Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1.
| Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники /Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.17-23
|
2.
| Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
|
3.
| Штенников В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки /М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.30-32
|
4.
| Штенников В. Н. Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки/В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.18-20
|
5.
| ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению/Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия, 2009. т.№ 3
|
6.
| Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2007
|
7.
| Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии /О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 1-2.-С.27-32
|
8.
| Раткин Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 5.-С.2-6
|
9.
| Соловьев В. В. Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности /В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№12.-С.10-14
|
10.
| Раткин Л. С. Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.2-3
|
|
|