Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (195)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (4)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (11)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (74)Публикации об УрО РАН (2)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МЕТРОЛОГИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-12 
1.

Бухараев А. А. АСМ-метрология наночастиц, полученных электрохимическим осаждением /А. А. Бухараев, С. А. Зиганшина, А. П. Чукланов // Российские нанотехнологии, 2010. т.Т. 5,N № 5-6 .-С.87-94
2.

Лич Р. К. Инженерные основы измерений нанометровой точности/Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - 2012
3.

Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2010
4.

Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии/под ред. В. Н. Крутикова. - 2011
5.

Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2007
6.

Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях/под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - 2009
7.

Окрепилов В. В. Качество в нанотехнологиях : роль метрологии и стандартизации/В. В. Окрепилов // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 7.-С.2-6
8.

Раткин Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 5.-С.2-6
9.

Раткин Л. С. Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.2-3
10.

Раткин Л. С. Синхротронные и нейтронные исследования наносистем/Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника, 2014. т.№ 1.-С.3-6
 1-10    11-12 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика