Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (217)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН (9)Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - ) (13)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (16)Публикации об УрО РАН (5)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (31)История Урала (1)Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН (36)Труды Института истории и археологии УрО РАН (22)Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН (37)Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН (30)Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН (46)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (21)Расплавы (18)Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН (11)Публикации Черешнева В.А. (4)Публикации Чарушина В.Н. (3)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (160)Библиометрия (116)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МЕТОДИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 57
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-40   41-57 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 51-74/В 55
Автор(ы) : Вишнеков А. В., Ерохин В. В.
Заглавие : Проектирование систем-на-кристалле: выбор базовой технологии изготовления кристалла
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 4. - С. 51-56. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 56 (5 назв.)
УДК : 51-74
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): проектное решение--лицо принимающее решение (лпр)--система-на-кристалле (снк)--технология--критерии оценки качества проектного решения--ip-блок
Аннотация: Рассматривается методика автоматизированного выбора технологии изготовления системы-на-кристалле в условиях изменения окружающей обстановки, основанная на применении методов теории принятия решений. Приводится пример выбора технологии изготовления СНК на основе предложенной методики
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.383.8/С 58
Автор(ы) : Заярский Д. А., Невешкин А. А., Байбурин В. Б., Слаповская Ю. П.
Заглавие : Создание многослойных структур на основе ALQ 3 и исследование их свойств
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 4. - С. 30-33. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 33 (4 назв.)
УДК : 621.383.8
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полимерные покрытия--три-8-оксихиналин алюминия--мдм-структура
Аннотация: Приведена методика формирования тонкопленочных полимерных покрытий на основе три-8-оксихиналин алюминия (Alq 3) и параметры оптимального режима нанесения, при котором толщина покрытий находится в пределах 100 нм. Создана многослойная тонкопленочная МДМ-структура на основе Alq 3 и исследованы ее электрофизические свойства
Найти похожие

3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77/С 34
Автор(ы) : Сивченко А. С., Кузнецов Е. В.
Заглавие : Методики анализа основных характеристик надежности в КМОП ИС с помощью тестовых структур в составе пластин
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 6. - С. 7-9: граф. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 9 (6 назв.)
УДК : 621.3.049.77
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): надежность--дефектность--отказ--металлизация ис--горячие носители
Аннотация: Представлены методики, позволяющие с помощью ускоренных измерений тестовых структур в составе пластин определять время наработки до отказа линии металлизации и деградацию параметров МОП-транзисторов под действием горячих носителей. Также в работе представлена методика, позволяющая определять дефектность подзатворного диэлектрика
Найти похожие

4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3.049.77/М 18
Автор(ы) : Малашевич Н. И.
Заглавие : Разработка методики интеграции ОЗУ в базовых матричных кристаллах космического назначения
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 6. - С. 50-52. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 52 (4 назв.)
УДК : 621.3.049.77
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): бмк--озу--интеграция в конструкцию бмк
Аннотация: Показана необходимость создания отечественных базовых матричных кристаллов (БМК) космического назначения с интегрированными блоками оперативного запоминающего устройства (ОЗУ). Перечислены преимущества использования микросхем указанных типов по сравнению с применением зарубежных ОЗУ, образующих на плате переходы БМК - ПЛИС/ASIC. Предложена методика интеграции блоков ОЗУ в структуру БМК. Рассмотрены основные ограничения, накладываемые конструкцией поля БМК на процесс разработки и интеграции блока ОЗУ
Найти похожие

5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 94
Автор(ы) : Батурин А. С., Булах К. В., Григал И. П., Егоров К. В., Заблоцкий А. В., Маркеев А. М., Лебединский Ю. Ю., Горнев Е. С., Орлов О. М., Чуприк А. А.
Заглавие : Эффект резистивного переключения в оксидных пленках HfxAl 1 - xOy с переменным составом, выращенных методом атомно-слоевого осаждения
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 6. - С. 13-18: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 18 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метод атомно-слоевого осаждения--эффект резистивного переключения--пленки оксидные--пленки тонкие--методика рентгено-фотоэлектронной спектроскопии
Аннотация: В качестве функционального диэлектрического слоя ячейки резистивной памяти ReRAMразработаны и выращены методом атомно-слоевого осаждения тонкие пленки трехкомпонентного оксида Hf xAl 1- xlO y с переменным (по глубине) содержанием Al. Выполнено неразрушающее профилирование оксидной пленки по глубине с использованием методики рентгено-фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением. В структурах металл—диэлектрик—металл TiN/Hf xAl 1- xO y/Pt и Pt/Hf xAl 1- xO y/TiN исследован эффект резистивного переключения
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/У 59
Автор(ы) : Рожков Е. В., Акопьян В. А., Паринов И. А., Захаров Ю. Н., Панич А. А., Сокало А. И., Шевцов С. Н.
Заглавие : Универсальный информационно-измерительный комплекс для определения характеристик пьезогенераторов и пьезоактуаторов
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 8. - С. 46-54: табл., рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 54 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): пьезогенераторы--пьезоактуаторы --комплекс информационно-измерительный --пэг--пэа--характеристики выходные--кантилевер--пэа многослойный
Аннотация: Представлено описание конструкции оригинального универсального информационно-измерительного комплекса для натурного моделирования характеристик пьезогенераторов (ПЭГ) и пьезоактуаторов (ПЭА). Также описана методика измерения и расчета их выходных параметров. Приведены результаты исследований характеристик многослойного ПЭА кантилеверного типа для активного гашения вибраций интеллектуальной лопасти вертолета и ПЭГ средней мощности, предназначенного для преобразования механической энергии в электрическую и накопления последней
Найти похожие

7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 73
Автор(ы) : Богданов С. А.
Заглавие : Моделирование газовой чувствительности кондуктометрических сенсоров на основе неоднородных полупроводников
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 9. - С. 2-7: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 7 (11 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): полупроводники неоднородные--полупроводники--чувствительность газовая--сенсоры газа кондуктометрические
Аннотация: Разработана методика прогнозирования газовой чувствительности кондуктометрических сенсоров газов с чувствительным слоем на основе поликристаллического полупроводника, учитывающая размеры кристаллических зерен материала чувствительного слоя. Полученные результаты могут быть использованы для оптимизации технологических режимов формирования рассматриваемых сенсоров, а также для прогнозирования их газовой чувствительности
Найти похожие

8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/О-62
Автор(ы) : Галперин В. А., Кондратьев П. К., Зубов Д. Н., Кельм Е. А., Павлов А. А.
Заглавие : Оптимизация процесса электрохимического осаждения меди в массивы углеродных нанотрубок
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 4. - С. 15-19: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 19 (9 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): медь--нанотрубка--нанотрубки углеродные--унт--осаждение меди электрохимическое--металлизация
Аннотация: Описаны результаты исследований по электрохимическому осаждению меди в различные конфигурации массивов углеродных нанотрубок. Рассмотрены традиционные методы с использованием растворов CuSO 4 и CuCl 2 в качестве электролитов; выявлены их недостатки. Предложена новая методика с применением раствора электролита в виде метанольно-глицератного комплекса меди и проведен анализ влияния его концентрации на структуру синтезируемого материала
Найти похожие

9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 20
Автор(ы) : Васюков В. Н., Драгунов В. П., Остертак Д. И.
Заглавие : Анализ работы мостового МЭМП при случайных воздействиях
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 1. - С. 40-45: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 45 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мэмп--преобразователь микроэлектромеханический--колебания многочастотные--анализ спектральный
Аннотация: Представлены результаты анализа работы двухконденсаторного мостового микроэлектромеханического преобразователя (МЭМП) энергии механических колебаний в электрическую энергию в условиях случайных воздействий с учетом взаимного влияния электрических и механических сил. Предлагается методика расчета энергетических характеристик МЭМП при случайном характере возбуждения. Для двух типов источника возбуждения получены оценки мощности, выделяемой в сопротивлении нагрузки
Найти похожие

10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 91
Автор(ы) : Асташенкова О. Н., Корляков А. В.
Заглавие : Контроль физико-механических параметров тонких пленок
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 2. - С. 24-29: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 29 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мембраны--пленки тонкие--модуль юнга--напряжения механические--свойства тонких пленок--способы измерения механических напряжений
Аннотация: Представлена методика измерения и расчета сжимающих и растягивающих внутренних механических напряжений и модуля Юнга в однослойных и композиционных мембранных структурах на основе тонких пленок различных материалов. Приведены результаты измерения механических напряжений и модуля Юнга пленок различных материалов
Найти похожие

11.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Агеев О. А., Коноплев Б. Г., Рубашкина М. В., Рукомойкин А. В., Смирнов В. А., Солодовник М. С.
Заглавие : Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 27-32: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 32 (16 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): модуль юнга --нанокристаллы gaas нитевидные --параметры геометрические--нанокристаллы--метод атомно-силовой микроскопии--арсенид галлия--нанодиагностика нитевидных структур--нано- и микроэлектроника
Аннотация: Разработана методика определения модуля Юнга ориентированных нитевидных нанокристаллов методом атомно-силовой микроскопии. Представлены результаты исследования влияния геометрических параметров на модуль Юнга ориентированных нитевидных нано-кристаллов арсенида галлия. Экспериментально определено значение модуля Юнга нитевидных нанокристаллов арсенида галлия, которое, в зависимости от их аспектного соотношения, изменялось от 9 до 143 ГПа. Показано, что модуль Юнга нитевидных нанокристаллов GaAs зависит от аспектного соотношения и может превышать значение модуля Юнга объемного GaAs. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов формирования структур нано- и микросистемной техники, нано- и микроэлектроники на основе ориентированных нитевидных нанокристаллов, в частности нанокристаллов арсенида галлия, а также при разработке методик нанодиагностики нитевидных структур
Найти похожие

12.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 17
Автор(ы) : Бакиева Ю. Р., Зверева Г. И., Спирин М. Г., Крестинин А. В.
Заглавие : Абсорбционная ИК-спектроскопия как метод измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок в углеродных наноматериалах
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т.8, № 5-6. - С. 78-85: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 85 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанотрубки--нанотрубки однослойные углеродные--ик-спектроскопия абсорбционная --наноматериалы--метод ик-поглощения --осунт--ик-сигнал поглощения --дисперсия--микрокристаллы--ик-измерения --коэффициент экстинкции
Аннотация: Метод ИК-поглощения можно применять для измерения содержания однослойных углеродных нанотрубок (ОСУНТ) в наноматериале (порошок, паста), если выполнены следующие условия: а) во-первых, измеряемый ИК-сигнал поглощения пропорционален концентрации нанотрубок в приготовленной для измерений дисперсии материала в подходящей жидкости и б) во-вторых, в дисперсиях тестируемого образца и выбранного эталона тождественны все другие характеризующие нанотрубки параметры, к которым чувствительна величина ИК-поглощения в полосе S22, а именно: (i) распределение по диаметру нанотрубок; (ii) cоотношение между нанотрубками полупроводникового и металлического типа; (iii) степень агрегации нанотрубок в структуры типа тяжей (пучков); (iv) степень ковалентной функционализации нанотрубок. Представлены данные, показывающие, что в дисперсии нанотрубок заданной концентрации коэффициент экстинкции в ближней ИК-области увеличивается с ростом поперечного размера поглощающих элементов – диаметра нанотрубок и их тяжей. Предложена методика измерений содержания ОСУНТ в материалах очищенных нанотрубок электродугового синтеза с высокой степенью агрегации нанотрубок в микрокристаллы и тяжи. Методика основана на специальном способе приготовления дисперсии наноматериала для ИК-измерений и позволяет получить нанотрубки в дисперсии с существенно более низкой степенью агрегации, чем в исходном образце, и которая слабо зависит от степени агрегации нанотрубок в исходном тестируемом образце
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 51-74/В 55
Автор(ы) : Вишнеков А. В., Ерохин В. В.
Заглавие : Проектирование систем на кристалле: риски и решения
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 10. - С. 49-54. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 54 (6 назв.)
УДК : 51-74
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): проектное решение--система на кристалле--лицо--принимающее решение--критерии оценки качества проектного решения--сф-блок-- ip-блок
Аннотация: Рассматривается методика автоматизированного выбора проектного решения системы на кристалле (СНК) в условиях многокритериальности, основанная на применении методов теории принятия решений. Особое внимание уделяется вопросам построения и анализа иерархии критериев оценки проектного решения СНК с учетом критериев электромагнитной совместимости. Приводится пример расчета ценности альтернативных проектных решений СНК на основе предложенной методики
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 538.9/У 18
Автор(ы) : Уваров И. В., Наумов В. В., Амиров И. И.
Заглавие : Особенности изготовления металлических кантилеверов наноразмерной толщины
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 5-9. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 9 (17 назв.)
УДК : 538.9
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наноэлектромеханические системы--наноконтилевер--плазменное травление--остаточные напряжения--термический отжиг--поверхность
Аннотация: Представлена методика изготовления металлических нанокантилеверов. Кантилеверы имели трехслойную структуру и изготавливались в двух вариантах: Cr/Al/Cr и Ti/Al/Ti. Толщина кантилеверов составляла 40, 80 и 120 нм. Отношение длины кантилевера к толщине достигало 2500. Освобождение кантилеверов выполнялось путем травления жертвенного слоя в плазме SFfi. При изготовлении кантилеверов Cr/Al/Cr применялся вакуумный термический отжиг. Для кантилеверов Ti/Al/Ti важным моментом являлся подбор режима освобождения
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/О-62
Автор(ы) : Сергеичев И. В., Антонов Ф. К., Константинов А. Ю., Ушаков А. Е., Сафонов А. А.
Заглавие : Определение прочности композитных конструкций при наличии технологических деформаций и начальных дефектов типа расслоений
Место публикации : Композиты и наноструктуры. - 2013. - № 3. - С. 15-24: рис., граф. - ISSN 1999-7590. - ISSN 1999-7590
Примечания : Библиогр.: с. 23-24 (8 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): композиционные материалы--термореактивная матрица--технологические дефекты--химическая деформация--температурная деформация--прочность--численное моделирование
Аннотация: Предложена методика оценки прочности элементов конструкций, изготовленных из композиционных материалов (КМ) с термореактивной матрицей при наличии дефектов типа расслоений и технологических деформаций. Для определения последних реализована математическая модель, учитывающая температурную и химическую деформацию, выделение тепла в процессе полимеризации матрицы, изменение свойств матрицы при переходе из сверхэластичного состояния в твердое. Проведено моделирование деформации типовой КМ заготовки с внедренным дефектом типа расслоения. Получена количественная оценка влияния технологических деформаций и начальных размеров дефекта на величину нагрузки, при которой начинается развитие дефекта
Найти похожие

16.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Мухуров Н. И., Ефремов Г. И., Жвавый С. П.
Заглавие : Электростатические микрокоммутаторы. Часть 1. Плоскопараллельные включающие микрокоммутаторы
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 10. - С. 42-48. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 48 (14 назв.)
УДК : 621.382.049.77 + 531:546.621-31
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): электростатические включающие микрокоммутаторы--плоскопараллельная конструкция--формулы расчета основных параметров
Аннотация: Рассмотрены теоретические основы и проведены расчеты параметров электростатических включающих микрокоммутаторов плоскопараллельной конструкции. Применена методика расчета с учетом равенства активных электростатических и реактивных механических сил с разделением в рабочем цикле параметров на постоянные (конструктивная константа) и переменные (базовая функция) составляющие. Получены формулы эффективного вычисления основных параметров
Найти похожие

17.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 38
Автор(ы) : Герман С. В., Иноземцев О. А., Наволокин Н. А., Пудовкина Е. Е., Зуев В. В., Волкова Е. К., Бучарская А. Б., Плескова С. Н., Маслякова Г. Н., Горин Д. А.
Заглавие : Синтез гидрозолей магнетита и оценка их воздействия на живые системы на клеточном и тканевом уровнях при использовании МРТ и морфологических методов исследования
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 128-133: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 133 (56 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наночастица--синтез гидрозолей магнетита --наночастицы магнетита--гранулоциты нейтрофильные --синтез цитрат-стабилизированных гидрозолей магнетита --коэффициенты поглощения наночастиц --метод динамического светорассеяния
Аннотация: Проведено МРТ- и морфологическое исследование тканей внутренних органов и опухоли крыс с привитым раком печени РС-1 при внутрибрюшинном введении гидрозолей магнетита. Отсутствие токсического эффекта низких концентраций наночастиц магнетита(0.325 мг/мл) определено на нейтрофильных гранулоцитах. Описана методика синтеза цитрат-стабилизированных гидрозолей магнетита путем соосаждения солей двух- и трехвалентного железа в присутствии основания. Их электрокинетический потенциал составляет–32±2 мВ при pH = 6.5±0.1. Получено распределение наночастиц магнетита по размерам методом динамического светорассеяния. Средний размер наночастиц магнетита равен 23±6 нм. Измерены спектры поглощения гидрозолей магнетита, получены зависимости оптической плотности от концентрации и рассчитаны молярные коэффициенты поглощения наночастиц магнетита на следующих длинах волн: 532,633, 660 и 785 нм
Найти похожие

18.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Э 45
Автор(ы) : Агафонов А. В., Краев А. С., Давыдова О. И., Захаров А. Г.
Заглавие : Электрореологический эффект в полидиметилсилоксановой суспензии наноразмерного гибридного материала диоксид титана-полипропиленгликоль
Место публикации : Нанотехника. - 2013. - № 1. - С. 105-108: рис. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 108 (8 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материал наноразмерный гибридный --суспензия полидиметилсилоксановая --диоксид титан-полипропиленгликоль--эффект электрореологический --порошок наноразмерный--поле электрическое--тело твердое--свойства физико-химические
Аннотация: Приведены результаты исследования электрореологического эффекта в полидиметилсилоксановых суспензиях с наполнителем в виде наноразмерного порошка органо-неорганического гибрида диоксид титана-полипропиленгликоль. Содержание дисперсной фазы составляло 15 и 30 объемных процентов. Описана методика измерения физико-химических свойств напряжения при растяжении-сжатии жидкофазных материалов в электрических полях напряженностью до 5 кВ/мм. Показано, что 30 об% суспензия гибридного материала диоксид титана-полипропиленгликоль в электрическом поле, напряженностью 4 кВ/мм обладает свойствами твердого тела с пределом текучести около 60 кПа
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.316.8/А 19
Автор(ы) : Аверин И. А., Аношкин Ю. В., Печерская Р. М.
Заглавие : Исследование процессов деградации выходных параметров тензорезистивных структур
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2013. - № 10. - С. 2-4
Примечания : Библиогр.: с. 4 (9 назв.)
ISSN: 1813-8586
УДК : 621.316.8
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): резистивная структура--процесс деградации--ик-фурье--спектрометр--модели--концентрация--сопротивление
Аннотация: Установлены механизмы, вызывающие деградацию выходных параметров тензорезистивных структур во времени. Разработаны методика определения концентрации кислорода в тензорезистивных структурах с использованием Фурье-спектроскопии и модель стабилизации выходных параметров тензорезистивных структур на основе хромоникелевых сплавов
Найти похожие

20.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Морозов М. В., Баталин Г. А., Гареев Б. И., Гильмутдинов А. Х., Тагиров М. С., Салахов М. Х.
Заглавие : Исследование фактора шероховатости поверхности никелевых волокон, синтезированных под влиянием магнитного поля
Место публикации : Нанотехника. - 2012. - № 2. - С. 48-54: рис., табл. - ISSN 1816-4498. - ISSN 1816-4498
Примечания : Библиогр.: с. 54 (27 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): фактор шероховатости--влияние магнитным полем--восстановление гидразином--микро- и нановолокна
Аннотация: Методом восстановления никелевых солей гидразином под влиянием внешнего магнитного поля синтезированы никелевые субмикро- и микроволокна с наношипованной поверхностью. Разработана методика управления морфологией никелевых индивидуальных волокон и волоконных массивов под влиянием внешнего магнитного поля в процессе синтеза. Исследования методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии показывают, что волокна состоят из нанокристаллитов. Полученные продукты могут быть широко применены в химических источниках тока, электрохимических сенсорах, катализе, магнитной записи, экранах электромагнитного излучения
Найти похожие

 1-20    21-40   41-57 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика