Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>) |
Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 20 |
|
1.
| ALD - оборудование и технологии компании BENEQ OY - от инновации к внедрению/Д. Кравченко [и др.] // Наноиндустрия, 2009. т.№ 3
|
2.
| Functional Micro- and Nanosystems/ed. K.-H. Hoffmann. - 2004
|
3.
| Nabok A. Organic and Inorganic Nanostructures/A. Nabok. - 2005
|
4.
| Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике/А. А. Афонский, В. П. Дьяконов ; под ред. В. П. Дьяконова. - 2011
|
5.
| Ахметов Д. Г. Микроэлектромеханические электростатические высокопроизводительные инжекторы микроструй жидкости/Д. Г. Ахметов, Э. Г. Косцов, А. А. Соколов // Нано- и микросистемная техника , 2008. т.№ 1.-С.53-59
|
6.
| Балабанов В. И. Нанотехнологии. Наука будущего/В. Балабанов. - 2009
|
7.
| Барыбин А. А. Физико-технологические основы макро-, микро- и наноэлектроники/А. А. Барыбин, В. И. Томилин, В. И. Шаповалов ; под общ. ред. А. А. Барыбина. - 2011
|
8.
| Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий. Т. 2:Технологические аспекты/М. В. Акуленок [и др.]. - 2011
|
9.
| Гаврилов С. А. Электрохимические процессы в технологии микро- и наноэлектроники/С. А. Гаврилов, А. Н. Белов. - 2014
|
10.
| Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика проверки/Межгосударственный совет по стандартизации, метрологии и сертификации (МГС). - 2010
|
11.
| Дисплей: тонкий и гибкий, как бумага // Нанотехнологии: наука и производство, 2008,N № 1.-С.34
|
12.
| Драгунов В. П. Основы наноэлектроники/В. П. Драгунов, И. Г. Неизвестный, В. А. Гридчин ; [ред. Ю. А. Афанасьев [и др.]. - 2004
|
13.
| Драгунов В. П. Основы наноэлектроники/В. П. Драгунов, И. Г. Неизвестный, В. А. Гридчин. - 2006
|
14.
| Использование метода диэлектрофореза при формировании интегральных структур на основе нанотрубок/И. И. Бобринецкий [и др.] // Нано- и микросистемная техника , 2009. т.№ 2.-С.10-13
|
15.
| Исследование влияния на модуль Юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов GaAs методом атомно-силовой микроскопии /О. А. Агеев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, А. В. Рукомойкин, В. А. Смирнов, М. С. Солодовник // Российские нанотехнологии, 2013. т.Т. 8,N № 1-2.-С.27-32
|
16.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2009
|
17.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2013
|
18.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2016
|
19.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2008
|
20.
| Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование/Физико-технологический ин-т РАН. - 2014
|
|
|