Поисковый запрос: (<.>K=МЕТРОЛОГИЯ<.>) |
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Инвентарный номер: 214280 - пф. 621 С 32
Сергеев, Алексей Георгиевич. Нанометрология [] : монография / А. Г. Сергеев. - М. : Логос, 2012. - 413 с. : рис. - Библиогр.: с. 409-413. - ISBN 978-5-98704-494-0 : 457.60 р. Прил.: с. 397-408ББК 621.0 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет. Р 76
Российские стандарты для измерений линейных размеров в нанотехнологиях / А. Кузин [и др.]> // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 30-35 : ил. - Библиогр. : с. 35 (12 назв.)
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- ПЕРВИЧНЫЕ ЭТАЛОНЫ
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: нет. Р 25
Раткин, Л. С. Синхротронные и нейтронные исследования наносистем / Л. С. Раткин> // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 1. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (2 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК (РАН) -- НЕЙТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- СИНХРОТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ФУНКЦИОНАЛИЗИРУЕМЫЕ ПОЛИЭЛЕКТРОЛИТНЫЕ КАПСУЛЫ -- МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- МИКРО- И НАНОТЕХНОЛОГИИ Аннотация: При поддержке Международной ассоциации государственных академий наук и Российской академии наук (РАН) с 2008 года в Объединенном институте ядерных исследований в Дубне, НИЦ "Курчатовский институт" и Институте кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН проводятся ежегодные летние высшие курсы стран СНГ для молодых ученых, аспирантов и студентов старших курсов по современным методам исследования наносистем и материалов "Синхротронные и нейтронные исследования наносистем" ("СИН-нано"). Цикл лекций был прочитан сотрудниками академических институтов, академиками и членами-корреспондентами РАН. Особое внимание в выступлениях, в частности, уделялось взаимодополняемости нейтронного и синхротронного излучения при исследовании наносистем и материалов, методам получения функционализированных полиэлектролитных капсул, метрологии и стандартизации в микро- и нанотехнологиях.
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет. Р 25
Раткин , Л. С. Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике / Л. С. Раткин > // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - Библиогр. : с. 3 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: нет. Р 25
Раткин , Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники / Л. С. Раткин > // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - Библиогр. : с. 6 (18 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МЕТРОЛОГИЯ -- МЕТРОЛОГИЯ РАЗМЕРНАЯ -- АСМ -- РЭМ Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет. О-51
Окрепилов, В. В. Качество в нанотехнологиях : роль метрологии и стандартизации / В. В. Окрепилов> // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 7. - С. 2-6 : рис., табл. - Библиогр. : с. 6 (2 назв.)
ББК 623.7 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ Кл.слова (ненормированные): МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: 207960 - ч/з. 623 Н 25
Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях [] : [терминол. словарь] / под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа. - М. : Техносфера, 2009. - 135,[1] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 134-135. - ISBN 978-5-94836-229-8 : 339.00 р.ББК 623.7я21 + 621.0я21 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СЛОВАРИ ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--СЫРЬЕ--МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет. 62 М 59ГОСТ Р 8.630-2007
Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). - ББК 62я861 + 621.0я861 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: 218717 - пф. Ж1 М 54
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.ББК Ж10я73 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: нет. 62 М 54ГОСТ Р 8.700-2010
Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [] : ГОСТ Р 8.700-2010 : нац. стандарт российской федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 05.04.2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 11 с. - Библиогр.: с. 11. - ББК 62я861 + 621.0я861 Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ
Найти похожие
|
|
|