Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (75)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)Публикации об УрО РАН (4)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-38 
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/М 74
Автор(ы) : Теплова Т. Б., Гридин О. М., Соловьев В. В., Ашкинази Е. Е., Ральченко В. Г.
Заглавие : Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23: рис., табл. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 23 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материалы кристаллические твердые--обработка поверхностная квазипластичная--микроэлектроника
Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : ГОСТ 8.593-2009!-165833
62/Г 72
Заглавие : Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки : ГОСТ 8.593-2009 : межгос. стандарт . -Офиц. изд.- Введ. с 11.11.2009
Выходные данные : М.: Стандартинформ, 2010
Колич.характеристики :7 с
Коллективы : Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС)
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 90.03.37 + 90.03.37
ББК : 62я861 + 621.0я861
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие
3.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/А 94
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 32 (7 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): температура пайки--микроэлектроника--прибор
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции
Найти похожие
4.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/Ш 89
Автор(ы) : Штенников В. Н.
Заглавие : Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 20 (14 назв.)
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): прибор--сборка--микроэлектроника--мст--пайка--качество
Найти похожие
5.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 623.7/A 31
Автор(ы) : Кравченко Д., Буздуган А., Кравченко А., Тузовский В.
Заглавие : ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению
Место публикации : Наноиндустрия. - 2009. - № 3. - 10-12: ил. - ISSN 1993-8578. - ISSN 1993-8578
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): молекулярная сборка--сверхтонкие пленки--микроэлектроника
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : ГОСТ Р 8.630-2007!-194233
62/М 59
Заглавие : Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации . -Офиц. изд.- Введ. с 02.01.2008
Выходные данные : М.: Стандартинформ, 2007
Колич.характеристики :7 с
Коллективы : Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
Серия: Государственная система обеспечения единства измерений
Цена : Б.ц.
ГРНТИ : 90.03.37
ББК : 62я861 + 621.0я861
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ-- ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ-- МЕТРОЛОГИЯ-- ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ
Экземпляры :пф(1)
Свободны : пф(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/И 88
Автор(ы) : Агеев О. А., Коноплев Б. Г., Рубашкина М. В., Рукомойкин А. В., Смирнов В. А., Солодовник М. С.
Заглавие : Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии
Место публикации : Российские нанотехнологии. - 2013. - Т. 8, № 1-2. - С. 27-32: рис., табл. - ISSN 1992-7223. - ISSN 1992-7223
Примечания : Библиогр.: с. 32 (16 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): модуль юнга --нанокристаллы gaas нитевидные --параметры геометрические--нанокристаллы--метод атомно-силовой микроскопии--арсенид галлия--нанодиагностика нитевидных структур--нано- и микроэлектроника
Аннотация: Разработана методика определения модуля Юнга ориентированных нитевидных нанокристаллов методом атомно-силовой микроскопии. Представлены результаты исследования влияния геометрических параметров на модуль Юнга ориентированных нитевидных нано-кристаллов арсенида галлия. Экспериментально определено значение модуля Юнга нитевидных нанокристаллов арсенида галлия, которое, в зависимости от их аспектного соотношения, изменялось от 9 до 143 ГПа. Показано, что модуль Юнга нитевидных нанокристаллов GaAs зависит от аспектного соотношения и может превышать значение модуля Юнга объемного GaAs. Полученные результаты могут быть использованы при разработке технологических процессов формирования структур нано- и микросистемной техники, нано- и микроэлектроники на основе ориентированных нитевидных нанокристаллов, в частности нанокристаллов арсенида галлия, а также при разработке методик нанодиагностики нитевидных структур
Найти похожие
8.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 25
Автор(ы) : Раткин Л. С.
Заглавие : Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 6 (18 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов
Найти похожие
9.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/С 60
Автор(ы) : Соловьев В. В.
Заглавие : Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14: рис. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 14 (5 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность
Найти похожие
10.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания : 620.3/Р 25
Автор(ы) : Раткин Л. С.
Заглавие : Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике
Место публикации : Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - ISSN 1813-8586. - ISSN 1813-8586
Примечания : Библиогр. : с. 3 (3 назв.)
УДК : 620.3
ББК : 623.7
Предметные рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике
Найти похожие
 1-10    11-20   21-30   31-38 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика