // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 7.-С.7-14
|
11.
| Михайлов А. Н. Методология автоматизированного контроля параметров датчиков изделий микросистемотехники /А. Н. Михайлов, С. А. Берлик, Е. А. Михайлов // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 8.-С.22-24
|
12.
| Фоторезисты для встречно-штыревых преобразователей систем радиочастотной идентификации на основе акустоэлектронных элементов на поверхностных акустических волнах /В. А. Калинин, В. В. Пинаев, А. В. Макарова, А. В. Захаров // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 5.-С.30-33
|
13.
| Исследование микросистемы с использованием преобразователей магнитного поля /С. В. Никифоров, С. А. Поломошнов, Р. Д. Тихонов , А. А. Черемисинов // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 4.-С.36-37
|
14.
| Асташенкова О. Н. Контроль физико-механических параметров тонких пленок /О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.24-29
|
15.
| Магниторезистивная микросистема контроля электрического тока в проводнике/В. В. Амеличев, Е. В. Благов, Д. В. Костюк, Д. В. Васильев, П. А. Беляков, Е. П. Орлов, И. Е. Абанин, В. С. Тахов, А. И. Руковишников, Н. М. Россуканый // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 1.-С.39-42
|
|