Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2016
|
2.
| Нано-КМОП-схемы и проектирование на физическом уровне/Б. П. Вонг [и др.] ; под ред. Н. А. Шелепина ; пер. с англ. К. В. Юдинцева. - 2014
|
3.
| Гаврилов С. А. Электрохимические процессы в технологии микро- и наноэлектроники/С. А. Гаврилов, А. Н. Белов. - 2014
|
4.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2014
|
5.
| Нанотехнологии в электронике. Вып. 2. - 2013
|
6.
| Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии /О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 1-2.-С.27-32
|
7.
| Микро- и наноэлектроника в системах радиолокации /Ю. В. Гуляев [и др.]. - 2013
|
8.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2013
|
9.
| Раткин Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 5.-С.2-6
|
10.
| Раткин Л. С. Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.2-3
|
11.
| Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий. Т. 2:Технологические аспекты/М. В. Акуленок [и др.]. - 2011
|
12.
| Таперо К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения/К. И. Таперо. - 2011
|
13.
| Барыбин А. А. Физико-технологические основы макро-, микро- и наноэлектроники/А. А. Барыбин, В. И. Томилин, В. И. Шаповалов ; под общ. ред. А. А. Барыбина. - 2011
|
14.
| Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике/А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - 2011
|
15.
| Чистяков Ю. Д. Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий. Т. 1:Физико-химические основы технологии микроэлектроники/Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010
|
16.
| Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
|
17.
| Соловьев В. В. Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности /В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№12.-С.10-14
|
18.
| Штенников В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки /М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.30-32
|
19.
| Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники /Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.17-23
|
20.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2009
|
|
|