Центральная Научная Библиотека УрО РАН

Главная

Новые поступления

Описание

Базы данных

Нанотехнологии - результаты поиска

Вид поиска

Каталог книг и продолжающихся изданий

Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН

Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН

Каталог диссертаций и авторефератов диссертаций УрО РАН

Каталог препринтов УрО РАН (1975 г. - )

Имидж-каталог отечественных книг (до 2010 г.)

Имидж-каталог иностранных книг (до 2010 г.)

Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН

Публикации об УрО РАН

Изобретения уральских ученых

Интеллектуальная собственность (статьи из периодики)

Нанотехнологии

Демидовские премии

Гибель династии Романовых

История Урала

Личная библиотека С. В. Вонсовского

Книжная коллекция Шубиных

Труды Института высокотемпературной электрохимии УрО РАН

Труды Института истории и археологии УрО РАН

Труды сотрудников Института горного дела УрО РАН

Труды сотрудников Института органического синтеза УрО РАН

Труды сотрудников Института теплофизики УрО РАН

Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН

Расплавы

Труды сотрудников ЦНБ УрО РАН

Публикации Черешнева В.А.

Публикации Чарушина В.Н.

Каталог библиотеки ИЭРиЖ УрО РАН

Электронная энциклопедия «Дискурсология»

Библиометрия

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Каталог книг и продолжающихся изданий (75)

Сводный каталог иностранных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (1)

Сводный каталог отечественных периодических изданий, имеющихся в библиотеках УрО РАН (2)

Алфавитно-предметный указатель (АПУ) ЦНБ УрО РАН (2)

Публикации об УрО РАН (4)

Труды сотрудников Института химии твердого тела УрО РАН (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=МИКРОЭЛЕКТРОНИКА<.>)

Общее количество найденных документов : 38
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-38

Инвентарный номер: нет.

   Ш 89

    Штенников, В. Н.
    Проблемы минимизации времени контактной и лазерной пайки [Текст] / В. Н. Штенников // Нано- и микросистемная техника . - 2009. - № 2. - С. 18-20 : рис. - Библиогр. : с. 20 (14 назв.) . - ISSN 1813-8586

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ПРИБОР -- СБОРКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- МСТ -- ПАЙКА -- КАЧЕСТВО

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   А 94

    Штенников, В. Н.
    Методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки / М. С. Афанасьев, А. Ю. Митягин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 7 . - С. 30-32 : рис. - Библиогр. : с. 32 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ТЕМПЕРАТУРА ПАЙКИ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- ПРИБОР
Аннотация: Качество паяных соединений электронных компонентов в первую очередь зависит от температуры пайки. Стандартные режимы монтажа не гарантируют получение качественных паяных соединений уникальной конструкции. Автором статьи разработана и апробирована методика обеспечения требуемой температуры контактной пайки для соединений нетипичной конструкции

Найти похожие

Инвентарный номер: 208686 - кх.
   648.4
   В 24

    Введение в процессы интегральных микро- и нанотехнологий [Текст] : [учеб. изд.] : в двух т. / [ред. Ю. Н. Коркишко]. - М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 - . - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0341-9.
   Т. 1 : Физико-химические основы технологии микроэлектроники / Ю. Д. Чистяков, Ю. П. Райнова. - 2010. - 392 с. : граф., рис., табл. - Библиогр.: с. 386-389. - ISBN 978-5-9963-0335-9 : 360.00 р.

ГРНТИ

ББК 648.441я73
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Т 99

    Тягунов , О. А.
    Программный комплекс для моделирования и исследования динамических характеристик микро-и наномеханических элементов и систем [Текст] / О. А. Тягунов // Нано- и микросистемная техника . - 2008. - № 3. - С. 19-25 : рис. - Библиогр.: с. 25 (15 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
НАНОМЕХАНИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА

Найти похожие

Инвентарный номер: 213472 - кх.
   648.4
   Т 18

    Таперо, Константин Иванович.
    Основы радиационной стойкости изделий электронной техники космического применения: радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения [] : курс лекций / К. И. Таперо ; Нац. исслед. технологический ун-т "МИСиС", Каф. полупроводниковой электроники и физики полупроводников. - М. : Изд. Дом МИСиС, 2011. - 251 с. - (Национальный исследовательский технологический университет МИСиС ; № 1896). - Библиогр.: с. 249-251. - ISBN 978-5-87623-415-5 : 236.94 р.

ГРНТИ

47.33.37

ББК 648.441я73-2
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   С 60

    Соловьев, В. В.
    Модель прецизионной обработки твердых хрупких кристаллических материалов с получением нанометрового рельефа поверхности [] / В. В. Соловьев // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - №12. - С. 10-14 : рис. - Библиогр. : с. 14 (5 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
ЛЕЙКОСАПФИР -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- КВАЗИПЛАС ОБРАБОТКА КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ ПОВЕРХНОСТНАЯ -- ПОДЛОЖКИ
Аннотация: Все большее применение алмазы и другие алмазоподобные твердые материалы находят в промышленности. Монокристаллы лейкосапфира благодаря своим свойствам находят широкое применение при производстве высокотехнологичных изделий в области нанотехнологий. Шероховатость поверхности подложки является важным параметром при изготовлении высокочастотных приборов. Наличие дислокаций, микротрещин приводит к образованию дефектов в эпитаксиальных слоях, ухудшая эксплуатационные свойства микросхем. Для изготовления указанных изделий необходима прецизионная обработка поверхности с получением нанометрового рельефа. Традиционная обработка представляет собой сложную технологическую схему с финишным полированием в агрессивных средах. Перспективный метод квазипластичной обработки позволяет получать на этапе алмазного шлифования высококачественную поверхность

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Р 76


    Российский прототип международного тест-объекта нанорельефа для РЭМ и АСМ [] / В. Гавриленко [и др.] // Наноиндустрия. - 2008. - № 6. - С. 22-26 : рис. - Библиогр. : с. 26 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Проблемы стандартизации и метрологического обеспечения в нано-и микроэлектронике / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 4. - С. 2-3. - Библиогр. : с. 3 (3 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МЕТРОЛОГИЯ -- СТАНДАРТИЗАЦИЯ -- НАНОЭЛЕКТРОНИКА -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В середине 2010 года при поддержке ГК "Российская корпорация нанотехнологий" и Федеpального агентства по техническому регулированию и метрологии в г. Черноголовка Московской области была организована и проведена Третья школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии". В числе наиболее актуальных проблем, обсуждавшихся на сессиях - особенности метрологического обеспечения и стандартизации в микро- и наноэлектронике

Найти похожие

Инвентарный номер: нет.

   Р 25

    Раткин , Л. С.
    Перспективы развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники / Л. С. Раткин // Нано- и микросистемная техника . - 2011. - № 5. - С. 2-6. - Библиогр. : с. 6 (18 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МИКРОЭЛЕКТРОНИКА -- НАНОТЕХНОЛОГИИ -- МЕТРОЛОГИЯ -- МЕТРОЛОГИЯ РАЗМЕРНАЯ -- АСМ -- РЭМ
Аннотация: Научная сессия Отделения нанотехнологий и информационных технологий (ОНИТ) Российской академии наук (РАН), доведенная в Москве в 2010 году под председательством директора Физико-технологического института РАН академика Орликовского А. А., была посвящена перспективам развития размерной метрологии в сфере нанотехнологий и микроэлектроники. На сессии, в частности, обсуждались вопросы стандартизации и метрологического обеспечения в микро- и нанотехнологиях, нанометрологии при измерениях геометрических параметров изделий, калибровки растровых электронных микроскопов (РЭМ) и атомно-силовых микроскопов (АСМ), прецизионных измерений в нанометровом диапазоне, нейтронно-синхротронного исследования наноматериалов, сканирующей зондовой микроскопии для изучения наносистем и наноматериалов

Найти похожие

10.

Инвентарный номер: 217572 - кх; 217573 - кх.
   648.4
   Н 25

    Нанотехнологии в электронике [Текст] / под ред. Ю. А. Чаплыгина. - М. : Техносфера, 2013 - . - (Мир электроники). - Памяти акад. РАН Юрия Васильевича Копаева посвящ.
   Вып. 2. - 2013. - 686 с. - ISBN 978-5-94836-353-0 : 1072.50 р., 1015.00 р.

ГРНТИ

47.01

ББК 648.441
Рубрики: ФИЗИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА

Найти похожие

11.

Инвентарный номер: 220109 - кх.
   З84
   Н 25


    Нано-КМОП-схемы и проектирование на физическом уровне [] : переводное издание / Б. П. Вонг [и др.] ; под ред. Н. А. Шелепина ; пер. с англ. К. В. Юдинцева. - М. : Техносфера, 2014. - 431 с. - (Мир радиоэлектроники). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 425-431. - Пер. изд. : NANO-CMOS circuit and physical design. - 2005. - ISBN 978-5-94836-377-6 : 764.82 р.

ГРНТИ

47.01

ББК З844.1
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА

Оглавление
Найти похожие

12.

Инвентарный номер: нет.

   М 92

    Мухин, Д.
    Сверхточная регистрация смещения источника света в оптической микроскопии [Текст] / Д. Мухин, И. Яминский // Наноиндустрия. - 2008. - № 3. - С. 30-35 : рис., табл. - Библиогр.: с. 35 (10 назв.) . - ISSN 1993-8578

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП -- ЦЕНТР МАСС
Аннотация: В начале 80-х годов прошлого века был изобретен сканирующий туннельный микроскоп, а чуть позднее - атомно-силовой. с помощью которых получены изображения с разрешением менее 1 нм. Однако сканирующая зондовая микроскопия позволяет исследовать лишь свойства поверхности объекта, а изучать, тем более, визуально наблюдать его внутреннее строение, невозможно. В связи с этим почвилась необходимость разработки новых методов оптической микроскопии для сверхточного изучения объектов, размеры которых не превышают нескольких нанометров. Эта проблема особенно актуальна для таких социально значимых областей науки, как биология, микроэлектроника, кристаллография, где положение и движение объекта необходимо определять со сверхвысокой точностью

Найти похожие

13.

Инвентарный номер: нет.

   М 74


    Моделирование процесса квазипластичной поверхностной обработки твердых хрупких материалов электронной техники / Т. Б. Теплова , О. М. Гридин [и др.] // Нано- и микросистемная техника . - 2010. - № 11. - С. 17-23 : рис., табл. - Библиогр. : с. 23 (7 назв.) . - ISSN 1813-8586

УДК

620.3

ББК 623.7
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ
Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ТВЕРДЫЕ -- ОБРАБОТКА ПОВЕРХНОСТНАЯ КВАЗИПЛАСТИЧНАЯ -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА
Аннотация: В настоящее время появляется значительный интерес к использованию в микроэлектронике очень твердых кристаллических материалов, таких как сапфир или алмаз. Для их применения требуется высококачественная обработанная поверхность с минимальной дефектностью подповерхностного слоя. Квазипластичное послойное разрушение сверхтонких слоев в твердых материалах их обработке было исследовано в наших экспериментах

Найти похожие

14.

Инвентарный номер: нет.
   62
   М 59ГОСТ Р 8.630-2007


    Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика проверки [] : ГОСТ Р 8.630-2007 : нац. стандарт Рос. Федерации / Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии. - Офиц. изд. - Введ. с 02.01.2008. - Частично заменен на Изменение № 1. Дата введения 04.01.2011. - М. : Стандартинформ, 2007. - 7 с. - (Государственная система обеспечения единства измерений). -

ГРНТИ

90.03.37

ББК 62я861 + 621.0я861
Рубрики: ТЕХНИКА. ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ--ТЕХНИКА И ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ В ЦЕЛОМ--МЕТРОЛОГИЯ--ТЕХНИКА ИЗМЕРЕНИЙ--СТАНДАРТЫ

Найти похожие

15.

Инвентарный номер: 220122 - кх.
   З95
   М 59


    Микро- и наноэлектроника в системах радиолокации [] : монография / Ю. В. Гуляев [и др.]. - М. : Радиотехника, 2013. - 476, [1] с. - Загл. на обороте тит. л. : Micro and nanoelectronics in systems radar-locations. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-88070-377-7 : 230.00 р.
Прил.: с. 369-472

ГРНТИ

47.49

ББК З95
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--РАДИО- И ОПТИЧЕСКАЯ ЛОКАЦИЯ--РАДИОНАВИГАЦИЯ

Оглавление
Найти похожие

16.

Инвентарный номер: 214717 - кх.
   648.6
   М 29

    Мартинес-Дуарт, Дж. М.
    Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники [] : переводное издание / Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда ; пер. с англ. А. В. Хачояна, под ред. Е. Б. Якимова. - Изд. 2-е, доп. - М. : Техносфера, 2009. - 367 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Nanotechnology for Microelectronics and Optoelectronics / J. M. Martinez-Duart, R. J. Martin-Palma, F. Agullo-Rueda. - Amsterdam, s. a. - ISBN 978-5-94836-209-0 : 50.00 р.

ГРНТИ

47.01

29.19

31.15.19

17.

Инвентарный номер: 201879 - кх.
   648.6
   М 29

    Мартинес-Дуарт, Дж. М.
    Нанотехнологии для микро-и оптоэлектроники [] : переводное издание / Дж. М. Мартинес-Дуарт, Р. Дж. Мартин-Палма, Ф. Агулло-Руеда ; пер. с англ. А. В. Хачояна, под ред. Е. Б. Якимова. - М. : Техносфера, 2007. - 367 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Пер. изд. : Nanotechnology for Microelectronics and Optoelectronics / J. M. Martinez-Duart, R. J. Martin-Palma, F. Agullo-Rueda. - Amsterdam, s. a. - ISBN 978-5-94836-126-0 : 284.34 р.

ГРНТИ

47.01

29.19

31.15.19

ББК 648-53-03 + 539.2 + 541.171
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--КВАНТОВАЯ РАДИОТЕХНИКА
ФИЗИКА--ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА--КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА
Кл.слова (ненормированные):
НАНОТЕХНОЛОГИИ (ОПТОЭЛЕКТРОНИКА) -- ОПТОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- МИКРОЭЛЕКТРОНИКА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- НАНОТЕХНОЛОГИИ (МИКРОЭЛЕКТРОНИКА) -- ФИЗИКА МЕЗОСКОПИЧЕСКАЯ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- ФИЗИКА ТВЕРДОГО ТЕЛА (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ (НАНОТЕХНОЛОГИИ) -- УСТРОЙСТВА ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ (НАНОСИРУКТУРЫ) -- ПРИБОРЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ (НАНОСТРУКТУРЫ)

Найти похожие

18.

Инвентарный номер: 204955 - кх.
   648.4
   К 66

    Кормилицын, Олег Иванович.
    Механика материалов и структур нано- и микротехники [] : учеб. пособие для вузов / О. И. Кормилицын, Ю. А. Шукейло. - М. : Академия, 2008. - 215, [9] с. : граф., рис., табл. - (Высшее профессиональное образование. Радиоэлектроника). - Библиогр.: с. 210-214. - ISBN 978-5-7695-4093-6 : 402.00 р.

ГРНТИ

31.15.19

ББК 648.441я73 + 541.171я73
Рубрики: РАДИОТЕХНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ
ХИМИЧЕСКИЕ НАУКИ--ХИМИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА--УЧЕБНИКИ ДЛЯ ВУЗОВ

Найти похожие

19.

Инвентарный номер: нет.
   Пр 68-1/24


    Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. Т. М. Махвиладзе. - М. : Наука, 2014. - 260, [3], [10] вкл. л. ил. с. - (Труды ФТИАН ; т. 24). - Загл. на доп.тит.листе : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Б. ц.

ГРНТИ

47.01

ББК З844.1я43(2)
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ

Найти похожие

20.

Инвентарный номер: нет.
   Пр 68-1/19


    Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика и моделирование [] : сборник научных трудов / Физико-технологический ин-т РАН ; отв. ред. В. Ф. Лукичев. - М. : Наука, 2008. - 246, [1] с. : ил. - (Труды ФТИАН ; т. 19). - Загл. на обороте тит. л. : Quantum computers, micro- and nanoelectronics. - Библиогр. в конце ст. - Посвящ. 70-летию со дня рождения действительного члена РАН А. А. Орликовского. - Б. ц.

ГРНТИ

47.01

ББК 648.441я43(2)
Рубрики: РАДИОЭЛЕКТРОНИКА--ОБЩАЯ РАДИОТЕХНИКА--СБОРНИКИ

Найти похожие

1-20 21-38

Сиглы отделов ЦНБ УрО РАН

  бр.ф. - Бронированный фонд

  бф - Научно-библиографический отдел

  БХЛ - Фонд художественной литературы

  ИИиА -Фонд исторической литературы в ЦНБ УрО РАН

  ИМЕТ -Отдел ЦНБ в Институте металлургии УрО РАН

  кх - Отдел фондов (книгохранениe)

  МБА - Межбиблиотечный абонемент

  мф - Методический фонд

  ок - Отдел научной каталогизации

  оку - Отдел комплектования и учета

  орф - Обменно-резервный фонд

  пф - Читальный зал деловой и патентной информации

  рк - Фонд редкой книги

  ч/з - Главный читальный зал

  эр - Зал электронных ресурсов

Сиглы библиотек институтов и НЦ УрО РАН

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)