Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники /Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 11.-С.17-23
|
2.
| Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
|
3.
| Штенников В. Н. Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки /М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№ 7 .-С.30-32
|
4.
| Штенников В. Н. Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки/В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.18-20
|
5.
| ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению/Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия, 2009. т.№ 3
|
6.
| Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки/Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - 2007
|
7.
| Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии /О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 1-2.-С.27-32
|
8.
| Раткин Л. С. Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 5.-С.2-6
|
9.
| Соловьев В. В. Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности /В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника , 2010. т.№12.-С.10-14
|
10.
| Раткин Л. С. Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике /Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника , 2011. т.№ 4.-С.2-3
|
11.
| Использование метода диэлектрофореза при формировании интегральных структур на основе нанотрубок/И. И. Бобринецкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.10-13
|
12.
| Тягунов О. А. Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем/О. А. Тягунов // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 3.-С.19-25
|
13.
| Мухин Д. Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии/Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия, 2008. т.№ 3.-С.30-35
|
14.
| Дисплей: тонкий и гибкий, как бумага // Нанотехнологии: наука и производство, 2008,N № 1.-С.34
|
15.
| Ахметов Д. Г. Микроэлектромеханические электростатические высокопроизводительные инжекторы микроструй жидкости/Д. Г. Ахметов, Э. Г. Косцов, А. А. Соколов // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 1.-С.53-59
|
16.
| Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ/В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия, 2008. т.№ 6.-С.22-26
|
17.
| Драгунов В. П. Основы наноэлектроники/В. П. Драгунов, И. Г. Неизвестный, В. А. Гридчин. - 2006
|
18.
| Нанотехнологии в электронике. Вып. 2. - 2013
|
19.
| Барыбин А. А. Физико-технологические основы макро-, микро- и наноэлектроники/А. А. Барыбин, В. И. Томилин, В. И. Шаповалов ; под общ. ред. А. А. Барыбина. - 2011
|
20.
| Таперо К. И. Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения/К. И. Таперо. - 2011
|
|
|