Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
| Инвентарный номер: нет.
Ш 89
Штенников, В. Н.
Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО
Найти похожие
|
2.
| Инвентарный номер: нет.
А 94
Штенников, В. Н.
Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
3.
| Инвентарный номер: 208686 - кх.
648.4
В 24
Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : [учеб. изд.] : в двух т. / [ред. Ю. Н. Коркишко]. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-9.
Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010. - 392 с. : граф., рис., табл. - Библиогр.: с. 386-389. - ISBN 978-5-9963-0335-9 : 360.00 р.ББК 648.441я73
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
4.
| Инвентарный номер: нет.
Т 99
Тягунов , О. А.
Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем [Текст] / О. А. Тягунов // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 3. - С. 19-25 : рис. - Библиогр.: с. 25 (15 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОМЕХАНИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Найти похожие
|
5.
| Инвентарный номер: 213472 - кх.
648.4
Т 18
Таперо, Константин Иванович.
Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения [] : курс лекций / К. И. Таперо ; Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС", Каф. полупроводниковой электроники и физики полупроводников. - М. : Изд. Дом МИСиС, 2011. - 251 с. - (Национальный исследовательский технологический университет МИСиС ; № 1896). - Библиогр.: с. 249-251. - ISBN 978-5-87623-415-5 : 236.94 р.ББК 648.441я73-2
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
Найти похожие
|
6.
| Инвентарный номер: нет.
С 60
Соловьев, В. В.
Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности [] / В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14 : рис. - Библиогр. : с. 14 (5 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЛЕЙКОСАПФИР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- КВАЗИПЛАС ОБРАБОТКА КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ ПОВЕРХНОСТНАЯ -- ПОДЛОЖКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность
Найти похожие
|
7.
| Инвентарный номер: нет.
Р 76
Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ [] / В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26 : рис. - Библиогр. : с. 26 (10 назв.)
. - ISSN 1993-8578ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
8.
| Инвентарный номер: нет.
Р 25
Раткин , Л. С.
Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - Библиогр. : с. 3 (3 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике
Найти похожие
|
9.
| Инвентарный номер: нет.
Р 25
Раткин , Л. С.
Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - Библиогр. : с. 6 (18 назв.)
. - ISSN 1813-8586ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МЕТРОЛОГИЯ -- МЕТРОЛОГИЯ РАЗМЕРНАЯ -- АСМ -- РЭМ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов
Найти похожие
|
10.
| Инвентарный номер: 217572 - кх; 217573 - кх.
648.4
Н 25
Нанотехнологии в электронике [Текст] / под ред. Ю. А. Чаплыгина. - М. : Техносфера, 2013 - . - (Мир электроники). - Памяти акад. РАН Юрия Васильевича Копаева посвящ.
Вып. 2. - 2013. - 686 с. - ISBN 978-5-94836-353-0 : 1072.50 р., 1015.00 р.ББК 648.441
Рубрики: ФИЗИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных