Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (75)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)Публикации об УрО РАН (4)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-38 
1.

Гаврилов С. А. Электрохимические процессы в технологии микро- и наноэлектроники/С. А. Гаврилов, А. Н. Белов. - 2014
2.

Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике/А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - 2011
3.

Барыбин А. А. Физико-технологические основы макро-, микро- и наноэлектроники/А. А. Барыбин, В. И. Томилин, В. И. Шаповалов ; под общ. ред. А. А. Барыбина. - 2011
4.

Мухин Д. Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии/Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия, 2008. т.№ 3.-С.30-35
5.

Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ/В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия, 2008. т.№ 6.-С.22-26
6.

Тягунов О. А. Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем/О. А. Тягунов // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 3.-С.19-25
7.

Раткин Л. С. Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.2-3
8.

Штенников В. Н. Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки/В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.18-20
9.

Раткин Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 5.-С.2-6
10.

Таперо К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения/К. И. Таперо. - 2011
 1-10    11-20   21-30   31-38 
 

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика