Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (75)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)Публикации об УрО РАН (4)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-38 
1.
Инвентарный номер: нет.
   
   М 74

   
    Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники / Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23 : рис., табл. - Библиогр. : с. 23 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ТВЕРДЫЕ -- ОБРАБОТКА ПОВЕРХНОСТНАЯ КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах

Найти похожие
2.
Инвентарный номер: нет.
   62
   Г 72ГОСТ 8.593-2009

   
    Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки [] : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт / Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - Офиц. изд. - Введ. с 11.11.2009. - М. : Стандартинформ, 2010. - 7 с. -
ГРНТИ
90.03.37
90.03.37
ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие
3.
Инвентарный номер: нет.
   
   А 94

    Штенников, В. Н.
    Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции

Найти похожие
4.
Инвентарный номер: нет.
   
   Ш 89

    Штенников, В. Н.
    Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.) . - ISSN 1813-8586
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО

Найти похожие
5.
Инвентарный номер: нет.
   
   A 31

   
    ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению / Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12. : ил. . - ISSN 1993-8578
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОЛЕКУЛЯРНАЯ СБОРКА -- СВЕРХТОНКИЕ ПЛЕНКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Найти похожие
6.
Инвентарный номер: нет.
   62
   М 59ГОСТ Р 8.630-2007

   
    Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -
ГРНТИ
90.03.37
ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие
7.
Инвентарный номер: нет.
   
   И 88

   
    Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии / О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник // Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 27-32 : рис., табл. - Библиогр.: с. 32 (16 назв.) . - ISSN 1992-7223
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МОДУЛЬ ЮНГА -- НАНОКРИСТАЛЛЫ GAAS НИТЕВИДНЫЕ -- ПАРАМЕТРЫ ГЕОМЕТРИЧЕСКИЕ -- НАНОКРИСТАЛЛЫ -- МЕТОД АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ -- АРСЕНИД ГАЛЛИЯ -- НАНОДИАГНОСТИКА НИТЕВИДНЫХ СТРУКТУР -- НАНО- И МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: Разработана методика определения модуля Юнга ориентированных нитевидных нанокристаллов методом атомно-силовой микроскопии. Представлены результаты исследования влияния геометрических параметров на модуль Юнга ориентированных нитевидных нано-кристаллов арсенида галлия. Экспериментально определено значение модуля Юнга нитевидных нанокристаллов арсенида галлия, которое, в зависимости от их аспектного соотношения, изменялось от 9 до 143 ГПа. Показано, что модуль Юнга нитевидных нанокристаллов GaAs зависит от аспектного соотношения и может превышать значение модуля Юнга объемного GaAs. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов формирования структур нано- и микросистемной техники, нано- и микроэлектроники на основе ориентированных нитевидных нанокристаллов, в частности нанокристаллов арсенида галлия, а также при разработке методик нанодиагностики нитевидных структур

Найти похожие
8.
Инвентарный номер: нет.
   
   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - Библиогр. : с. 6 (18 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МЕТРОЛОГИЯ -- МЕТРОЛОГИЯ РАЗМЕРНАЯ -- АСМ -- РЭМ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов

Найти похожие
9.
Инвентарный номер: нет.
   
   С 60

    Соловьев, В. В.
    Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности [] / В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14 : рис. - Библиогр. : с. 14 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЛЕЙКОСАПФИР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- КВАЗИПЛАС ОБРАБОТКА КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ ПОВЕРХНОСТНАЯ -- ПОДЛОЖКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность

Найти похожие
10.
Инвентарный номер: нет.
   
   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - Библиогр. : с. 3 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586
УДК
620.3
ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике

Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-38 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика