Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (195)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (4)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (11)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (74)Публикации об УрО РАН (2)Интеллектуальная собственность (статьи из периодики) (1)Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МЕТРОЛОГИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-12 
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - Библиогр. : с. 6 (18 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МЕТРОЛОГИЯ -- МЕТРОЛОГИЯ РАЗМЕРНАЯ -- АСМ -- РЭМ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов

Найти похожие
2.
Инвентарный номер: нет.
   
   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - Библиогр. : с. 3 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике

Найти похожие
3.
Инвентарный номер: нет.
   
   Р 25

    Раткин, Л. С.
    Синхротронные и нейтронные исследования наносистем / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника. - 2014. - № 1. - С. 3-6. - Библиогр.: с. 6 (2 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
623.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК (РАН) -- НЕЙТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- СИНХРОТРОННОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ФУНКЦИОНАЛИЗИРУЕМЫЕ ПОЛИЭЛЕКТРОЛИТНЫЕ КАПСУЛЫ -- МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- МИКРО- И НАНОТЕХНОЛОГИИ
Аннотация: При поддержке Международной ассоциации государственных академий наук и Российской академии наук (РАН) с 2008 года в Объединенном институте ядерных исследований в Дубне, НИЦ "Курчатовский институт" и Институте кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН проводятся ежегодные летние высшие курсы стран СНГ для молодых ученых, аспирантов и студентов старших курсов по современным методам исследования наносистем и материалов "Синхротронные и нейтронные исследования наносистем" ("СИН-нано"). Цикл лекций был прочитан сотрудниками академических институтов, академиками и членами-корреспондентами РАН. Особое внимание в выступлениях, в частности, уделялось взаимодополняемости нейтронного и синхротронного излучения при исследовании наносистем и материалов, методам получения функционализированных полиэлектролитных капсул, метрологии и стандартизации в микро- и нанотехнологиях.

Найти похожие
4.
Инвентарный номер: нет.
   62
   М 59ГОСТ Р 8.630-2007

   
    Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -
ГРНТИ
90.03.37
ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие
5.
Инвентарный номер: нет.
   62
   М 54ГОСТ Р 8.700-2010

   
    Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа [] : ГОСТ Р 8.700-2010 : нац. стандарт российской федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 05.04.2010. - М. : Стандартинформ, 2010. - 11 с. - Библиогр.: с. 11. -
ГРНТИ
90.03.37
ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие
6.
Инвентарный номер: нет.
   
   О-51

    Окрепилов, В. В.
    Качество в нанотехнологиях : роль метрологии и стандартизации / В. В. Окрепилов // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 7. - С. 2-6 : рис., табл. - Библиогр. : с. 6 (2 назв.)
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ

Найти похожие
7.
Инвентарный номер: нет.
   
   Р 76

   
    Российские стандарты для измерений линейных размеров в нанотехнологиях / А. Кузин [и др.] // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - С. 30-35 : ил. - Библиогр. : с. 35 (12 назв.) . - ISSN 1993-8578
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- ПЕРВИЧНЫЕ ЭТАЛОНЫ

Найти похожие
8.
Инвентарный номер: нет.
   
   Б 94

    Бухараев, А. А.
    АСМ-метрология наночастиц, полученных электрохимическим осаждением / А. А. Бухараев, С. А. Зиганшина, А. П. Чукланов // Российские нанотехнологии. - 2010. - Т. 5, № 5-6 . - С. 87-94 : рис. - Библиогр. : с. 94 (19 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
АСМ-МЕТРОЛОГИЯ НАНОЧАСТИЦ -- ЭФФЕКТ КОНВОЛЮЦИИ -- ОСАЖДЕНИЕ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОЕ
Аннотация: В данной работе рассматривается проблема получения на основании данных атомно-силовой микроскопии (АСМ) достоверной информации о распределении по размерам наночастиц, лежащих на неровной поверхности или слипшихся между собой. Предлагается метод для уменьшения искажающего влияния упомянутых выше факторов. Приводятся результаты моделирования, показывающие работоспособность разработанного алгоритма, а также результаты обработки экспериментальных АСМ-изображений наночастиц Ni, проявляющих каталитическую активность при электроокислении этанола. Оценивается влияние эффекта конволюции на наблюдаемые размеры и площадь наночастиц

Найти похожие
9.
Инвентарный номер: 218717 - пф.
   Ж1
   М 54

   
    Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии [] : учебное пособие для вузов / под ред. В. Н. Крутикова. - М. : Логос, 2011. - 590 с. - ISBN 978-5-98704-613-5 : 1100.00 р.
ГРНТИ
90
ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие
10.
Инвентарный номер: 220579 - пф.
   Ж1
   Л 66

    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности [] : учебное пособие / Р. К. Лич ; пер. c англ. А.В Заболоцкого. - Долгопрудный : Интеллект, 2012. - 399 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Fundamental Principles of Engineering Nanometrology / R. Leach. - New York, 2010. - ISBN 978-5-91559-119-5 : 1633.00 р.
ГРНТИ
90
ББК Ж10я73
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

  Оглавление
Найти похожие
 1-10    11-12 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика