Поисковый запрос: (<.>K=МЕТОДИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 57
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах /Ю. Р. Бакиева, Г. И. Зверева, М. Г. Спирин, А. В. Крестинин // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т.8,N № 5-6.-С.78-85
|
2.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости /В. М. Полунин [и др.] // Нанотехника, 2011. т.№ 2.-С.64-68
|
3.
| Акустометрия нанодисперсной фазы магнитной жидкости/В. М. Полунин, А. М. Стороженко, П. А. Ряполов, А. О. Танцюра, А. Г. Беседин // Нанотехника, 2012. т.№ 4.-С.12-17
|
4.
| Васюков В. Н. Анализ работы мостового МЭМП при случайных воздействиях /В. Н. Васюков, В. П. Драгунов, Д. И. Остертак // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 1.-С.40-45
|
5.
| Белкин Л. М. Бесструктурная модель поверхностно излучающего лазера с полосой модуляции в свч диапазоне /Л. М. Белкин, М. Е. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 10.-С.9-17
|
6.
| Чащихин В. С. Влияние молекул аналитов на электронные спектры поглощения и флуоресценции рецепторного центра на основе красителя 9-(дифениламино)акридина, адсорбированного на силикагельных кластерах /В. С. Чащихин, Е. А. Рыкова, А. А. Багатурьянц // Российские нанотехнологии, 2011. т.Т. 6,N № 9-10.-С.79-84
|
7.
| Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
|
8.
| Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии /О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 1-2.-С.27-32
|
9.
| Исследование процессов горения ВЭМ с нанопорошками алюминия /Г. В. Сакович, В. А. Архипов [и др.] // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 1-2 .-С.89-101
|
10.
| Аверин И. А. Исследование процессов деградации выходных параметров тензорезистивных структур/И. А. Аверин, Ю. В. Аношкин, Р. М. Печерская // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 10.-С.2-4
|
11.
| Исследование фактора шероховатости поверхности никелевых волокон, синтезированных под влиянием магнитного поля /М. В. Морозов, Г. А. Баталин, Б. И. Гареев, А. Х. Гильмутдинов, М. С. Тагиров, М. Х. Салахов // Нанотехника, 2012. т.№ 2.-С.48-54
|
12.
| Сидорова С. В. Исследование формирования островковых наноструктур в вакууме /С. В. Сидорова, П. И. Юрченко // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 5.-С.9-11
|
13.
| Белкин М. Е. Исследование характеристики времени задержки включения поверхностно-излучающего лазера с вертикальным резонатором /М. Е. Белкин, Л. М. Белкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.51-54
|
14.
| Конечно-элементное моделирование термомеханических свойств нанопористых материалов /Е. А. Белогуров [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2012. т.№ 1.-С.18-24
|
15.
| Асташенкова О. Н. Контроль физико-механических параметров тонких пленок /О. Н. Асташенкова, А. В. Корляков // Нано- и микросистемная техника , 2013. т.№ 2.-С.24-29
|
16.
| Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2010
|
17.
| Матюшкин И. В. Методика компарации способов коррекции оптических эффектов баизости при формировании топоаогии на фоторезисте /И. В. Матюшкин // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 12.-С.5-10
|
18.
| Штенников В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки /М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.30-32
|
19.
| Сивченко А. С. Методики анализа основных характеристик надежности в КМОП ИС с помощью тестовых структур в составе пластин/А. С. Сивченко, Е. В. Кузнецов // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 6.-С.7-9
|
20.
| Методы зондовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния света в исследовании взаимодействия нервных клеток и углеродных нанотрубок /И. И. Бобринецкий , В. К. Неволин , А. В. Ромашкин, А. С. Селезнев // Нанотехника, 2012. т.№ 3.-С.63-68
|
|
|