Главная Новые поступления Описание Шлюз Z39.50

Базы данных


Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска
Каталог книг и продолжающихся изданий
Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН
Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН
Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )
Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)
Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)
Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН
Публикации об УрО РАН
Изобретения уральских ученых
Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)
Нанотехнологии
Демидовские премии
Гибель династии Романовых
История Урала
Личная библиотека С. В. Вонсовского
Книжная коллекция Шубиных
Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН
Труды Института истории и археологии УрО РАН
Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН
Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН
Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН
Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН
Расплавы
Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН
Публикации Черешнева В.А.
Публикации Чарушина В.Н.
Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН
Электронная энциклопедия «Дискурсология»
Библиометрия
Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Каталог книг и продолжающихся изданий (75)Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)Публикации об УрО РАН (4)Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 20
 1-20    21-38 
1.

Штенников В. Н. Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки/В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.18-20
2.

Штенников В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки /М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.30-32
3.

Чистяков Ю. Д. Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий. Т. 1:Физико-химические основы технологии микроэлектроники/Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010
4.

Тягунов О. А. Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем/О. А. Тягунов // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 3.-С.19-25
5.

Таперо К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения/К. И. Таперо. - 2011
6.

Соловьев В. В. Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности /В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№12.-С.10-14
7.

Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ/В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия, 2008. т.№ 6.-С.22-26
8.

Раткин Л. С. Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.2-3
9.

Раткин Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 5.-С.2-6
10.

Нанотехнологии в электронике. Вып. 2. - 2013
11.

Нано-КМОП-схемы и проектирование на физическом уровне/Б. П. Вонг [и др.] ; под ред. Н. А. Шелепина ; пер. с англ. К. В. Юдинцева. - 2014
12.

Мухин Д. Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии/Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия, 2008. т.№ 3.-С.30-35
13.

Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники /Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.17-23
14.

Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2007
15.

Микро- и наноэлектроника в системах радиолокации /Ю. В. Гуляев [и др.]. - 2013
16.

Мартинес-Дуарт Дж. М. Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники/Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда ; пер. с англ. А. В. Хачояна, под ред. Е. Б. Якимова. - 2009
17.

Мартинес-Дуарт Дж. М. Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники/Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда ; пер. с англ. А. В. Хачояна, под ред. Е. Б. Якимова. - 2007
18.

Кормилицын О. И. Механика материалов и структур нано- и микротехники/О. И. Кормилицын, Ю. А. Шукейло. - 2008
19.

Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2014
20.

Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2008
 1-20    21-38 
 
Описание базы данных
Стандартный
По словарю
Расширенный
ГРНТИ-навигатор
Статистика обращений

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН


  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

  

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)
Яндекс.Метрика