Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 10 |
|
1. 
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--сборка--микроэлектроника--мст--пайка--качество
Найти похожие
|
2.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 94
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): температура пайки--микроэлектроника--прибор
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
|
3.
|
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 648.4/В 24
Автор(ы) : Чистяков, Юрий Дмитриевич, Райнова, Юлия Петровна
Заглавие : Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий: [учеб. изд.] : в двух т./ [ред. Ю. Н. Коркишко]. - (Нанотехнологии). Т. 1: Физико-химические основы технологии микроэлектроники
Выходные данные : М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010
Колич.характеристики :392 с.:
граф., рис., табл.
Примечания : Библиогр.: с. 386-389
ISBN, Цена 978-5-9963-0335-9: 360.00 р.
ГРНТИ : 47
ББК : 648.441я73
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
|
4.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Т 99
Автор(ы) : Тягунов О. А.
Заглавие : Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 3. - С. 19-25: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр.: с. 25 (15 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): наномеханические элементы--микроэлектроника
Найти похожие
|
5.
|
Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 648.4/Т 18
Автор(ы) : Таперо, Константин Иванович
Заглавие : Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения
: курс лекций
Выходные данные : М.: Изд. Дом МИСиС, 2011
Колич.характеристики :251 с
Коллективы :
Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС", Каф. полупроводниковой электроники и физики полупроводников
Серия: Национальный исследовательский технологический университет МИСиС; № 1896
Примечания : Библиогр.: с. 249-251
ISBN, Цена 978-5-87623-415-5: 236.94 р.
ГРНТИ : 47.33.37
ББК : 648.441я73-2
Предметные рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры :кх(1)
Свободны : кх(1)
Найти похожие
|
6.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 60
Автор(ы) : Соловьев В. В.
Заглавие : Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 14 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность
Найти похожие
|
7.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 76
Автор(ы) : Гавриленко В., Новиков Ю., Озерин Ю., Раков А., Тодуа П.
Заглавие : Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ
Место публикации : Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26: рис. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
Примечания : Библиогр. : с. 26 (10 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Найти похожие
|
8.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 25
Автор(ы) : Раткин Л. С.
Заглавие : Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 3 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике
Найти похожие
|
9.
|
Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 25
Автор(ы) : Раткин Л. С.
Заглавие : Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 6 (18 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов
Найти похожие
|
10.
|
Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 648.4/Н 25
Автор(ы) :
Заглавие : Нанотехнологии в электронике/ под ред. Ю. А. Чаплыгина. - (Мир электроники). - Памяти акад. РАН Юрия Васильевича Копаева посвящ. Вып. 2
Выходные данные : М.: Техносфера, 2013
Колич.характеристики :686 с
ISBN, Цена 978-5-94836-353-0: 1072.50, 1015.00, р.
ГРНТИ : 47.01
ББК : 648.441
Предметные рубрики: ФИЗИКА-- ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА
Экземпляры : всего : кх(2)
Свободны : кх(2)
Найти похожие
|
|
|
|
Главная
Новые поступления
Шлюз Z39.50
Каталог книг и продолжающихся изданий
Описание базы данных