Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (3)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/П 54
Автор(ы) : Поляков В. В.
Заглавие : Метод компенсации паразитной емкости в сканирующей емкостной микроскопии
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 9. - С. 6-10: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 10 (10 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 27
Автор(ы) : Карташев В. А., Карташев В. В.
Заглавие : Определение формы и размера острия иглы туннельного микроскопа
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 10 . - С. 7-10: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 10 (6 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): форма острия иглы--микроскоп туннельный--микроскопия зондовая
Аннотация: Описывается пакет программ для определения геометрии острия иглы туннельного микроскопа путем интерпретации измерений рельефа исследуемой поверхности с учетом физической модели процесса сканирования. На примерах показано, что применение разработанных программных средств позволяет определить размеры острия иглы с точностью до долей нанометра
Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/П 53
Заглавие : Получение и исследование наноструктур : лабораторный практикум по нанотехнологиям
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010
Колич.характеристики :146 с
Серия: Нанотехнологии
Примечания : Библиогр.: с. 143-146
ISBN, Цена 978-5-9963-0028-4: 240.00 р.
ГРНТИ : 29.19.22
ББК : 623.7я7-5
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/С 74
Заглавие : Справочник по микроскопии для нанотехнологии : справочное издание
Выходные данные : М.: Научный мир, 2011
Колич.характеристики :711 с
Коллективы : МГУ им. М. В. Ломоносова, Научно-образоват. центр по нанотехнологиям
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники
Перевод издания: Handbook of microscopy for nanotechnology. -Boston [et al.], 2005
Примечания : Библиогр.: с. 692-693. - Предм. указ.: с. 702-711
ISBN, Цена 978-5-91522-232-7: 2000.00 р.
ГРНТИ : 29.19.22
ББК : 623.7я22
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :ч/з(1)
Свободны : ч/з(1)
Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 623/П 53
Заглавие : Получение и исследование наноструктур : лабораторный практикум по нанотехнологиям : учеб. пособие
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011
Колич.характеристики :146 с
Серия: Нанотехнологии
Примечания : Библиогр.: с. 143-146
ISBN, Цена 978-5-9963-0228-4: 287.50 р.
ГРНТИ : 29.19.22
ББК : 623.7я7-5
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- СЫРЬЕ-- МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие

6.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/К 27
Автор(ы) : Карташев В. А.
Заглавие : Визуализация рельефа поверхности в зондовой микроскопии
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2012. - № 10. - С. 2-4. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 4 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроскопия зондовая--обеспечение программное--метод градиентной закваски--визуализация измерений
Аннотация: Приводится решение задачи выбора такой подстилающей плоскости, относительно которой исследуемая поверхность имеет наименьший перепад высот. Проекция измерений на эту плоскость обеспечивает наилучшие условия для визуализации мельчайших объектов методом градиентной закраски. Предлагаемый метод позволяет получать более четкие изображения по сравнению с методом наименьших квадратов, традиционно используемым для выбора подстилающей плоскости в штатном программном обеспечении зондовых микроскопов
Найти похожие

 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика