Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/C 74
Заглавие : Second Conference of the Asian Consortium for Computational Materials Science "ACCMS-2", Novosibirsk, Russia, July 14-16, 2004 : program abstracts
Выходные данные : Novosibirsk: [Nicolaev Institute of Inorganic Chemistry SB RAS], 2004
Колич.характеристики :179 с.: ил.
Коллективы : Conference of the Asian Consortium for Computational Materials Science "ACCMS-2" (2;2004;Novosibirsk)
Примечания : Указ.: с. 176-179
Цена : 50.00 р.
ББК : 623с116я431(0)
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): компьютеры (материаловедение)--материаловедение (исследования компьютерные)--материалы (методы анализа)--микроструктура сплавов--наноструктуры (исследования)
Экземпляры :ИМЕТ(1)
Свободны : ИМЕТ(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/L 82
Автор(ы) : Liu, Wing Kam, Karpov, Eduard G., Park, Harold S.
Заглавие : Nano Mechanics and Materials. Theory, Multiscale Methods and Applications : научное издание
Выходные данные : Chichester [et al.]: John Wiley & Sons, 2006
Колич.характеристики :XIII, 320, [2] вкл. л. ил. с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 301-313. - Указ.: с. 315-320
ISBN, Цена 0-470-01851-8: 3518.00 р.
ГРНТИ : 81.09 + 29.29
ББК : 623.7 + 536
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ -- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
ФИЗИКА-- МОЛЕКУЛЯРНАЯ ФИЗИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 57/N 74
Автор(ы) : Nolting, Bengt
Заглавие : Methods in Modern Biophysics : научное издание
Выходные данные : Berlin [et al.]: Springer, 2004
Колич.характеристики :XIV, 254 с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 213-243. - Указ.: с. 245-254
ISBN, Цена 3-540-01297-4: 1288.00 р.
ГРНТИ : 34.01
ББК : 570.71
Предметные рубрики: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ОБЩАЯ БИОЛОГИЯ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биофизика (исследования)--спектрометрия (методы анализа)--микроскопия электронная (биофизика)--нанотехнологии (биофизика)
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 28
Автор(ы) : Адамов Д. Ю.
Заглавие : Синхронизация, связь и помехоустойчивость в микросхемах для информационных сетей
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 12. - С. 38-44: рис.
Примечания : Библиогр. : с. 44 (20 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): резонансный контур--синхронизация--помехоустойчивость--информационные сети--допустимые отклонения--связность сигнала--восстановление--кольцевой генератор--дерево синхронизации--система на кристалле--система в корпусе--нанометровые технологии
Аннотация: Помехоустойчивость является основным фактором, определяющим производительность СБИС для информационных сетей. В статье описаны новые метода синхронизации и передачи сигналов. используемые при разработке интегральных схем по нанометровым технологиям. Такие методы системного уровня как восстановление сигналов, последовательная передача данных и блоковая синхронизация теперь должны использоваться на уровне микросхем.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 28
Автор(ы) : Адамов Ю. Ф., Горшкова Н. М., Сибагатуллин А. Г., Сомов О. А.
Заглавие : Адаптивная коррекция параметров функциональных блоков в системах на кристалле
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 6. - С. 44-50: граф., рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 50 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Методы адаптивной коррекции функциональных блоков позволяют уменьшить зависимость их выходных параметров от технологического разброса параметров транзисторов, подавить инжекцию электронов в подложку при переключении мощных токовых ключей, снизить перекрестные помехи в линиях связи
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Б 43
Автор(ы) : Белозубов Е. М., Белозубова Н. Е.
Заглавие : Методы и средства минимизации влияния нестационарных температур в МЭМС-структурах тонкопленочных тензорезисторных датчиков давления
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 3. - С. 28-34: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 34 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): мэмс-структура--датчики давления--тензорезисторы
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 57/Б 86
Автор(ы) : Бочарова, Татьяна Викторовна, Власова, Анна Николаевна
Заглавие : Биологические наноструктуры. Методы зондовой микроскопии : учеб. пособие для вузов
Выходные данные : СПб.: Издательство Политехнического университета, 2013
Колич.характеристики :275 с
Коллективы : Санкт-Петерб. гос. политехн. ун-т, Национальный исследовательский ун-т
Серия: Приоритетный национальный проект "Образование"
Примечания : Библиогр.: с. 274-275
ISBN, Цена 978-5-7422-4009-9: 385.00 р.
ГРНТИ : 34.17 + 34.53
ББК : 570.71я73 + Ж16я73
Предметные рубрики: БИОЛОГИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ОБЩАЯ БИОЛОГИЯ
ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- БИОНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/В 16
Автор(ы) : Валянский, Сергей Иванович, Наими, Евгений Кадырович
Заглавие : Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазменной микроскопии : учебное пособие
Выходные данные : М.: Изд. Дом МИСиС, 2011
Колич.характеристики :172 с
Коллективы : Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС"., Каф. физики
Серия: Национальный исследовательский технологический университет МИСиС; № 2055
ISBN, Цена 978-5-87623-460-5: 234.08 р.
ГРНТИ : 29.19
ББК : 539.24я73
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 621.3/В 19
Автор(ы) : Васильев В. А., Орехов Д. О., Чернов П. С.
Заглавие : Современные методы моделирования нано-и микроразмерных систем
Место публикации : Нано- и микросистемная техника. - 2013. - № 11. - С. 10-14. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 14 (22 назв.)
УДК : 621.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нано- и микроструктуры--нано- и микроэлектромеханические системы--моделирование--математические методы--квантовая физика--классическая физика
Аннотация: Рассмотрены основные методы моделирования нано- и микроразмерных систем. Раскрыта суть, показаны достоинства и недостатки описанных методов, области их применения. Приведены примеры численной реализации
Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/В 24
Автор(ы) : Аракелян, Сергей Сартирсович, Кучерик, Алексей Олегович, Прокошев, Валерий Григорьевич, Рау, Валерий Георгиевич, Сергеев, Алеексей Георгиевич
Заглавие : Введение в фемтонанофотонику: фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов : учеб. пособие для вузов по спец. "Оптотехника", "Лазерная техника и лазерные технологии"
Выходные данные : Москва: Логос, 2015
Колич.характеристики :743 с.: рис.
Примечания : Авт. указаны на обороте тит. л.
ISBN, Цена 978-5-98704-812-2: 1114.00 р.
ГРНТИ : 29.19
ББК : 539.2я73
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Оглавление
Найти похожие

11.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/В 26
Автор(ы) : Векилова, Галина Владимировна, Иванов, Александр Николаевич, Ягодкин, Юрий Дмитриевич
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учебное пособие
Выходные данные : М.: Изд. Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :144 с.: фот.
Коллективы : Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС", Каф. физического материаловедения
Серия: Национальный исследовательский технологический университет МИСиС; № 1296
ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: 179.08, 179.08, р.
ГРНТИ : 81.09 + 29.19
ББК : 623.7я73 + 539.2я73
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ-- СЫРЬЕ
ФИЗИКА-- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА-- КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

12.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : Ж6/В 48
Автор(ы) : Винников В. П., Генералов М. Б.
Заглавие : Методы получения нанодисперсных порошков
Выходные данные : Санкт-Петербург: Профессия, 2016
Колич.характеристики :234[1] с
Примечания : Библиогр.: с. 233-235
ISBN, Цена 978-5-91884-085-6: 1000.00 р.
ГРНТИ : 81.13
ББК : Ж6
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ОБЩАЯ ТЕХНОЛОГИЯ-- ОСНОВЫ ПРОМЫШЛЕННОГО ПРОИЗВОДСТВА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Оглавление
Найти похожие

13.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 49
Автор(ы) : Виноградов А. В., Виноградов В. В., Агафонов А. В.
Заглавие : Получение высокоактивных гетероструктур TiO 2-CuO методом «мягкой химии», обладающих высокой фотоактивностью и магнитными свойствами
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2012. - Т. 7, № 11-12. - С. 53-56: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 56 (14 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): фотоактивность--гетероструктуры высокоактивные--свойства магнитные--кристаллиты диоксида титана наноразмерные--гетероструктуры tio 2-cuo--методы динамического светорассеяния и сканирующей зондовой микроскопии --наночастицы--пленки гетероструктурные
Аннотация: Гетероструктуры на основе оксидов TiO 2 и CuO представляют интерес в качестве пленочных фотокатализаторов, материалов спин-троники, сенсорики и др. В данной работе предложен новый подход к получению наноразмерных кристаллитов диоксида титана анатаз-брукитной модификации и нанокомпозита диоксида титана с оксидом меди (II), позволяющий получать фотоактивные покрытия. Особенностью предлагаемого подхода, основанного на золь-гель превращениях и взаимодействии компонентов многофазной коллоидной системы, является возможность получения хорошо окристаллизованных материалов при близкой к комнатной температуре без использования стадии прокаливания. Методами динамического светорассеяния и сканирующей зондовой микроскопии исследованы структурные изменения, происходящие при взаимодействии наночастиц TiO 2 и CuO в процессе синтеза. Получены спектры поглощения в УФ- и видимой области пленок TiO 2 и СuO, нанесенных на полимерную подложку методом погружения, а также смещение спектральной активности гетероструктурных покрытий TiO 2/CuO. Методом магнитно-силовой микроскопии исследованы магнитные области гетероструктурных пленок
Найти похожие

14.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 58
Автор(ы) : Чумаков А. П., Росляков И. В., Напольский К. С., Елисеев А. А., Лукашин А. В., Eckerlebe H., Bouwman W. G., Белов Д. В., Окороков А. И., Григорьев С. В.
Заглавие : Влияние микроструктуры подложки на продольную корреляционную длину пористой системы анодного оксида алюминия: исследование методами малоугловой дифракции
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 9-10. - С. 54-60: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 60 (26 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроструктура--методы малоугловой дифракции--алюминий--пластина--мембраны синтезированные--кислота--пленка пористая оксидная--корреляция--нейтрон
Аннотация: Методами малоугловой дифракции нейтронов и синхротронного излучения исследованы три серии мембран анодного оксида алюминия. Образцы получены окислением алюминиевых пластин с использованием серной и щавелевой кислот при различных напряжениях и отличаются величиной расстояния между порами. В результате экспериментов по малоугловой дифракции установлена линейная зависимость между средним размером зерна исходной алюминиевой пластины и средней прямолинейностью пор синтезированных мембран. Обнаруженная корреляция обусловлена влиянием кристаллографической ориентации зерен исходной алюминиевой пластины на рост пористой оксидной пленки
Найти похожие

15.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/В 93
Автор(ы) : Щеглов Д. В., Косолобов С. С., Федина Л. И., Родякина Е. Е., Гутаковский А. К., Ситников С. В., Кожухов А. С., Загарских С. А., Копытов В. В., Ефграфов В. И., Шувалов Г. В., Матвейчук В. Ф., Латышев А. В.
Заглавие : Высокоточные меры линейных размеров в нанодиапазоне
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 7-8. - С. 84-94: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 94 (84 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанодиапазон--поверхность атомно-структурированная кристаллическая--кристалла--«степп-ифп-1»--средства измерений --размеры линейные
Аннотация: В статье проанализированы современные литографические методы создания мер нанометрового диапазона размеров и основные лимитирующие факторы применения таких мер. Показана перспективность создания высокоточных мер на основе атомно-структурированной кристаллической поверхности (содержащей моноатомные ступени), параметры которых привязаны (обеспечивают прослеживаемость размера длины) к кристаллографическим параметрам кристалла. Предложен метод создания таких мер, основанный на управлении морфологией поверхности монокристаллического кремния на атомном уровне за счет использования эффектов самоорганизации, возникающих на атомно-чистой поверхности при прогреве в сверхвысоком вакууме. Представлено описание комплекта высокоточных мер вертикальных размеров «СТЕПП-ИФП-1» в диапазоне размеров 0.31–31 нм с погрешностью во всем интервале измерений менее 0.05 нм. Разработанный комплект высокоточных мер после проведения государственных испытаний внесен в государственный реестр средств измерений как тип средства измерений № 48115-11 (Приказ Росстандарта № 6290 от 31.10.2011 г.)
Найти похожие

16.

Вид документа :
Шифр издания : 620.3/Г 12
Автор(ы) : Гавриленко В. П., Тодуа П. А.
Заглавие : Нанометрология – ключевое звено инфраструктуры нанотехнологий
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 5-6. - С. 47-55: рис.
Примечания : Библиогр.: с. 55 (19 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): нанометрология --наночастиц--наноструктур--нанопокрытия--пленки--микроскопия атомно-силовая--методы спектроскопической эллипсометрии
Аннотация: Размерные параметры наночастиц, наноструктур, нанопокрытий являются определяющими в характеризации объектов нанотехнологий. Одно из важнейших направлений нанометрологии – обеспечение единства измерений в нано- и субнанометровом диапазонах. Представлены новые типы кремниевых тест-объектов, обеспечивающих прослеживаемость размерных измерений к единице длины в системе СИ методами растровой и просвечивающей электронной микроскопии, атомно-силовой микроскопии. Приведены результаты измерений толщин пленки окисла кремния методами спектроскопической эллипсометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Рассмотрены метрологические аспекты стандартизации в нанотехнологиях
Найти похожие

17.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 539.2/Г 32
Автор(ы) : Гельчинский, Борис Рафаилович, Мирзоев, Александр Аминулаевич, Воронцов , Александр Геннадьевич
Заглавие : Вычислительные методы микроскопической теории металлических расплавов и нанокластеров
Выходные данные : М.: Физматлит, 2011
Колич.характеристики :196 с
Примечания : Библиогр. в конце гл.
ISBN, Цена 978-5-9221-1334-2: 236.00 р.
ГРНТИ : 29.19
ББК : 539.281.2
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ФИЗИКА МЕТАЛЛОВ И МЕТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВОВ-- МЕТАЛЛОФИЗИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

18.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 661/Г 34
Автор(ы) : Генералов М. Б.
Заглавие : Основные процессы криохимической нанотехнологии. (Теория и методы расчета) : учеб. пособие для вузов
Выходные данные : СПб.: Профессия, 2010
Колич.характеристики :348,[3] с.: граф., рис., табл.
Коллективы : ЦОП "Профессия"
Примечания : К 90-летию Моск. гос. ун-та инженерной экологии (МИХМ)
ISBN, Цена 978-5-91884-001-6: 378.00 р.
ГРНТИ : 61.13.21
ББК : 661.233.3я73 + 623.7я73
Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКАЯ ТЕХНОЛОГИЯ-- ОСНОВНЫЕ ПРОЦЕССЫ И АППАРАТЫ ХИМИЧЕСКОЙ ТЕХНОЛОГИИ
ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

19.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Г 82
Автор(ы) : Грибанов Е. Н., Марков О. И., Хрипунов Ю. В.
Заглавие : Когда висмут становится полуметаллом?
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2011. - Т. 6, № 9-10. - С. 89-91: рис. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр. : с. 91 (13 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: В статье приводятся результаты расчетов квантовохимическими методами структуры и энергетических параметров нанокластеров висму- та. Определены энергетические характеристики кластеров Big, Bi18, Bi50, Bi98, Bi162
Найти похожие

20.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 541.1/Г 96
Автор(ы) : Гусев, Александр Иванович
Заглавие : Нанокристаллические материалы: методы получения и свойства
Выходные данные : Екатеринбург, 1998
Колич.характеристики :198, [1] с.: ил., табл.
Коллективы : Институт твердого тела УрО РАН
Примечания : Библиогр.: с. 178-199
ISBN, Цена 5-7691-0770-7: 20.00, 18.00, 10.00, р.
ГРНТИ : 31.15.19 + 53.01
ББК : 541.171 + 669.390.1-1
Предметные рубрики: ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
ТЕХНОЛОГИЯ МЕТАЛЛОВ. МАШИНОСТРОЕНИЕ. ПРИБОРОСТРОЕНИЕ-- МЕТАЛЛУРГИЯ
Экземпляры : всего : кх(2), бр.ф.(1), ИМЕТ(1)
Свободны : кх(2), бр.ф.(1), ИМЕТ(1)
\\Cserver\polnotext\nanomaterials.djvu
Найти похожие

1-20 21-40 41-60 61-80 81-100

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)